數(shù)字電子技術(shù)

出版時間:2011-2  出版社:化學(xué)工業(yè)出版社  作者:許春香,殷剛 主編  

內(nèi)容概要

  《數(shù)字電子技術(shù)》共分8章。第1章介紹分析和設(shè)計數(shù)字電路的工具——邏輯代數(shù)基礎(chǔ)。第2章介紹數(shù)字電路最基本的單元——邏輯門電路,較為詳細地介紹了集成門電路的原理和電氣特性。第3章介紹組合邏輯電路,重點介紹了幾種常見的、典型的組合電路。第4章和第5章分別介紹了集成觸發(fā)器和時序邏輯電路。觸發(fā)器是時序邏輯電路的基本單元,《數(shù)字電子技術(shù)》從觸發(fā)器的結(jié)構(gòu)、動作特性、不同邏輯功能觸發(fā)器及其轉(zhuǎn)換等角度對其作了較為詳細的介紹。時序邏輯電路是數(shù)字電路中最重要的內(nèi)容,書中對寄存器、計數(shù)器等典型電路作了詳盡的描述。第6章介紹了脈沖信號的產(chǎn)生與整形,重點介紹了形成矩形脈沖波形的施密特觸發(fā)器、單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器和多諧振蕩器三種基本電路。第7章介紹A/D,D/A轉(zhuǎn)換器,對A/D和D/A轉(zhuǎn)換的多種方法以及相關(guān)的集成電路作了介紹。第8章介紹半導(dǎo)體存儲器和可編程邏輯器件,重點介紹了只讀存儲器ROM和隨機存儲器RAM的結(jié)構(gòu)、原理和應(yīng)用,并對PLA、PAL和GAL等典型的可編程邏輯器件的原理和應(yīng)用作了較詳細的介紹。

書籍目錄

第1章 邏輯代數(shù)基礎(chǔ)1.1 概述1.1.1 數(shù)字信號和數(shù)字電路1.1.2 數(shù)字電路的分類和特點1.2 數(shù)制和碼制1.2.1 數(shù)制1.2.2 不同數(shù)制間的轉(zhuǎn)換1.2.3 二進制代碼1.3 邏輯代數(shù)1.3.1 三種基本的邏輯關(guān)系和運算1.3.2 邏輯代數(shù)的基本運算規(guī)律1.3.3 邏輯函數(shù)及其表示方法1.3.4 邏輯函數(shù)的公式法化簡1.4 邏輯函數(shù)的卡諾圖化簡法1.4.1 卡諾圖1.4.2 用卡諾圖表示邏輯函數(shù)1.4.3 邏輯函數(shù)的卡諾圖化簡1.4.4 具有無關(guān)項的卡諾圖化簡本章小結(jié)習題及思考題第2章 邏輯門電路2.1 分立元件門電路2.1.1 三極管的開關(guān)特性2.1.2 二極管門電路2.1.3 三極管非門電路2.2 TTL集成邏輯門電路2.2.1 TTL與非門2.2.2 其他功能的TTL門電路2.3 CMOS集成邏輯門電路2.3.1 CMOS反相器2.3.2 其他功能的CMOS門電路2.4 集成邏輯門電路的應(yīng)用2.4.1 TTL電路和CMOS電路的接口2.4.2 TTL電路和CMOS電路的外接負載本章小結(jié)實踐技能訓(xùn)練項目一 晶體管開關(guān)特性、限幅器與鉗位器項目二 TTL集成邏輯門的邏輯功能與參數(shù)測試項目三 CMOS集成邏輯門的邏輯功能與參數(shù)測試習題及思考題第3章 組合邏輯電路3.1 組合邏輯電路的分析和設(shè)計方法3.1.1 組合邏輯電路的分析方法3.1.2 組合邏輯電路的設(shè)計方法3.2 編碼器3.2.1 二進制編碼器3.2.2 二十進制編碼器3.3 譯碼器3.3.1 二進制譯碼器3.3.2 二十進制譯碼器3.3.3 數(shù)碼顯示譯碼器3.3.4 用譯碼器實現(xiàn)組合邏輯函數(shù)3.4 數(shù)據(jù)選擇器和分配器3.4.1 數(shù)據(jù)選擇器3.4.2 數(shù)據(jù)分配器3.5 加法器3.5.1 半加器3.5.2 全加器3.6 數(shù)值比較器3.7 組合邏輯電路中的競爭冒險3.7.1 競爭冒險現(xiàn)象及其產(chǎn)生的原因3.7.2 冒險現(xiàn)象的判別3.7.3 消除冒險現(xiàn)象的方法本章小結(jié)實踐技能訓(xùn)練項目一組合邏輯電路的設(shè)計與測試項目二編碼器、顯示譯碼及LED數(shù)碼管顯示電路項目三譯碼器功能的測試及其應(yīng)用項目四數(shù)據(jù)選擇器及其應(yīng)用習題及思考題第4章 集成觸發(fā)器4.1 觸發(fā)器的基本形式4.1.1 基本RS觸發(fā)器4.1.2 同步觸發(fā)器4.1.3 同步RS觸發(fā)器的功能描述4.2 邊沿觸發(fā)器4.2.1 維持阻塞D觸發(fā)器4.2.2 邊沿JK觸發(fā)器4.2.3 T、T′觸發(fā)器4.3 主從觸發(fā)器4.3.1 主從RS觸發(fā)器4.3.2 主從JK觸發(fā)器4.4 不同類型觸發(fā)器間的相互轉(zhuǎn)換本章小結(jié)實踐技能訓(xùn)練項目觸發(fā)器RS、D、JK功能測試習題及思考題第5章 時序邏輯電路5.1 時序邏輯電路的分析方法5.1.1 同步時序邏輯電路的分析方法5.1.2 異步時序邏輯電路的分析方法5.1.3 時序邏輯電路的設(shè)計方法5.2 計數(shù)器5.2.1 異步計數(shù)器5.2.2 同步計數(shù)器5.2.3 集成計數(shù)器及其功能擴展5.3 寄存器和移位寄存器5.3.1 寄存器5.3.2 移位寄存器本章小結(jié)實踐技能訓(xùn)練項目一 計數(shù)器MSI芯片的應(yīng)用項目二 移位寄存器及其應(yīng)用習題及思考題第6章 脈沖信號的產(chǎn)生與整形6.1 施密特觸發(fā)器6.1.1 用門電路組成的施密特觸發(fā)器6.1.2 集成施密特觸發(fā)器6.2 多諧振蕩器6.2.1 門電路組成的多諧振蕩器6.2.2 石英晶體多諧振蕩器6.3 單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器6.3.1 門電路組成的單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器6.3.2 集成單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器6.3.3 單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器的應(yīng)用6.4 555定時器及其應(yīng)用6.4.1 555定時器的電路結(jié)構(gòu)及其功能6.4.2 555定時器的典型應(yīng)用本章小結(jié)實踐技能訓(xùn)練項目一 使用門電路產(chǎn)生脈沖信號項目二 單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器與施密特觸發(fā)器項目三 555時基電路及其應(yīng)用習題及思考題第7章 數(shù)/模和模/數(shù)轉(zhuǎn)換器7.1 D/A轉(zhuǎn)換器7.1.1 常見的D/A轉(zhuǎn)換器7.1.2 D/A轉(zhuǎn)換器的主要技術(shù)指標7.1.3 集成D/A轉(zhuǎn)換器DAC0832簡介及其應(yīng)用7.2 A/D轉(zhuǎn)換器7.2.1 A/D轉(zhuǎn)換器的工作原理7.2.2 A/D轉(zhuǎn)換器的種類7.2.3 A/D轉(zhuǎn)換器的主要技術(shù)指標7.2.4 集成A/D轉(zhuǎn)換器ADC0809簡介及應(yīng)用本章小結(jié)實踐技能訓(xùn)練項目D/A、A/D轉(zhuǎn)換器原理及應(yīng)用習題及思考題第8章 半導(dǎo)體存儲器和可編程邏輯器件8.1 半導(dǎo)體存儲器8.1.1 概述8.1.2 只讀存儲器(ROM)8.1.3 隨機存取存儲器(RAM)8.1.4 存儲容量的擴展8.1.5 半導(dǎo)體存儲器的指標8.2 可編程邏輯器件PLD(Programmable Logic Device)8.2.1 可編程邏輯器件基本結(jié)構(gòu)8.2.2 可編程邏輯器件PAL與GAL簡介8.2.3 復(fù)雜可編程邏輯器件(CPLD)8.2.4 現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)8.2.5 可編程邏輯器件的開發(fā)本章小結(jié)實踐技能訓(xùn)練項目隨機存取存儲器及其應(yīng)用習題及思考題綜合實訓(xùn)綜合實訓(xùn)項目一 智力競賽搶答裝置綜合實訓(xùn)項目二 電子秒表附錄A EWB電子電路仿真軟件multisim簡介附錄B 常用邏輯門電路新舊邏輯符號對照表附錄C 部分常用中規(guī)模集成電路邏輯符號介紹附錄D 部分習題及思考題參考答案參考書目

編輯推薦

  《數(shù)字電子技術(shù)》以培養(yǎng)學(xué)生的綜合工作能力為目的,在內(nèi)容安排上,突出了基本理論、基本概念和基本分析方法,為配合課堂教學(xué),每章都有技能訓(xùn)練,內(nèi)容豐富實用,可根據(jù)需要選擇有關(guān)內(nèi)容進行邊講邊練,講練結(jié)合和組織課堂討論。在技能訓(xùn)練中,自始至終貫穿了“邏輯設(shè)計(包含功能測試)——選擇集成器件——安裝調(diào)試——排除故障”的訓(xùn)練方法,使理論和實踐緊密結(jié)合,融為一體,從工程角度出發(fā)培養(yǎng)學(xué)生的工程思維方法、工作方法和應(yīng)用所學(xué)知識解決實際問題的能力,使能力培養(yǎng)貫穿于教學(xué)全過程。

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