X射線熒光光譜儀

內(nèi)容概要

本書(shū)是“分析儀器使用與維護(hù)叢書(shū)”之一。　　本書(shū)分十二章介紹了X射線熒光光譜分析的原理，儀器主要部件，定性與定量分析方法，基體校正與數(shù)據(jù)處理方法，樣品制備技術(shù)，具有共性的儀器校正方法、日常維護(hù)知識(shí)和故障判斷原則等。內(nèi)容豐富、新穎、翔實(shí)，在探測(cè)器技術(shù)、基體校正、樣品制備、儀器維護(hù)等章節(jié)具有特色。 　　本書(shū)可供X射線熒光光譜分析工作者學(xué)習(xí)參考，同時(shí)也可作為高等學(xué)校與儀器分析相關(guān)專業(yè)師生的參考書(shū)。

書(shū)籍目錄

第一章　緒論　第一節(jié)　X射線熒光光譜的產(chǎn)生及其特點(diǎn)　第二節(jié)　X射線熒光分析技術(shù)的新應(yīng)用　　一、在生物、生命及環(huán)境領(lǐng)域中的應(yīng)用　　二、在材料及毒性物品監(jiān)測(cè)中的應(yīng)用　第三節(jié)　X射線熒光光譜儀研制進(jìn)展　參考文獻(xiàn)第二章　基本原理　第一節(jié)　特征X射線的產(chǎn)生與特性　　一、特征X射線　　二、特征譜線系　　三、譜線相對(duì)強(qiáng)度　　四、熒光產(chǎn)額　第二節(jié)　X射線吸收　　一、X射線衰減　　二、吸收邊　　三、吸收躍變　　四、質(zhì)量衰減系數(shù)的計(jì)算　第三節(jié)　X射線散射　　一、相干散射　　二、非相干散射　第四節(jié)　X射線熒光光譜分析原理　第五節(jié)　X射線衍射分析　參考文獻(xiàn)第三章　激發(fā)源　第一節(jié)　常規(guī)X射線光管　　一、光管結(jié)構(gòu)與工作原理　　二、連續(xù)X射線譜　　三、特征X射線譜　　四、光管特性　第二節(jié)　液體金屬陽(yáng)極X射線光管　第三節(jié)　冷X射線光管　第四節(jié)　單色與選擇激發(fā)　　一、濾光片　　二、二次靶　第五節(jié)　同位素源　第六節(jié)　同步輻射光源與粒子激發(fā)　第七節(jié)　聚束毛細(xì)管X射線透鏡　第八節(jié)　X射線激光光源　參考文獻(xiàn)第四章　探測(cè)器　第一節(jié)　波長(zhǎng)色散探測(cè)器　　一、流氣式氣體正比計(jì)數(shù)器　　二、NaI閃爍計(jì)數(shù)器　　三、波長(zhǎng)色散探測(cè)器的逃逸峰　第二節(jié)　能量探測(cè)器　　一、能量探測(cè)原理　　二、能量探測(cè)器組成與特性　　三、能量探測(cè)器的逃逸峰　第三節(jié)　新型能量探測(cè)器　　一、Ge探測(cè)器　　二、Si?PIN探測(cè)器　　三、Si漂移探測(cè)器（SDD）　　四、電耦合陣列探測(cè)器（CDD）　　五、超導(dǎo)躍變微熱量感應(yīng)器（TES）　　六、超導(dǎo)隧道結(jié)探測(cè)器（STJ）　　七、CdZnTe探測(cè)器　　八、鉆石探測(cè)器（CVD?D）　　九、無(wú)定形硅探測(cè)器（A?Si）　第四節(jié)　各種探測(cè)器性能比較　　一、波長(zhǎng)色散與能量色散能力　　二、探測(cè)器分辨率比較　　三、探測(cè)器的選用　參考文獻(xiàn)第五章　X熒光光譜儀　第一節(jié)　波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀　　一、X射線光管、探測(cè)器與光譜儀結(jié)構(gòu)　　二、分光晶體及分辨率　　三、脈沖放大器和脈高分析器　第二節(jié)　能量色散X射線熒光光譜儀　第三節(jié)　同位素源激發(fā)X射線熒光光譜儀　第四節(jié)　偏振激發(fā)X射線熒光光譜儀　第五節(jié)　全反射X射線熒光光譜儀　第六節(jié)　同步輻射X射線熒光光譜儀　第七節(jié)　聚束毛細(xì)管透鏡微束XRF光譜儀　參考文獻(xiàn)第六章　定性與定量分析方法　第一節(jié)　定性分析　第二節(jié)　定量分析　　一、獲取譜峰凈強(qiáng)度　　二、干擾校正　　三、濃度計(jì)算　第三節(jié)　數(shù)學(xué)校正法　第四節(jié)　實(shí)驗(yàn)校正方法　　一、標(biāo)準(zhǔn)化　　二、內(nèi)標(biāo)法　　三、標(biāo)準(zhǔn)添加法　　四、散射線內(nèi)標(biāo)法　第五節(jié)　實(shí)驗(yàn)校正實(shí)例——散射線校正方法　　一、散射效應(yīng)與利用　　二、濾光片對(duì)Compton峰和分析譜線的影響　　三、準(zhǔn)直器直徑對(duì)譜線的影響　　四、Compton峰位隨濾光片材料的原子序數(shù)增加而產(chǎn)生漂移　參考文獻(xiàn)第七章　基本校正第八章　分析誤差和統(tǒng)計(jì)不確定第九章　XRF中的化學(xué)計(jì)量學(xué)方法和應(yīng)用第十章　樣品制備第十一章　X射線熒光光譜儀的特性與參數(shù)選擇第十二章　儀器檢定、校正與維修

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