X射線熒光光譜儀

內容概要

本書是“分析儀器使用與維護叢書”之一。　　本書分十二章介紹了X射線熒光光譜分析的原理，儀器主要部件，定性與定量分析方法，基體校正與數(shù)據(jù)處理方法，樣品制備技術，具有共性的儀器校正方法、日常維護知識和故障判斷原則等。內容豐富、新穎、翔實，在探測器技術、基體校正、樣品制備、儀器維護等章節(jié)具有特色。 　　本書可供X射線熒光光譜分析工作者學習參考，同時也可作為高等學校與儀器分析相關專業(yè)師生的參考書。

書籍目錄

第一章　緒論　第一節(jié)　X射線熒光光譜的產生及其特點　第二節(jié)　X射線熒光分析技術的新應用　　一、在生物、生命及環(huán)境領域中的應用　　二、在材料及毒性物品監(jiān)測中的應用　第三節(jié)　X射線熒光光譜儀研制進展　參考文獻第二章　基本原理　第一節(jié)　特征X射線的產生與特性　　一、特征X射線　　二、特征譜線系　　三、譜線相對強度　　四、熒光產額　第二節(jié)　X射線吸收　　一、X射線衰減　　二、吸收邊　　三、吸收躍變　　四、質量衰減系數(shù)的計算　第三節(jié)　X射線散射　　一、相干散射　　二、非相干散射　第四節(jié)　X射線熒光光譜分析原理　第五節(jié)　X射線衍射分析　參考文獻第三章　激發(fā)源　第一節(jié)　常規(guī)X射線光管　　一、光管結構與工作原理　　二、連續(xù)X射線譜　　三、特征X射線譜　　四、光管特性　第二節(jié)　液體金屬陽極X射線光管　第三節(jié)　冷X射線光管　第四節(jié)　單色與選擇激發(fā)　　一、濾光片　　二、二次靶　第五節(jié)　同位素源　第六節(jié)　同步輻射光源與粒子激發(fā)　第七節(jié)　聚束毛細管X射線透鏡　第八節(jié)　X射線激光光源　參考文獻第四章　探測器　第一節(jié)　波長色散探測器　　一、流氣式氣體正比計數(shù)器　　二、NaI閃爍計數(shù)器　　三、波長色散探測器的逃逸峰　第二節(jié)　能量探測器　　一、能量探測原理　　二、能量探測器組成與特性　　三、能量探測器的逃逸峰　第三節(jié)　新型能量探測器　　一、Ge探測器　　二、Si?PIN探測器　　三、Si漂移探測器（SDD）　　四、電耦合陣列探測器（CDD）　　五、超導躍變微熱量感應器（TES）　　六、超導隧道結探測器（STJ）　　七、CdZnTe探測器　　八、鉆石探測器（CVD?D）　　九、無定形硅探測器（A?Si）　第四節(jié)　各種探測器性能比較　　一、波長色散與能量色散能力　　二、探測器分辨率比較　　三、探測器的選用　參考文獻第五章　X熒光光譜儀　第一節(jié)　波長色散X射線熒光光譜儀　　一、X射線光管、探測器與光譜儀結構　　二、分光晶體及分辨率　　三、脈沖放大器和脈高分析器　第二節(jié)　能量色散X射線熒光光譜儀　第三節(jié)　同位素源激發(fā)X射線熒光光譜儀　第四節(jié)　偏振激發(fā)X射線熒光光譜儀　第五節(jié)　全反射X射線熒光光譜儀　第六節(jié)　同步輻射X射線熒光光譜儀　第七節(jié)　聚束毛細管透鏡微束XRF光譜儀　參考文獻第六章　定性與定量分析方法　第一節(jié)　定性分析　第二節(jié)　定量分析　　一、獲取譜峰凈強度　　二、干擾校正　　三、濃度計算　第三節(jié)　數(shù)學校正法　第四節(jié)　實驗校正方法　　一、標準化　　二、內標法　　三、標準添加法　　四、散射線內標法　第五節(jié)　實驗校正實例——散射線校正方法　　一、散射效應與利用　　二、濾光片對Compton峰和分析譜線的影響　　三、準直器直徑對譜線的影響　　四、Compton峰位隨濾光片材料的原子序數(shù)增加而產生漂移　參考文獻第七章　基本校正第八章　分析誤差和統(tǒng)計不確定第九章　XRF中的化學計量學方法和應用第十章　樣品制備第十一章　X射線熒光光譜儀的特性與參數(shù)選擇第十二章　儀器檢定、校正與維修

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