出版時間:2012-7 出版社:電子工業(yè)出版社 作者:戴士劍 等編著 頁數(shù):909 字數(shù):1447000
內(nèi)容概要
戴士劍等編著的《數(shù)據(jù)恢復與硬盤修理》對用于解決硬盤硬件問題及內(nèi)部固件問題的硬盤內(nèi)部存儲機理進行了深入的分析和介紹,而這些內(nèi)容正是數(shù)據(jù)恢復技術(shù)知識體系的重要組成部分。本書主要講解硬盤維修的基本原理和Pc3000工具套件的基本操作,引領(lǐng)讀者通過大量的動手實踐來理解和掌握使用PC3000維修硬盤的原則和操作方法,并在此基礎(chǔ)上進行深入研究,一步一步探索硬盤內(nèi)部的秘密。
《數(shù)據(jù)恢復與硬盤修理》適合IT系統(tǒng)客戶服務人員、IT技術(shù)支持工程師、IT技術(shù)培訓人員、數(shù)據(jù)恢復技術(shù)工程師、信息安全工作人員、系統(tǒng)管理人員、安全保密部門工作人員、計算機取證人員、與操作系統(tǒng)開發(fā)和存儲技術(shù)研究相關(guān)的人員以及任何對此感興趣的朋友作為參考資料或培訓教材使用。
書籍目錄
第1篇 數(shù)據(jù)恢復與硬盤修理基礎(chǔ)
第2篇 PC3000 ISA版本的操作
第3篇 PC3000 PCI版本的操作
第4篇 PC3000 UDMA版本的操作
第5篇 Data Extractor UDMA的使用
第6篇 開盤基礎(chǔ)
后記
章節(jié)摘錄
版權(quán)頁: 插圖: Passes:測試次數(shù),默認值為3,用于設(shè)定從起始到結(jié)束ABA需要進行多少次測試,取值范圍為1~100。 Carefulness:慎重因子,默認值為3,用于設(shè)定對錯誤的反應。測試首先以ABA方式逐塊進行,當在某一塊中發(fā)現(xiàn)錯誤時,則轉(zhuǎn)為對該塊逐扇區(qū)進行測試。這種測試分析的重復次數(shù)就是慎重因子。為加快測試速度,第一次測試建議設(shè)置為1即可,取值范圍為1~10。 Limit of grouping into tracks:歸入磁道的最小扇區(qū)數(shù),默認值為20,用于設(shè)定一個磁道上有多少個缺陷扇區(qū)時可直接將該磁道作為缺陷磁道處理。包含錯誤代碼10H(INDF)和04H(ABRT)的缺陷扇區(qū)磁道也被認為是缺陷磁道。 Perform writing test:執(zhí)行寫測試,默認值為“No”。執(zhí)行寫測試可以被關(guān)閉,還可以以校驗代替讀方式進行測試,這樣測試過程會快一些。 Verification instead of reading:校驗代替讀,默認值為“Yes”。表面測試基于適應性法則,已經(jīng)探測到的缺陷在以后的測試中不會再被測試,對于有很多缺陷的驅(qū)動器,這樣做可以大大節(jié)省測試時間。WDAC313000屬系的驅(qū)動器在Pentium 120計算機上,以關(guān)閉寫、打開校驗代替讀的方式測試一遍大約需要1小時30分鐘。 Critical time(ms):臨界時間,默認值為300,用于設(shè)定扇區(qū)讀寫操作的等待時間。如果超過設(shè)定值,就被認為是缺陷扇區(qū),范圍為40ms~999ms。減小臨界值時一定要慎重,因為設(shè)置值過低會導致發(fā)生檢測錯誤。此外,驅(qū)動器周期性地執(zhí)行重校準過程,也有可能被當做錯誤處理。 默認在進行表面測試之前應該執(zhí)行伺服測試,或者不使用缺陷表進行格式化,且格式化能夠無誤完成。 測試結(jié)束時會在屏幕上顯示一個包含ABA缺陷數(shù)目的表,按[Enter]鍵可以把所有相關(guān)的ABA格式的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為物理CHS(PCHS)格式的數(shù)據(jù),并顯示缺陷磁道和扇區(qū)。再次按下[Enter]鍵可將所有缺陷磁道和扇區(qū)寫入P—List。 3.驅(qū)動器固件區(qū) 該菜單有以下子菜單。 Disk firmware zone:驅(qū)動器固件區(qū),用于格式化和測試驅(qū)動器固件區(qū)域、查看和檢查驅(qū)動器固件結(jié)構(gòu)、重寫整個驅(qū)動器固件數(shù)據(jù)、重新配置驅(qū)動器。對驅(qū)動器固件區(qū)的操作,操作區(qū)域為—5柱面至—l柱面,磁頭0至磁頭1。 Disk firmware surface test:驅(qū)動器固件區(qū)表面測試。該菜單用于啟動驅(qū)動器固件區(qū)缺陷檢測過程,檢測到的缺陷將被寫入一張表中。如果驅(qū)動器要正常工作,—2柱面和—1柱面中不能有缺陷。
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