數(shù)字電子技術(shù)實驗與實踐

出版時間:2011-4  出版社:電子工業(yè)出版社  作者:吳慎山  頁數(shù):256  

內(nèi)容概要

全書共分7章,內(nèi)容包括數(shù)字電子技術(shù)知識基礎(chǔ)、數(shù)字電子技術(shù)實驗基礎(chǔ)、常用電子設(shè)計軟件、數(shù)字電路實驗、數(shù)字電路綜合實訓(xùn)和常用的電子測量儀器等。介紹了實驗室的安全操作規(guī)程、實驗方法、實驗測試手段、常見故障的診斷與排除。
實驗(包括驗證性實驗、研究性、設(shè)計性實驗、創(chuàng)新性實驗)從培養(yǎng)學(xué)生的動手和工程設(shè)計能力出發(fā),由淺入深地介紹了數(shù)字邏輯電路的工程設(shè)計技術(shù)和測量調(diào)試方法,重在提高學(xué)生自主學(xué)習(xí)能力、工程實踐和創(chuàng)新能力。

書籍目錄

第0章 緒論
0.1 現(xiàn)代科學(xué)與技術(shù)
0.2 理論與實踐相結(jié)合
第1章 數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)
1.1 數(shù)字電子技術(shù)課程簡介
1.1.1 基本概念
1.1.2 課程內(nèi)容
1.1.3 課程特點
1.2 數(shù)字電路簡介
1.2.1 數(shù)字電路發(fā)展及特點
1.2.2 數(shù)字集成電路分類
1.3 數(shù)字集成電路的識別
1.3.1 數(shù)字集成電路的型號命名法(GB3430—89)
1.3.2 數(shù)字集成電路的技術(shù)分類和電路的性能指標(biāo)
1.4 數(shù)字集成電路的使用規(guī)則
1.4.1 CMOS電路的使用規(guī)則
1.4.2 TTL集成電路使用規(guī)則
1.5 數(shù)字邏輯電路的測試方法
1.5.1 組合邏輯電路的測試方法
1.5.2 時序邏輯電路的測試
1.6 數(shù)字電路實驗的分析方法
1.7 數(shù)字邏輯電路的設(shè)計方法
1.7.1 組合邏輯電路設(shè)計的一般方法
1.7.2 時序邏輯電路設(shè)計的一般方法
第2章 數(shù)字電子技術(shù)實驗基礎(chǔ)知識
2.1 實驗安全操作規(guī)程
2.2 數(shù)字電路實驗的目的和意義
2.2.1 實驗的目的
2.2.2 實驗的意義
2.3 實驗常見故障的檢測及排除
2.3.1 數(shù)字電路中的布線原則
2.3.2 數(shù)字電路中的常見故障
2.3.3 數(shù)字電路中的常見故障檢測與排除
2.4 數(shù)字電子技術(shù)實驗要求
2.4.1 課前應(yīng)做的準(zhǔn)備工作
2.4.2 實驗記錄事項
2.4.3 實驗報告的要求
第3章 Multisim 2001
3.1 Multisim 2001概述
3.1.1 Multisim 2001的仿真功能
3.1.2 Multisim 2001的優(yōu)點
3.2 Multisim 2001窗口界面
3.2.1 Multisim 2001的主窗口界面
3.2.2 主要工具
3.3 Multisim 2001對元器件的管理
3.4 輸入并編輯電路
3.4.1 設(shè)置Multisim 2001的通用環(huán)境變量
3.4.2 取用元器件
3.5 創(chuàng)建電路圖
3.5.1 啟動Multisim 2001軟件
3.5.2 放置元件
3.5.3 連接電路
3.5.4 編輯元件
3.6 電路的仿真與分析方法
3.6.1 虛擬儀器及其使用
3.6.2 基本分析方法
第4章 數(shù)字電子技術(shù)實驗
4.1 驗證性實驗
4.1.1 TTL集成邏輯門的邏輯功能與參數(shù)測試
4.1.2 CMOS集成邏輯門的邏輯功能與參數(shù)測試
4.1.3 TTL集電極開路門與三態(tài)輸出門的應(yīng)用
4.2 研究性實驗
4.2.1 集成邏輯電路的連接和驅(qū)動
4.2.2 譯碼器及其應(yīng)用
4.2.3 數(shù)據(jù)選擇器及其應(yīng)用
4.2.4 觸發(fā)器及其應(yīng)用
4.2.5 計數(shù)器及其應(yīng)用
4.2.6 移位寄存器及其應(yīng)用
4.2.7 脈沖分配器及其應(yīng)用
4.3 設(shè)計性實驗
4.3.1 組合邏輯電路的設(shè)計與測試
4.3.2 自激多諧振蕩器的設(shè)計
4.3.3 脈沖延時與波形整形電路的設(shè)計與分析
4.3.4 555時基電路的設(shè)計及其應(yīng)用
4.3.5 D/A、A/D轉(zhuǎn)換器的設(shè)計
4.4 創(chuàng)新性實驗
4.4.1 智力競賽搶答裝置
4.4.2 電子秒表
4.4.3 位直流數(shù)字電壓表
4.4.4 數(shù)字頻率計
4.4.5 拔河游戲機
4.4.6 隨機存取存儲器2114A及其應(yīng)用
第5章 數(shù)字電子技術(shù)綜合實訓(xùn)
5.1 LED節(jié)日彩燈控制器邏輯電路設(shè)計
5.1.1 簡述
5.1.2 設(shè)計任務(wù)和要求
5.1.3 設(shè)計可選器材
5.1.4 設(shè)計方案分析
5.2 數(shù)字搶答器的邏輯電路設(shè)計
5.2.1 簡述
5.2.2 設(shè)計任務(wù)和要求
5.2.3 設(shè)計可選器材
5.2.4 設(shè)計方案分析
5.3 數(shù)字電子稱的邏輯電路設(shè)計
5.3.1 簡述
5.3.2 設(shè)計任務(wù)和要求
5.3.3 設(shè)計可選器材
5.3.4 設(shè)計方案分析
5.4 交通燈控制的邏輯電路設(shè)計
5.4.1 簡述
5.4.2 設(shè)計任務(wù)和要求
5.4.3 設(shè)計可選器材
5.4.4 設(shè)計方案分析
5.5 簡易加、減計算器的邏輯電路設(shè)計
5.5.1 簡述
5.5.2 設(shè)計任務(wù)和要求
5.5.3 設(shè)計可選器材
5.5.4 設(shè)計方案分析
5.6 電子拔河游戲機的邏輯電路設(shè)計
5.6.1 簡述
5.6.2 設(shè)計任務(wù)和要求
5.6.3 設(shè)計可選器材
5.6.4 設(shè)計方案分析
5.7 出租車計價器控制電路設(shè)計
5.7.1 簡述
5.7.2 設(shè)計任務(wù)和要求
5.7.3 設(shè)計可選器材
5.7.4 設(shè)計方案分析
5.8 數(shù)字顯示式光電計數(shù)電路設(shè)計
5.8.1 簡述
5.8.2 設(shè)計任務(wù)和要求
5.8.3 設(shè)計可選器材
5.8.4 設(shè)計方案分析
5.9 基于數(shù)字電路的時鐘設(shè)計
5.9.1 簡述
5.9.2 設(shè)計任務(wù)和要求
5.9.3 設(shè)計可選器材
5.9.4 設(shè)計方案分析
5.10 電子密碼鎖邏輯電路設(shè)計
5.10.1 簡述
5.10.2 設(shè)計任務(wù)和要求
5.10.3 設(shè)計可選器材
5.10.4 設(shè)計方案分析
5.11 數(shù)字萬用表邏輯電路設(shè)計
5.11.1 簡述
5.11.2 設(shè)計任務(wù)和要求
5.11.3 設(shè)計可選器材
5.11.4 設(shè)計方案分析
5.12 乒乓球游戲機邏輯電路設(shè)計
5.12.1 簡述
5.12.2 設(shè)計任務(wù)和要求
5.12.3 設(shè)計可選器材
5.12.4 設(shè)計方案分析
第6章 常用電子測量儀器
6.1 數(shù)字萬用表
6.1.1 技術(shù)指標(biāo)
6.1.2 使用方法
6.1.3 注意事項
6.2 雙蹤示波器
6.2.1 基本工作原理
6.2.2 注意事項
6.2.3 使用方法
6.3 TFG2003 DDS函數(shù)信號發(fā)生器
6.3.1 主要特點
6.3.2 技術(shù)指標(biāo)
6.3.3 通用特性
6.4 SG1040直接數(shù)字合成(DDS)雙路函數(shù)信號發(fā)生器/計數(shù)器
6.4.1 概述
6.4.2 主要特征
6.4.3 基本操作
6.4.4 測頻計數(shù)
6.4.5 儀器的接口、配置等功能
6.4.6 使用注意事項
6.4.7 SG1040雙路函數(shù)信號發(fā)生器/計數(shù)器程控命令一覽表
6.4.8 通道2波形索引
6.5 BT-3C型頻率特性測試儀
6.5.1 性能指標(biāo)
6.5.2 結(jié)構(gòu)特點
6.5.3 使用注意事項
6.5.4 使用和維修
6.6 SG3320型多功能計數(shù)器
6.6.1 概述
6.6.2 技術(shù)指標(biāo)
6.6.3 SG3320多功能計數(shù)器的工作原理
6.6.4 使用說明
6.7 2.7 GHz頻譜分析儀
6.7.1 技術(shù)指標(biāo)
6.7.2 有關(guān)說明
附錄A CC7107 A/D轉(zhuǎn)換器組成的 位直流數(shù)字電壓表
附錄B 集成邏輯門電路新、舊圖形符號對照
附錄C 集成觸發(fā)器新、舊圖形符號對照
附錄D 部分集成電路引腳排列
參考文獻(xiàn)

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