出版時(shí)間:2010-5 出版社:電子工業(yè)出版社 作者:林占江 頁(yè)數(shù):331
前言
本書(shū)是吉林大學(xué)“十一五”規(guī)劃教材,也是《電子測(cè)量技術(shù)》(普通高等教育“十一五”國(guó)家級(jí)規(guī)劃教材,林占江編著,電子工業(yè)出版社出版)一書(shū)的配套實(shí)驗(yàn)教材。本書(shū)共分上、下兩篇,上篇為基礎(chǔ)理論部分,下篇為實(shí)驗(yàn)教學(xué)部分。全書(shū)以電子測(cè)量應(yīng)用為主,注重理論聯(lián)系實(shí)際,注重電子測(cè)量技術(shù)的理論性和實(shí)踐性,強(qiáng)化對(duì)學(xué)生的技能培訓(xùn)和創(chuàng)新培養(yǎng)。 編寫(xiě)本書(shū)的宗旨是使學(xué)生掌握和運(yùn)用現(xiàn)代電子測(cè)量的基本原理和方法,在科學(xué)實(shí)驗(yàn)中具備制定先進(jìn)、合理的測(cè)量和測(cè)試方案,正確選用測(cè)量?jī)x器,嚴(yán)格處理測(cè)量數(shù)據(jù)的技能。通過(guò)本書(shū)可以極大地提高學(xué)生的電路設(shè)計(jì)能力、實(shí)踐動(dòng)手能力、分析和解決問(wèn)題的能力及獨(dú)立工作能力。本書(shū)所介紹的電子電路多樣新穎、典型實(shí)用,盡量做到精簡(jiǎn)理論分析,重點(diǎn)闡述測(cè)試方案設(shè)計(jì)和技能培訓(xùn),強(qiáng)調(diào)實(shí)用和創(chuàng)新原則。在章節(jié)結(jié)構(gòu)上做到循序漸進(jìn),各章節(jié)既保證相對(duì)的獨(dú)立性,又能保證前后內(nèi)容的連貫性。讀者可通讀全書(shū)內(nèi)容,也可選讀部分章節(jié)內(nèi)容。書(shū)中內(nèi)容結(jié)構(gòu)嚴(yán)謹(jǐn)、層次分明、條理清晰、突出重點(diǎn)、敘述精練,有利于電子測(cè)量實(shí)驗(yàn)教學(xué),有利于電子技術(shù)課程設(shè)計(jì)及學(xué)生畢業(yè)實(shí)習(xí),增強(qiáng)學(xué)生的實(shí)踐創(chuàng)新能力,加速培養(yǎng)創(chuàng)新型人才。 基于上述考慮,書(shū)中內(nèi)容由兩大部分組成: 1.上篇——基礎(chǔ)理論 ?。?)重點(diǎn)介紹常用電子元器件、集成電路和貼片元器件的種類(lèi)、特性參數(shù)及選用規(guī)則?! 。?)電子電路工藝基礎(chǔ),包括元器件選擇和篩選、印制板制作、裝配焊接、電路調(diào)試與檢驗(yàn)等?! 。?)電子電路設(shè)計(jì),包括課題的提出與論證、總體方案的設(shè)計(jì)與選擇、單元電路設(shè)計(jì)、元器件的選擇、計(jì)算參數(shù)、繪制總體電路圖等。在硬件設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)上,又增加了軟件設(shè)計(jì)?! 。?)電子測(cè)量?jī)x器的正確使用與選型依據(jù),重點(diǎn)介紹多種典型電子測(cè)量?jī)x器的選型依據(jù)與使用要點(diǎn)?! 。?)電子測(cè)量?jī)x器常用的檢修方法和維護(hù)方法?! 。?)電磁兼容設(shè)計(jì),介紹電磁干擾的種類(lèi)、特點(diǎn)、產(chǎn)生機(jī)理及抗干擾措施?! 。?)晶體管特性圖示儀的使用。詳細(xì)介紹晶體管特性圖示儀的工作原理、主要技術(shù)指標(biāo),測(cè)試二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管的操作方法和步驟。
內(nèi)容概要
《電子測(cè)量實(shí)驗(yàn)教程》系統(tǒng)地介紹了電子測(cè)量實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)理論與實(shí)踐教學(xué)。上篇基礎(chǔ)理論內(nèi)容包括:常用電子元器件綜述,常用電子元件的選用,常用分立器件與選用,集成電路與選用,貼片元器件,電子電路工藝基礎(chǔ)、電子電路設(shè)計(jì)、電子測(cè)量?jī)x器的正確使用與選型依據(jù)、電子測(cè)量?jī)x器常用的檢修方法等?! ∠缕獙?shí)驗(yàn)教學(xué)內(nèi)容包括:晶體管特性圖示儀的使用、穩(wěn)壓電源測(cè)試、測(cè)量誤差實(shí)驗(yàn)、基本檢波器實(shí)驗(yàn)、數(shù)字萬(wàn)用表功能檢測(cè)實(shí)驗(yàn)、時(shí)域測(cè)量實(shí)驗(yàn)、信號(hào)發(fā)生器實(shí)驗(yàn)、運(yùn)算放大器檢測(cè)實(shí)驗(yàn)、數(shù)字電路邏輯功能檢測(cè)實(shí)驗(yàn)、邏輯電平測(cè)試實(shí)驗(yàn)、相位與失真度測(cè)量實(shí)驗(yàn)、頻率測(cè)量實(shí)驗(yàn),電容、電感與阻抗測(cè)量實(shí)驗(yàn),頻域測(cè)量實(shí)驗(yàn),非電量測(cè)量實(shí)驗(yàn)等。 《電子測(cè)量實(shí)驗(yàn)教程》在選材和結(jié)構(gòu)上力求合理和創(chuàng)新,資料翔實(shí),圖文并茂,內(nèi)容豐富。具有先進(jìn)性、系統(tǒng)性、通用性、實(shí)踐性和可讀性;可作為高等院校電氣信息類(lèi)專業(yè)的教材、參考書(shū)或工具書(shū),也可供從事電子技術(shù)研究、開(kāi)發(fā)、設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的工程技術(shù)人員閱讀參考。
書(shū)籍目錄
上篇 基礎(chǔ)理論第1章 概論1.1 電子測(cè)量的意義及特點(diǎn)1.2 電子測(cè)量的內(nèi)容與方法第2章 常用電子元器件綜述2.1 電子元器件的主要參數(shù)2.1.1 特性參數(shù)2.1.2 規(guī)格參數(shù)2.1.3 質(zhì)量參數(shù)2.2 電子元器件的選用2.3 電子元器件的環(huán)境試驗(yàn)第3章 常用電子元件的選用3.1 電阻器3.1.1 電阻器的分類(lèi)3.1.2 電阻器的規(guī)格標(biāo)志方法3.1.3 電阻器的主要參數(shù)3.1.4 電阻器的正確選用3.1.5 電位器3.2 電容器3.2.1 電容器的分類(lèi)3.2.2 電容器規(guī)格的標(biāo)志方法3.2.3 電容器的主要參數(shù)3.2.4 電容器的正確選用3.2.5 電容器的質(zhì)量判別3.3 電感器3.3.1 電感器的種類(lèi)及型號(hào)命名3.3.2 變壓器3.3.3 電感器的主要參數(shù)3.3.4 電感器的正確選用及質(zhì)量制別3.4 開(kāi)關(guān)與接插元件3.4.1 開(kāi)關(guān)3.4.2 接插件第4章 常用分立器件與選用4.1 半導(dǎo)體分立器件的型號(hào)命名4.2 晶體二極管4.3 晶體三極管4.4 場(chǎng)效應(yīng)管第5章 集成電路與選用5.1 集成電路型號(hào)命名方法5.2 集成電路的分類(lèi)5.3 集成電路的特點(diǎn)5.4 集成電路的封裝形式及引腳識(shí)別方法5.5 集成電路的檢測(cè)及其方法5.6 集成電路代換原則與方法第6章 貼片元器件6.1 貼片元器件的特點(diǎn)與分類(lèi)6.2 貼片元件(SMC)6.3 貼片器件第7章 電子電路工藝基礎(chǔ)7.1 常用材料7.1.1 導(dǎo)線7.1.2 絕緣材料7.1.3 磁性材料7.2 常用裝配工具與焊接技術(shù)7.3 印制電路板設(shè)計(jì)7.4 印制電路板的制造工藝基礎(chǔ)7.5 接線工藝第8章 電子電路設(shè)計(jì)8.1 電子電路設(shè)計(jì)方法與步驟8.2 電路調(diào)試技術(shù)8.3 調(diào)試舉例8.4 電磁兼容設(shè)計(jì)8.4.1 干擾的種類(lèi)及其產(chǎn)生機(jī)理8.4.2 電源干擾及其危害8.5 抑制電磁干擾的具體措施8.5.1 濾波設(shè)計(jì)8.5.2 屏蔽設(shè)計(jì)8.5.3 接地設(shè)計(jì)8.5.4 常用抗干擾器件8.5.5 軟件抗干擾設(shè)計(jì)簡(jiǎn)介第9章 電子測(cè)量?jī)x器的正確使用與選型依據(jù)9.1 關(guān)于儀器名稱的術(shù)語(yǔ)9.2 電子測(cè)量?jī)x器的選擇9.3 典型電子測(cè)量?jī)x器的選型依據(jù)與使用要點(diǎn)9.3.1 信號(hào)發(fā)生器9.3.2 數(shù)字電壓表9.3.3 通用計(jì)數(shù)器9.3.4 示波器9.3.5 邏輯分析儀9.3.6 掃頻儀9.3.7 頻譜分析儀9.3.8 失真度儀9.3.9 晶體管特性圖示儀9.3.10 集成電路測(cè)試儀第10章 電子測(cè)量?jī)x器常用的檢修方法10.1 常用檢修方法10.2 儀器校準(zhǔn)10.3 電子測(cè)量?jī)x器的維護(hù)第11章 晶體管特性圖示儀原理與使用11.1 概述11.2 基本組成11.3 集電極掃描信號(hào)發(fā)生器11.4 階梯波信號(hào)發(fā)生器11.5 X軸、Y軸放大器11.6 示波管及其直流供電電路11.7 低壓電源11.8 晶體管特性圖示儀的使用說(shuō)明11.9 器件測(cè)試舉例11.9.1 三極管(例如3DG6)輸出特性測(cè)試11.9.2 場(chǎng)效應(yīng)管(例如3DJ6H)的測(cè)試11.9.3 光電耦合器(例如GD316)的測(cè)試11.9.4 二極管的測(cè)試11.9.5 晶體閘流管SCR(例如3CT5B)的測(cè)試下篇 實(shí)驗(yàn)教學(xué)第12章 穩(wěn)壓電源測(cè)試第13章 測(cè)量誤差實(shí)驗(yàn)第14章 基本檢波器實(shí)驗(yàn)第15章 數(shù)字萬(wàn)用表功能檢測(cè)實(shí)驗(yàn)第16章 時(shí)域測(cè)量實(shí)驗(yàn)16.1 示波器測(cè)量實(shí)驗(yàn)16.2 模擬雙蹤示波器的使用16.3 數(shù)字存儲(chǔ)示波器的使用第17章 信號(hào)發(fā)生器實(shí)驗(yàn)第18章 運(yùn)算放大器檢測(cè)實(shí)驗(yàn)第19章 數(shù)字電路邏輯功能檢測(cè)實(shí)驗(yàn)第20章 邏輯電平測(cè)試實(shí)驗(yàn)第21章 相位與失真度測(cè)量實(shí)驗(yàn)21.1 移相電路與低頻相位測(cè)量實(shí)驗(yàn)21.2 失真度測(cè)量實(shí)驗(yàn)第22章 頻率測(cè)量實(shí)驗(yàn)第23章 電容、電感與阻抗測(cè)量實(shí)驗(yàn)23.1 電容測(cè)量實(shí)驗(yàn)23.2 電容阻抗(容抗)測(cè)量實(shí)驗(yàn)23.3 電感測(cè)量實(shí)驗(yàn)23.4 電感阻抗(感抗)測(cè)量實(shí)驗(yàn)第24章 頻域測(cè)量實(shí)驗(yàn)24.1 掃頻儀的使用24.2 頻率特性測(cè)試實(shí)驗(yàn)24.3 頻譜分析儀的使用24.4 頻譜特性測(cè)試實(shí)驗(yàn)第25章 非電量測(cè)量實(shí)驗(yàn)附錄A LYCL—1型電子測(cè)量實(shí)驗(yàn)平臺(tái)簡(jiǎn)介參考文獻(xiàn)
章節(jié)摘錄
1.電子測(cè)量的內(nèi)容 ?。?)電能量的測(cè)量(各種頻率和波形的電壓、電流、電功率等); ?。?)電信號(hào)特性的測(cè)量(信號(hào)波形、頻率、相位、噪聲以及邏輯狀態(tài)等); (3)電路參數(shù)的測(cè)量(阻抗、品質(zhì)因數(shù)、電子器件的參數(shù)等); ?。?)導(dǎo)出量的測(cè)量(增益、失真度、調(diào)幅度等); ?。?)特性曲線的顯示(幅頻特性、相頻特性及器件特性等); ?。?)元器件參數(shù)的測(cè)量,例如電阻。電感、電容、電子器件(晶體二極管、晶體三極管、場(chǎng)效應(yīng)管及集成電路等)?! ‰S著電子技術(shù)的發(fā)展,人們力圖通過(guò)傳感器將許多非電量變換成電信號(hào),再利用電子技術(shù)進(jìn)行測(cè)量。例如天文觀測(cè)、宇宙航行、地震預(yù)報(bào)、礦物探測(cè)及生產(chǎn)過(guò)程檢驗(yàn)中的溫度、壓力、流量、液位、速度、位移,以及物質(zhì)成分分析等、都可以轉(zhuǎn)換成電信號(hào)進(jìn)行測(cè)量?! ‰娮訙y(cè)量除了對(duì)電參量進(jìn)行穩(wěn)態(tài)測(cè)量以外,還可以對(duì)自動(dòng)控制系統(tǒng)的過(guò)渡過(guò)程及頻率特性等進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)量。例如,通過(guò)對(duì)一個(gè)軋鋼的電氣傳動(dòng)系統(tǒng)模擬,計(jì)算機(jī)可以自動(dòng)描繪出動(dòng)態(tài)曲線;對(duì)于化工系統(tǒng)生產(chǎn)過(guò)程進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)與分析等?! ‘?dāng)然,其他科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域,例如微電子技術(shù)、光電技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、近代物理學(xué)等的發(fā)展,也對(duì)電子測(cè)量技術(shù)起著巨大的推動(dòng)作用。同時(shí)由微型計(jì)算機(jī)、單片機(jī)(MCU)、數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)等組成的自動(dòng)化、智能化儀器不斷涌現(xiàn)。各學(xué)科和領(lǐng)域這種相輔相成、互相促進(jìn)的情況表明,掌握電子測(cè)量技術(shù)對(duì)理工科大學(xué)生及科技人員是十分重要的。2.電子測(cè)量的方法為實(shí)現(xiàn)測(cè)量的目標(biāo),選擇正確的測(cè)量方法是極其重要的,它直接關(guān)系到測(cè)量工作能否正常進(jìn)行和測(cè)量結(jié)果的有效性。測(cè)量方法的分類(lèi)大致有以下幾種。 ?。?)按測(cè)量方法劃分 ?、僦苯訙y(cè)量法法 直接測(cè)量是指無(wú)須通過(guò)被測(cè)量與其他實(shí)際測(cè)得量之間的函數(shù)關(guān)系進(jìn)行計(jì)算,而是直接得出被測(cè)量值的一種測(cè)量方法?! ∽ⅲ骸 .即使需要借助圖表,才能將測(cè)量?jī)x器的標(biāo)度值轉(zhuǎn)換成測(cè)量值,該測(cè)得量也認(rèn)為是直接測(cè)得的; b.即使為了進(jìn)行校正,需要做一些補(bǔ)充測(cè)量以確定影響量的值,也仍認(rèn)為是直接測(cè)量的。例如,用電壓表測(cè)量晶體三極管各極的工作電壓等。
編輯推薦
《電子信息與電氣學(xué)科規(guī)劃教材:電子測(cè)量實(shí)驗(yàn)教程》全書(shū)以電子測(cè)量應(yīng)用為主,注重理論聯(lián)系實(shí)際,強(qiáng)化對(duì)學(xué)生的技能培訓(xùn)和創(chuàng)新意識(shí),從而極大地提高學(xué)生的電路設(shè)計(jì)能力、實(shí)踐動(dòng)手能力、分析和解決問(wèn)題的能力及獨(dú)立工作能力?! 峨娮訙y(cè)量實(shí)驗(yàn)教程》所介紹的電子電路多樣新穎、典型實(shí)用,盡量做到精簡(jiǎn)理論分析,重點(diǎn)闡述測(cè)試方案設(shè)計(jì)和技能培訓(xùn),強(qiáng)調(diào)實(shí)用和創(chuàng)新原則?! ≡谡鹿?jié)結(jié)構(gòu)上做到循序漸進(jìn),各章節(jié)既保證相對(duì)的獨(dú)立性.又能保證前后內(nèi)容的連貫性。讀者可通讀全書(shū)內(nèi)容,也可選讀部分童節(jié)內(nèi)容。
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