光電測(cè)試技術(shù)

前言

　　本書(shū)是2004年初版《光電測(cè)試技術(shù)》的修訂版。本書(shū)初版自問(wèn)世以來(lái)，受到高等院校師生和相關(guān)工程技術(shù)人員的歡迎，被多所院校的相關(guān)專業(yè)選為教材或參考書(shū)。這對(duì)編者來(lái)說(shuō)是極大的鼓舞和鞭策，激勵(lì)編者在教學(xué)、科研實(shí)踐中不斷總結(jié)經(jīng)驗(yàn)，積累素材，以進(jìn)一步補(bǔ)充和完善原書(shū)的內(nèi)容和體系?！　∽鳛楣怆姕y(cè)試技術(shù)的源頭，光輻射體的特點(diǎn)和性質(zhì)可以決定我們應(yīng)該采取的測(cè)試手段和方法，可以直接決定整體測(cè)試方案。而隨著數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展，光輻射探測(cè)器的性能直接決定了系統(tǒng)的性能和適用范圍。因此，本書(shū)在原版的基礎(chǔ)上，新增了作為光電測(cè)試技術(shù)的重要組成部分--光輻射體和光輻射探測(cè)器件的基本性能和特點(diǎn)的介紹，作為本書(shū)的第1章?！　〈送?，在第5章新增了應(yīng)用廣泛的“剪切干涉”一節(jié)。在不同的章節(jié)中，補(bǔ)充了部分應(yīng)用實(shí)例，尤其注意補(bǔ)充了關(guān)于數(shù)據(jù)處理的一些新方法。　　全書(shū)共分9章，緒論主要介紹光電測(cè)試技術(shù)的發(fā)展歷史、概況、特點(diǎn)，以及關(guān)于測(cè)量的基本知識(shí)和數(shù)據(jù)處理方法；第1章介紹光電測(cè)試中的光輻射體和光輻射探測(cè)器件的基本性能和特點(diǎn)；第2章介紹基本光學(xué)量測(cè)試技術(shù)；第3章介紹色度學(xué)的基本原理和色度、光度測(cè)試技術(shù)；第4～6章介紹激光測(cè)試技術(shù)，包括激光準(zhǔn)直、測(cè)速、測(cè)距及干涉、衍射測(cè)試技術(shù)；第7章介紹光纖測(cè)試技術(shù)；第8章介紹應(yīng)用廣泛的莫爾條紋、三角法和圖像測(cè)試技術(shù)。在本書(shū)編寫(xiě)過(guò)程中，參閱了大量的文獻(xiàn)資料，在此向作者們表示感謝。肖昊蘇碩士、常虹博士、陳曉璇碩士、張彭舜碩士、申恒艷碩士、王艷彬碩士及其他許多同志為本書(shū)的修訂付出了辛勤勞動(dòng)，在此表示感謝。同時(shí)感謝責(zé)任編輯凌毅和電子工業(yè)出版社的熱情幫助?！　∮捎谒剿?，修訂過(guò)程中仍然可能存在疏漏和錯(cuò)誤，歡迎廣大讀者批評(píng)指正。

內(nèi)容概要

　　以光電測(cè)試方法和傳感技術(shù)為主線，以激光測(cè)試技術(shù)為重點(diǎn)，較全面地介紹了在光學(xué)量和非光學(xué)量測(cè)試中所涉及的基本理論和概念、主要測(cè)試原理和測(cè)試方法、儀器組成及主要技術(shù)特點(diǎn)。全書(shū)共分9章，緒論主要介紹光電測(cè)試技術(shù)的發(fā)展歷史、概況、特點(diǎn)，以及關(guān)于測(cè)量的基本知識(shí)和數(shù)據(jù)處理方法；第l章介紹光電測(cè)試中的光輻射體和光輻射探測(cè)器件的基本性能和特點(diǎn)；第2章介紹基本光學(xué)量測(cè)試技術(shù)；第3章介紹色度學(xué)的基本原理和色度、光度測(cè)試技術(shù)；第4～6章介紹激光測(cè)試技術(shù)，包括激光準(zhǔn)直、測(cè)速、測(cè)距及干涉、衍射測(cè)試技術(shù)；第7章介紹光纖測(cè)試技術(shù)；第8章介紹應(yīng)用廣泛的莫爾條紋、三角法和圖像測(cè)試技術(shù)。上述光電測(cè)試技術(shù)廣泛地應(yīng)用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)、文教、衛(wèi)生、國(guó)防、科研和家庭生活等各個(gè)領(lǐng)域。　　《光電測(cè)試技術(shù)》可作為光學(xué)工程、測(cè)控技術(shù)與儀器、電子科學(xué)與技術(shù)、信息科學(xué)與技術(shù)等專業(yè)的本科生、研究生教材或參考書(shū)，也可供有關(guān)工程技術(shù)人員參考。

書(shū)籍目錄

緒論第1章　光輻射體與光輻射探測(cè)器件1.1　輻射度學(xué)與光度學(xué)基礎(chǔ)1.1.1　輻射度學(xué)與光度學(xué)的基本物理量1.1.2　輻射度學(xué)與光度學(xué)的基本定律1.1.3　光輻射量計(jì)算舉例1.1.4　光輻射在大氣中的傳播1.2　光輻射體1.2.1　人工光輻射體（光源）的基本性能參數(shù)1.2.2　自然光輻射體1.2.3　人工光輻射體1.3　光輻射探測(cè)器件1.3.1　光輻射探測(cè)器件的性能參數(shù)1.3.2　光子探測(cè)器1.3.3　熱探測(cè)器件思考與練習(xí)第2章　基本光學(xué)量測(cè)試技術(shù)2.1　光電系統(tǒng)的對(duì)準(zhǔn)和調(diào)焦技術(shù)2.1.1　目視系統(tǒng)的對(duì)準(zhǔn)和調(diào)焦2.1.2　光電對(duì)準(zhǔn)2.1.3　光電定焦2.2　焦距和頂焦距的測(cè)量2.2.1　概述2.2.2　放大率法2.2.3　附加透鏡法2.2.4　精密測(cè)角法2.3　星點(diǎn)檢驗(yàn)2.3.1　星點(diǎn)檢驗(yàn)的理論基礎(chǔ)2.3.2　星點(diǎn)檢驗(yàn)條件2.4　分辨率測(cè)試技術(shù)2.4.1　衍射受限系統(tǒng)的分辨率2.4.2　分辨率測(cè)試方法2.5　刀口陰影法檢驗(yàn)2.5.1　刀口陰影法的基本原理2.5.2　刀口陰影法檢驗(yàn)面形誤差2.5.3　刀口陰影法檢驗(yàn)大口徑凹球面曲率半徑2.6　光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)試技術(shù)2.6.1　光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)試基礎(chǔ)2.6.2　光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)試原理及方法2.6.3　光學(xué)傳遞函數(shù)用于像質(zhì)評(píng)價(jià)思考與練習(xí)第3章　色度和光度測(cè)試技術(shù)3.1　色度學(xué)的基本概念和實(shí)驗(yàn)定律3.1.1　顏色混合定律3.1.2　色度學(xué)中的基本概念3.1.3　CIE標(biāo)準(zhǔn)色度系統(tǒng)3.1.4　CIE標(biāo)準(zhǔn)照明體和標(biāo)準(zhǔn)光源3.2　CIE色度計(jì)算方法3.2.1　色品坐標(biāo)計(jì)算3.2.2　顏色相加計(jì)算3.2.3　主波長(zhǎng)和色純度計(jì)算3.3　色度的測(cè)試方法和應(yīng)用3.3.1　積分球及其應(yīng)用3.3.2　顏色的測(cè)量方法和儀器3.3.3　有色光學(xué)玻璃的色度測(cè)量3.4　像面照度均勻性測(cè)試技術(shù)3.5　光學(xué)系統(tǒng)透過(guò)率測(cè)試技術(shù)3.5.1　望遠(yuǎn)系統(tǒng)透過(guò)率的測(cè)量3.5.2　照相物鏡透過(guò)率的測(cè)量3.6　光學(xué)系統(tǒng)雜光系數(shù)的測(cè)量思考與練習(xí)第4章　激光測(cè)試技術(shù)4.1　激光概述4.1.1　激光的基本性質(zhì)4.1.2　高斯光束4.2　激光準(zhǔn)直技術(shù)及應(yīng)用4.2.1　激光束的壓縮技術(shù)4.2.2　激光準(zhǔn)直測(cè)試技術(shù)4.2.3　激光準(zhǔn)直測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用4.3　激光多普勒測(cè)速技術(shù)4.3.1　激光多普勒測(cè)速技術(shù)基礎(chǔ)4.3.2　激光多普勒測(cè)速技術(shù)應(yīng)用4.4　激光測(cè)距技術(shù)4.4.1　激光相位測(cè)距4.4.2　脈沖激光測(cè)距思考與練習(xí)搴5章　激光干涉測(cè)試技術(shù)5.1　激光干涉測(cè)試技術(shù)基礎(chǔ)5.1.1　干涉原理與干涉條件5.1.2　影響干涉條紋對(duì)比度的因素5.1.3　共程干涉和非共程干涉5.1.4　干涉條紋的分析與波面恢復(fù)5.1.5　提高分辨率的方法和干涉條紋的信號(hào)處理5.2　激光斐索型干涉測(cè)試技術(shù)5.2.1　激光斐索型平面干涉測(cè)量5.2.2　斐索型球面干涉儀5.3　波面剪切干涉測(cè)試技術(shù)5.3.1　波面剪切干涉技術(shù)基本原理5.3.2　橫向剪切干涉儀及應(yīng)用5.3.3　徑向剪切干涉儀及應(yīng)用5.4　激光全息干涉測(cè)試技術(shù)5.4.1　全息術(shù)及其基本原理5.4.2　全息干涉測(cè)試技術(shù)5.4.3　全息干涉測(cè)試技術(shù)應(yīng)用5.5　激光外差干涉測(cè)試技術(shù)5.5.1　激光外差干涉測(cè)試技術(shù)原理5.5.2　激光外差干涉測(cè)試技術(shù)應(yīng)用5.6　激光移相干涉測(cè)試技術(shù)5.6.1　激光移相干涉測(cè)試技術(shù)原理5.6.2　激光移相干涉測(cè)試技術(shù)的特點(diǎn)5.6.3　檄光移相干涉測(cè)試技術(shù)應(yīng)用5.7　激光散斑干涉測(cè)試技術(shù)5.7.1　散斑及其性質(zhì)5.7.2　激光散斑干涉測(cè)試技術(shù)及其應(yīng)用5.8　納米技術(shù)中的干涉測(cè)試技術(shù)5.8.1　掃描隧道顯微鏡（STM）5.8.2　光子掃描隧道顯微鏡（PSTM）5.8.3　亞納米零差檢測(cè)干涉系統(tǒng)5.8.4　亞納米外差檢測(cè)干涉系統(tǒng)思考與練習(xí)第6章　激光衍射測(cè)試技術(shù)6.1　激光衍射測(cè)試技術(shù)基礎(chǔ)6.1.1　惠更斯一菲涅耳原理6.1.2　巴俾涅原理6.1.3　單縫衍射測(cè)量6.1.4　圓孔衍射測(cè)量6.2　激光衍射測(cè)量方法6.2.1　間隙測(cè)量法6.2.2　反射衍射測(cè)量法6.2.3　分離間隙法6.2.4　互補(bǔ)測(cè)量法6.2.5　艾里斑測(cè)量法6.2.6　衍射頻譜檢測(cè)法6.3　衍射光柵及其應(yīng)用6.3.1　衍射光柵的基本特性6.3.2　衍射光柵的典型應(yīng)用思考與練習(xí)第7章　光纖測(cè)試技術(shù)7.1　光纖測(cè)試技術(shù)基礎(chǔ)7.1.1光纖結(jié)構(gòu)和類型7.1.2　光纖傳輸原理7.1.3　光纖傳輸特性7.1.4　單模光纖的偏振與雙折射7.1.5　光纖連接耦合技術(shù)7.2　光纖傳感技術(shù)7.2.1　振幅調(diào)制傳感型光纖傳感器7.2.2　相位調(diào)制傳感型光纖傳感器7.2.3　偏振態(tài)調(diào)制傳感型光纖傳感器7.2.4　傳光型光纖傳感技術(shù)及應(yīng)用7.2.5　分布式光纖傳感原理思考與練習(xí)第8章　其他典型光電測(cè)試技術(shù)8.1　莫爾測(cè)試技術(shù)8.1.1　莫爾測(cè)試技術(shù)基礎(chǔ)8.1.2　莫爾形貌（等高線）測(cè)試技術(shù)8.1.3　莫爾測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用8.2　三角法測(cè)試技術(shù)8.2.1　三角法測(cè)試技術(shù)基礎(chǔ)8.2.2　三角法測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用8.3　圖像測(cè)試技術(shù)8.3.1　圖像信息的獲取8.3.2　圖像的預(yù)處理技術(shù)8.3.3　圖像測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用思考與練習(xí)參考文獻(xiàn)

編輯推薦

　　◎秉承并保持第1版的基本內(nèi)容和特色，新增光輻射體和探測(cè)器　　◎突出系統(tǒng)性，全面系統(tǒng)地介紹系統(tǒng)的各組成部分和技術(shù)　　◎突出實(shí)用性，注重介紹工程實(shí)用知識(shí)和技術(shù)　　◎內(nèi)容深入淺出，圖文并茂，可讀性強(qiáng)。

圖書(shū)封面

評(píng)論、評(píng)分、閱讀與下載

---

    光電測(cè)試技術(shù) PDF格式下載

---