數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試

內(nèi)容概要

　　在半導(dǎo)體集成電路的設(shè)計(jì)與制造過程中，測(cè)試的重要性越來越突出，有關(guān)數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試方面的書籍也不斷出現(xiàn)，本書是這些書籍中內(nèi)容十分全面豐富的一本。本書系統(tǒng)地介紹了數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試相關(guān)方面的知識(shí)，包括基礎(chǔ)內(nèi)容方面的自動(dòng)測(cè)試向量生成、可測(cè)性設(shè)計(jì)、內(nèi)建自測(cè)試等，高級(jí)內(nèi)容方面包括IDDQ測(cè)試、功能測(cè)試、延遲故障測(cè)試、CMOS測(cè)試、存儲(chǔ)器測(cè)試以及故障診斷等，并論述了最新的測(cè)試技術(shù)，包括各種故障模型的測(cè)試生成、集成電路不同層次的測(cè)試技術(shù)以及系統(tǒng)芯片的測(cè)試綜合等，其內(nèi)容涵蓋了當(dāng)前數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試與可測(cè)試性設(shè)計(jì)方面的基礎(chǔ)知識(shí)與研究現(xiàn)狀等。　　本書可作為高等學(xué)校計(jì)算機(jī)、微電子、電子工程等專業(yè)的高年級(jí)本科生和研究生的教材與參考書，也可供從事相關(guān)領(lǐng)域工作，特別是集成電路設(shè)計(jì)與測(cè)試的科研與工程技術(shù)人員參考。

作者簡(jiǎn)介

Niraj Jha是普林斯頓大學(xué)電氣工程系的教授，同時(shí)是嵌入式系統(tǒng)芯片設(shè)計(jì)中心的負(fù)責(zé)人，他目前的研究工作集中在嵌入式系統(tǒng)芯片的綜合與測(cè)試方面。他是IEEE會(huì)士，《IEEE VLSI系統(tǒng)學(xué)報(bào)》（IEEE Transactions on VLSI Systems）和《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》（Journal of Electro

書籍目錄

第1章　緒論  1.1　故障及其表現(xiàn)  1.2　故障分析  1.3　測(cè)試分類  1.4　故障覆蓋率要求  1.5　測(cè)試經(jīng)濟(jì)學(xué)  小結(jié)　  習(xí)題  參考文獻(xiàn)第2章　故障模型  2.1　電路的不同抽象層次  2.2　不同抽象層次的故障模型  2.3　歸納故障分析  2.4　故障模型間的關(guān)系  小結(jié)  習(xí)題  參考文獻(xiàn)第3章　組合邏輯與故障模擬  3.1　簡(jiǎn)介  3.2　預(yù)備知識(shí)  3.3　邏輯模擬  3.4　故障模擬基礎(chǔ)  3.5　故障模擬方式  3.6　近似的低復(fù)雜度故障模擬  小結(jié)  補(bǔ)充閱讀材料  習(xí)題  參考文獻(xiàn)第4章　組合電路的測(cè)試生成  4.1　簡(jiǎn)介  4.2　復(fù)合電路表示與值系統(tǒng)  4.3　測(cè)試生成基礎(chǔ)  4.4　蘊(yùn)涵  4.5　結(jié)構(gòu)化測(cè)試生成算法：預(yù)備知識(shí)  4.6　特定的結(jié)構(gòu)化測(cè)試生成情況  4.7　非結(jié)構(gòu)化測(cè)試生成技術(shù)  4.8　測(cè)試生成系統(tǒng)  4.9　減少測(cè)試中散熱和噪聲的測(cè)試生成  小結(jié)  補(bǔ)充閱讀材料  習(xí)題  附錄4.A蘊(yùn)涵過程  參考文獻(xiàn)第5章　時(shí)序電路的測(cè)試向量自動(dòng)生成  5.1　時(shí)序ATPG方法與故障的分類  5.2　故障壓縮  5.3　故障模擬  5.4　同步電路的測(cè)試生成  5.5　異步電路的測(cè)試生成  5.6　測(cè)試壓縮  小結(jié)  補(bǔ)充閱讀材料  習(xí)題  參考文獻(xiàn)第6章　 lDD0測(cè)試  6.1　簡(jiǎn)介  6.2　組合ATPG  6.3　時(shí)序ATPG  6.4　組合電路的故障診斷  6.5　內(nèi)建電流檢測(cè)器  6.6　基于電流檢測(cè)測(cè)試的先進(jìn)概念  6.7　1DoQ測(cè)試的經(jīng)濟(jì)學(xué)　小結(jié)　　補(bǔ)充閱讀材料　習(xí)題　參考文獻(xiàn)第7章　功能測(cè)試　第8章　延遲故障測(cè)試　第9章　CMOS測(cè)試　第10章　故障診斷第11章　可測(cè)試性設(shè)計(jì)　第12章　內(nèi)建自測(cè)試　第13章　可測(cè)試性綜合　第14章　存儲(chǔ)器測(cè)試　第15章　高級(jí)測(cè)試綜合第16章　系統(tǒng)芯片的測(cè)試綜合

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無

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