數(shù)字系統(tǒng)測試

內(nèi)容概要

　　在半導體集成電路的設計與制造過程中，測試的重要性越來越突出，有關數(shù)字系統(tǒng)測試方面的書籍也不斷出現(xiàn)，本書是這些書籍中內(nèi)容十分全面豐富的一本。本書系統(tǒng)地介紹了數(shù)字系統(tǒng)測試相關方面的知識，包括基礎內(nèi)容方面的自動測試向量生成、可測性設計、內(nèi)建自測試等，高級內(nèi)容方面包括IDDQ測試、功能測試、延遲故障測試、CMOS測試、存儲器測試以及故障診斷等，并論述了最新的測試技術，包括各種故障模型的測試生成、集成電路不同層次的測試技術以及系統(tǒng)芯片的測試綜合等，其內(nèi)容涵蓋了當前數(shù)字系統(tǒng)測試與可測試性設計方面的基礎知識與研究現(xiàn)狀等。　　本書可作為高等學校計算機、微電子、電子工程等專業(yè)的高年級本科生和研究生的教材與參考書，也可供從事相關領域工作，特別是集成電路設計與測試的科研與工程技術人員參考。

作者簡介

Niraj Jha是普林斯頓大學電氣工程系的教授，同時是嵌入式系統(tǒng)芯片設計中心的負責人，他目前的研究工作集中在嵌入式系統(tǒng)芯片的綜合與測試方面。他是IEEE會士，《IEEE VLSI系統(tǒng)學報》（IEEE Transactions on VLSI Systems）和《電子測試：理論與應用雜志》（Journal of Electro

書籍目錄

第1章　緒論  1.1　故障及其表現(xiàn)  1.2　故障分析  1.3　測試分類  1.4　故障覆蓋率要求  1.5　測試經(jīng)濟學  小結　  習題  參考文獻第2章　故障模型  2.1　電路的不同抽象層次  2.2　不同抽象層次的故障模型  2.3　歸納故障分析  2.4　故障模型間的關系  小結  習題  參考文獻第3章　組合邏輯與故障模擬  3.1　簡介  3.2　預備知識  3.3　邏輯模擬  3.4　故障模擬基礎  3.5　故障模擬方式  3.6　近似的低復雜度故障模擬  小結  補充閱讀材料  習題  參考文獻第4章　組合電路的測試生成  4.1　簡介  4.2　復合電路表示與值系統(tǒng)  4.3　測試生成基礎  4.4　蘊涵  4.5　結構化測試生成算法：預備知識  4.6　特定的結構化測試生成情況  4.7　非結構化測試生成技術  4.8　測試生成系統(tǒng)  4.9　減少測試中散熱和噪聲的測試生成  小結  補充閱讀材料  習題  附錄4.A蘊涵過程  參考文獻第5章　時序電路的測試向量自動生成  5.1　時序ATPG方法與故障的分類  5.2　故障壓縮  5.3　故障模擬  5.4　同步電路的測試生成  5.5　異步電路的測試生成  5.6　測試壓縮  小結  補充閱讀材料  習題  參考文獻第6章　 lDD0測試  6.1　簡介  6.2　組合ATPG  6.3　時序ATPG  6.4　組合電路的故障診斷  6.5　內(nèi)建電流檢測器  6.6　基于電流檢測測試的先進概念  6.7　1DoQ測試的經(jīng)濟學　小結　　補充閱讀材料　習題　參考文獻第7章　功能測試　第8章　延遲故障測試　第9章　CMOS測試　第10章　故障診斷第11章　可測試性設計　第12章　內(nèi)建自測試　第13章　可測試性綜合　第14章　存儲器測試　第15章　高級測試綜合第16章　系統(tǒng)芯片的測試綜合

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