出版時(shí)間:2004-8-1 出版社:電子工業(yè)出版社 作者:劉明治 頁(yè)數(shù):332 字?jǐn)?shù):482000
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內(nèi)容概要
本書(shū)是“電子元器件質(zhì)量與可靠性技術(shù)”叢書(shū)之一。本書(shū)在介紹電子元器件可靠性的必要性及基本概念的基礎(chǔ)上,詳細(xì)介紹了電子元器件的主要可靠性試驗(yàn)和通用的基本可靠性試驗(yàn)的原理、常用設(shè)備及操作程序,進(jìn)而介紹了電子元器件可靠性試驗(yàn)的設(shè)計(jì)及技術(shù)問(wèn)題。目的在于提高電子元器件可靠性試驗(yàn)的水平及技術(shù)。 本書(shū)為電子元器件質(zhì)量與可靠性技術(shù)培訓(xùn)教材,對(duì)從事質(zhì)量與可靠性工作的技術(shù)人員和管理人員是一本實(shí)用的參考書(shū)。
書(shū)籍目錄
第1章 概論 1.1 電子元器件 1.2 電子元器件的可靠性 1.3 影響電子元器件可靠性的因素 1.4 電子元器件可靠性試驗(yàn)的定義與原理 1.4.1 可靠性試驗(yàn)的定義 1.4.2 可靠性試驗(yàn)的原理 1.5 電子元器件可靠性試驗(yàn)的分類(lèi)及內(nèi)涵 1.5.1 可靠性試驗(yàn)的分類(lèi) 1.5.2 可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)和失效分析試驗(yàn) 1.5.3 老煉試驗(yàn)和篩選試驗(yàn) 1.5.4 模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn) 1.5.5 例行試驗(yàn)、質(zhì)量一致性檢驗(yàn)和可靠性驗(yàn)收試驗(yàn) 1.5.6 可靠性鑒定試驗(yàn)、可靠性定級(jí)試驗(yàn)和可靠性維持試驗(yàn) 1.6 可靠性試驗(yàn)在可靠性工程中的地位 復(fù)習(xí)與思考題第2章 電子元器件的可靠性試驗(yàn) 2.1 電子元器件的可靠性試驗(yàn)概述 2.2 電子元器件的失效率試驗(yàn) 2.3 電子元器件的壽命試驗(yàn) 2.4 電子元器件的可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)方法 2.5 電子元器件的可靠性篩選 2.6 電子元器件的其他可靠性試驗(yàn) 2.7 電子設(shè)備的可靠性試驗(yàn) 復(fù)習(xí)與思考題第3章 電子元器件的可靠性基礎(chǔ)試驗(yàn) 3.1 概述 3.2 機(jī)械\環(huán)境試驗(yàn) 3.3 電子元器件的電性能特性能數(shù)檢測(cè)試驗(yàn) 3.4 電子元器件可靠性試驗(yàn)的常用設(shè)備 復(fù)習(xí)與思考題第4章 電子元器件的可靠性試驗(yàn)設(shè)計(jì) 4.1 可靠性試驗(yàn)的一般要求 4.2 試驗(yàn)條件選擇及試驗(yàn)周期設(shè)計(jì) 4.3 可靠性試驗(yàn)報(bào)告 4.4 現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn) 4.5 可靠性試驗(yàn)技術(shù)與管理 復(fù)習(xí)與思考題結(jié)束語(yǔ)主要參考文獻(xiàn)
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