出版時(shí)間:2004-8 出版社:電子工業(yè)出版社 作者:顧瑛 頁(yè)數(shù):367 字?jǐn)?shù):530000
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內(nèi)容概要
本書(shū)是“電子元器件質(zhì)量與可靠性技術(shù)”叢書(shū)之一。該書(shū)分為四章:第1章是排列組合和概率論基礎(chǔ);第2章可靠性特征量是可靠性的基礎(chǔ)知識(shí),闡述可靠度、失效分布函數(shù)、失效密度和壽命特征量的含義;第3章介紹壽命數(shù)據(jù)的數(shù)值估計(jì)法和圖估法的統(tǒng)計(jì)分析方法;第4章論述抽樣檢驗(yàn)和假設(shè)檢驗(yàn),給出計(jì)數(shù)、失效率、平均壽命等抽樣檢驗(yàn)的檢驗(yàn)規(guī)則和抽樣方案的制定。 本書(shū)為電子元器件質(zhì)量與可靠性技術(shù)培訓(xùn)教材,對(duì)從事質(zhì)量與可靠性工作的技術(shù)人員和管理人員是一本實(shí)用的參考資料。同時(shí)也可作為大學(xué)相關(guān)專(zhuān)業(yè)的參考書(shū)。
書(shū)籍目錄
第1章 排列組合和概率論基礎(chǔ) 1.1 排列與組合 1.2 概率論基本概念 1.3 隨機(jī)變量 1.4 隨機(jī)變量的數(shù)字特征 習(xí)題第2章 可靠性的特征量 2.1 可靠度和失效分布函數(shù) 2.2 失效密度和失效率 2.3 壽命特征量 2.4 常用失效分布 習(xí)題第3章 壽命試驗(yàn)統(tǒng)計(jì)分析 3.1 壽命試驗(yàn)概述 3.2 數(shù)理統(tǒng)計(jì)的基本概念 3.3 壽命試驗(yàn)參數(shù)的數(shù)值分析估計(jì)法 3.4 壽命試驗(yàn)參數(shù)的圖估計(jì)法 3.5 加速壽命試驗(yàn)統(tǒng)計(jì)分布 習(xí)題第4章 抽樣檢查和假設(shè)檢驗(yàn) 4.1 抽樣檢查的基本概念 4.2 計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)的基本原理 4.3 指數(shù)分布的失效率抽樣檢驗(yàn) 4.4 平衡壽命抽樣檢驗(yàn) 4.5 假設(shè)檢驗(yàn) 習(xí)題附錄A 常用數(shù)學(xué)用表 表A.1 泊松分布數(shù)值表 表A.2 標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表 表A.3 x2分布表 表A.4 t分布表 表A.5 F分布表 表A.6 最佳線(xiàn)性無(wú)偏估計(jì)方差表(威布爾分布) 表A.7 最佳線(xiàn)性無(wú)偏估計(jì)系數(shù)表(威布爾分布) 表A.8 簡(jiǎn)單線(xiàn)性無(wú)偏估計(jì)表(威布爾分布) 表A.9 最佳線(xiàn)性無(wú)偏估計(jì)系數(shù)表(對(duì)數(shù)正態(tài)分布) 表A.10 最佳線(xiàn)性無(wú)偏估計(jì)方差表(對(duì)數(shù)正態(tài)分布) 表A.11 簡(jiǎn)單線(xiàn)性無(wú)偏估計(jì)表(對(duì)數(shù)正態(tài)分布) 表A.12 正態(tài)分布的雙側(cè)分位數(shù)(ua)表附錄B 常用數(shù)學(xué)符號(hào)簡(jiǎn)表參考文獻(xiàn)
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