無(wú)損檢測(cè)技術(shù)

內(nèi)容概要

　　《無(wú)損檢測(cè)技術(shù)》系統(tǒng)介紹了無(wú)損檢測(cè)的目的、特點(diǎn)及其分類，對(duì)五種常規(guī)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)（射線、超聲波、渦流、滲透以及磁粉檢測(cè)技術(shù)）的物理基礎(chǔ)、檢測(cè)方法、檢測(cè)工藝以及檢測(cè)設(shè)備和材料進(jìn)行了詳細(xì)的介紹。對(duì)其他比較常用無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，如中子照相、工業(yè)CT、聲發(fā)射、噪聲、磁彈性、漏磁場(chǎng)、工業(yè)內(nèi)窺鏡、激光全息、微波檢測(cè)技術(shù)，以及最近出現(xiàn)的磁記憶檢測(cè)技術(shù)也進(jìn)行了介紹?！稛o(wú)損檢測(cè)技術(shù)》可作為理工科大學(xué)相關(guān)專業(yè)的大學(xué)本科或研究生教材，也可作為無(wú)損檢測(cè)從業(yè)人員的參考用書(shū)。

書(shū)籍目錄

緒論一、無(wú)損檢測(cè)概述二、無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展過(guò)程三、無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的分類及本書(shū)重點(diǎn)四、無(wú)損檢測(cè)方法的選擇參考文獻(xiàn)第一篇　常規(guī)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)第一章　射線檢測(cè)技術(shù)1.1　射線檢測(cè)技術(shù)概述1.1.1　射線檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展概況1.1.2　射線檢測(cè)主要方法1.1.3　射線檢測(cè)技術(shù)的特點(diǎn)、適用性與局限性1.2　射線檢測(cè)物理基礎(chǔ)1.2.1　射線概念1.2.2　光子與物質(zhì)的相互作用1.2.3　射線衰減規(guī)律1.3　射線檢測(cè)的基本原理和方法1.3.1 X射線檢測(cè)原理1.3.2 X射線檢測(cè)方法1.3.3 r射線檢測(cè)1.3.4　射線檢測(cè)時(shí)透照方向的選擇-1.4　射線照相檢驗(yàn)設(shè)備與器材1.4.1　X射線機(jī)1.4.2　r射線機(jī)1.4.3　加速器——高能X射線源1.4.4　工業(yè)射線膠片1.4.5　其他常用設(shè)備和器材1.5　射線檢測(cè)缺陷分析1.5.1　常見(jiàn)缺陷及其影像特征1.5.2　表面缺陷1.5.3　偽缺陷1.5.4　缺陷埋藏深度的確定1.6　射線照相影像質(zhì)量1.6.1　影像質(zhì)量的基本因素1.6.2　影像的對(duì)比度1.6.3　影像的不清晰度1.6.4　影像的顆粒度1.7　射線的防護(hù)1.7.1　屏蔽防護(hù)法1.7.2　距離防護(hù)法1.7.3　時(shí)間防護(hù)法參考文獻(xiàn)第二章　超聲波檢測(cè)技術(shù)2.1　概述2.2　超聲波的分類2.2.1　描述超聲波的基本物理量2.2.2　超聲波的分類2.3　超聲場(chǎng)及介質(zhì)的聲參量2.3.1　描述超聲場(chǎng)的物理量2.3.2　介質(zhì)的聲參量2.4　超聲波在介質(zhì)中的傳播特性2.4.1　超聲波垂直入射到平界面上的反射和透射2.4.2　超聲波傾斜入射到平界面上的反射和折射2.4.3　超聲波在曲界面上的反射和透射2.5　超聲檢測(cè)儀、探頭及試塊2.5.1　超聲檢測(cè)儀2.5.2　探頭2.5.3　試塊2.6　超聲波檢測(cè)方法和通用檢測(cè)技術(shù)2.6.1　超聲波檢測(cè)方法2.6.2　儀器與探頭的選擇……

編輯推薦

　　本書(shū)不僅對(duì)相關(guān)的檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行了原理和檢測(cè)方法方面的介紹，同時(shí)也突出了檢測(cè)材料、工藝以及檢測(cè)結(jié)果的分析和判定；不僅對(duì)5種常規(guī)的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行了詳細(xì)介紹，同時(shí)也介紹了一些其他常用的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，注意反映當(dāng)前國(guó)內(nèi)外無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域的最新動(dòng)態(tài)和最新研究成果。

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