電子元器件失效分析與典型案例

內(nèi)容概要

本書系統(tǒng)地介紹了電子元器件失效分析技術(shù)及典型分析案例。全書分為基礎(chǔ)篇和案例篇?；A(chǔ)篇闡述電子元器件失效分析的目的和意義、失效分析程序、失效分析技術(shù)以及失效分析主要儀器設(shè)備與工具；案例篇按照元器件門類分為九章，即集成電路、微波器件、混合集成電路、分立器件、阻容元件、繼電器和連接器、電真空器件、板極電路和其它器件，共計138個失效分析典型案例，各章節(jié)突出介紹了該類器件的失效特點、主要失效模式及相關(guān)失效機理，提出了預防和控制使用失效發(fā)生的必要措施。　　本書具有較強的實用性，可供失效分析專業(yè)工作者以及元器件和整機研制、生產(chǎn)單位的工程技術(shù)人員使用，也可作為高等學校半導體器件專業(yè)的教學參考書。

書籍目錄

第一篇　基礎(chǔ)篇　第一章　電子元器件失效分析概論　　　1.1　失效分析的目的和意義　　1.2　失效分析的基本內(nèi)容　　1.3　失效分析要求　　1.4　主要失效模式及其分布　　1.5　主要失效機理及其定義　第二章　失效分析程序　　2.1　失效環(huán)境調(diào)查　　2.2　失效樣品保護　　2.3　失效分析方案設(shè)計　　2.4　外觀檢查　　2.5　電測　　2.6　應(yīng)力試驗分析　　2.7　故障模擬分析　　2.8　內(nèi)部分析　　2.9　糾正措施　　2.10　結(jié)果驗證　第三章　失效分析技術(shù)　　3.1　以失效分析為目的的電測技術(shù)　　3.2　無損失效分析技術(shù)　　3.3　樣品制備技術(shù)　　3.4　顯微形貌像技術(shù)　　3.5　以測量電壓效應(yīng)為基礎(chǔ)的失效分析定位技術(shù)　　3.6　以測量電流效應(yīng)為基礎(chǔ)的失效分析定位技術(shù)　　3.7　電子元器件化學成分分析技術(shù)　　3.8　失效分析技術(shù)列表　第四章　失效分析主要儀器設(shè)備與工具　　4.1　光學顯微鏡　　4.2　X射線透視儀　　4.3　掃描聲學顯微鏡　　4.4　塑封器件噴射腐蝕開封機　　4.5　等離子腐蝕機　　4.6　反應(yīng)離子腐蝕機　　4.7　聚集離子束系統(tǒng)　　4.8　掃描電子顯微鏡及x射線能譜儀　　4.9　俄歇電子能譜儀　　4.10　二次離子質(zhì)譜儀　　4.11　透射式電子顯微鏡　　4.12　電子束測試系統(tǒng)　　4.13　顯微紅外熱像儀　　4.14　光輻射顯微鏡　　4.15　內(nèi)部氣氛分析儀　　4.16　紅外顯微鏡第二篇　案例篇　第五章　集成電路的失效分析典型案例　　5.1　集成電路主要失效模式及失效機理　　5.2　集成電路典型案例綜合分析　　5.3　集成電路的失效控制措施　　5.4　集成電路失效分析典型案例　第六章　微波器件失效分析典型案例　　6.1　微波器件的主要失效模式及失效機理　　6.2　微波器件典型案例綜合分析　　6.3　微波器件的失效控制措施　　6.4　微波器件失效分析典型案例　第七章　混合集成電路失效分析典型案例　　7.1　混合集成電路的主要失效模式及失效機理　　7.2　混合集成電路典型案例綜合分析　　7.3　混合集成電路的失效控制措施　　7.4　混合集成電路失效分析典型案例　第八章　分立器件失效分析典型案例　　8.1　分立器件的主要失效模式及失效機理　　8.2　分立器件典型案例綜合分析　　8.3　分立器件失效分析典型案例　第九章　阻容元件失效分析典型案例　　9.1　電阻器的主要失效模式、失效機理以及預防措施　　9.2　電容器的主要失效模式、失效機理以及預防措施　　9.3　阻容元件典型案例綜合分析　　9.4　阻容元件失效分析典型案例　第十章　繼電器和連接器失效分析典型案例　　10.1　繼電器、連接器的主要失效模式及失效機理　　10.2　繼電器和連接器典型案例綜合分析　　10.3　繼電器和連接器失效分析典型案例　第十一章　板級電路失效分析典型案例　　11.1　板級電路的主要失效模式及失效機理　　11.2　板級電路典型案例綜合分析　　11.3　板級電路失效分析典型案例　第十二章　電真空器件失效分析典型案例　　12.1　電真空器件的主要失效模式及失效原因　　12.2　電真空器件典型案例綜合分析　　12.3　電真空器件失效分析典型案例　第十三章　其它器件失效分析典型案例　　13.1　其它器件主要失效模式及失效機理　　13.2　其它器件典型案例綜合分析　　13.3　其它器件失效分析典型案例

編輯推薦

　　本書從信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所和電子元器件可靠性物理及其應(yīng)用技術(shù)國防重點實驗室近幾年積累的千余份有代表性的失效分析報告中，提煉出一百多例經(jīng)典案例，全書分為基礎(chǔ)篇和案例篇?；A(chǔ)篇闡述電子元器件失效分析的目的和意義、失效分析程序、失效分析技術(shù)以及失效分析主要儀器設(shè)備與工具。

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