近現(xiàn)代物理實(shí)驗(yàn)

內(nèi)容概要

　　本書(shū)涵蓋了近現(xiàn)代物理實(shí)驗(yàn)中基本的數(shù)據(jù)處理方法和41個(gè)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目。全書(shū)共六章。第0章著重介紹了物理實(shí)驗(yàn)中的誤差和不確定度分析以及常用的數(shù)據(jù)處理方法；第1章主要有原子核衰變規(guī)律、原子結(jié)構(gòu)分析、隧道效應(yīng)應(yīng)用、相對(duì)論關(guān)系驗(yàn)證以及放射性測(cè)量在環(huán)境評(píng)價(jià)中應(yīng)用等實(shí)驗(yàn)內(nèi)容；第2章主要為核磁共振、光磁共振和電子順磁共振等磁共振實(shí)驗(yàn)；第3章主要為光速測(cè)量、光譜分析、激光調(diào)Q倍頻、微波的光學(xué)特性驗(yàn)證與模擬以及熱輻射成像等實(shí)驗(yàn)；第4章主要為真空技術(shù)、薄膜材料制備及其性能分析和高溫超導(dǎo)轉(zhuǎn)變溫度測(cè)量等實(shí)驗(yàn)；第5章主要介紹了目前常用的磁粉、超聲、全息、液體滲透、X射線以及計(jì)算機(jī)斷層掃描（工業(yè)CT）等六種無(wú)損檢測(cè)實(shí)驗(yàn)方法。本書(shū)在重點(diǎn)闡述每個(gè)實(shí)驗(yàn)的基本原理和實(shí)驗(yàn)方法的同時(shí)，有側(cè)重地介紹了部分實(shí)驗(yàn)儀器和裝置，還特別介紹了相關(guān)實(shí)驗(yàn)技術(shù)的歷史背景、應(yīng)用現(xiàn)狀和發(fā)展前景。
　　本書(shū)適宜作為高等學(xué)校理工科本科生、研究生的近現(xiàn)代物理類(lèi)實(shí)驗(yàn)教材，也可作為教師的教學(xué)參考書(shū)，還可供相關(guān)實(shí)驗(yàn)技術(shù)人員參考。
　　本書(shū)適宜作為高等學(xué)校理工科本科生、研究生的近現(xiàn)代物理類(lèi)實(shí)驗(yàn)教材，也可作為教師的教學(xué)參考書(shū)，還可供相關(guān)實(shí)驗(yàn)技術(shù)人員參考。

書(shū)籍目錄

前言
第0章實(shí)驗(yàn)中測(cè)量誤差的分析與數(shù)據(jù)處理
第1章原子與原子核
實(shí)驗(yàn)1放射性衰變統(tǒng)計(jì)規(guī)律的研究
實(shí)驗(yàn)2電子荷質(zhì)比的測(cè)定
實(shí)驗(yàn)3盧瑟福散射與α粒子在空氣中射程的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)4冉紹爾-湯森效應(yīng)的研究
實(shí)驗(yàn)5塞曼效應(yīng)
實(shí)驗(yàn)6光電效應(yīng)與普朗克常量的測(cè)定
實(shí)驗(yàn)7康普頓散射
實(shí)驗(yàn)8掃描隧道顯微鏡的使用
實(shí)驗(yàn)9原子力顯微鏡的使用
實(shí)驗(yàn)10驗(yàn)證快速電子的動(dòng)量與動(dòng)能的相對(duì)論關(guān)系
實(shí)驗(yàn)11環(huán)境樣品中放射性核素的測(cè)量與評(píng)價(jià)
第2章磁共振
實(shí)驗(yàn)12核磁共振
實(shí)驗(yàn)13光磁共振
實(shí)驗(yàn)14電子順磁共振
第3章光、激光與光譜
實(shí)驗(yàn)15光速的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)15．1光拍法測(cè)量光速
實(shí)驗(yàn)15．2位相法測(cè)光速
實(shí)驗(yàn)16黑體輻射
實(shí)驗(yàn)17氫原子光譜及里德伯常量的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)18原子吸收光譜的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)19脈沖固體激光器的運(yùn)行調(diào)試及參數(shù)測(cè)定
實(shí)驗(yàn)20電光調(diào)Q實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)21被動(dòng)調(diào)Q實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)22激光在晶體中的倍頻
實(shí)驗(yàn)23微波的光學(xué)特性研究
實(shí)驗(yàn)24熱輻射成像
實(shí)驗(yàn)25振動(dòng)喇曼光譜的研究
第4章真空材料與低溫
實(shí)驗(yàn)26直流低氣壓放電現(xiàn)象觀察及伏安特性的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)27直流輝光放電等離子體參數(shù)的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)28用直流濺射法制備薄膜
實(shí)驗(yàn)29利用光的干涉測(cè)量膜厚
實(shí)驗(yàn)30薄膜電阻率的測(cè)量
實(shí)驗(yàn)31金屬薄膜電阻的動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)
實(shí)驗(yàn)32磁性薄膜的磁電阻測(cè)量
實(shí)驗(yàn)33X射線衍射分析物相
實(shí)驗(yàn)34真空的獲得與真空鍍膜
實(shí)驗(yàn)35高溫超導(dǎo)體轉(zhuǎn)變溫度的測(cè)量
第5章無(wú)損檢測(cè)
實(shí)驗(yàn)36磁粉無(wú)損檢測(cè)
實(shí)驗(yàn)37X射線照相無(wú)損檢測(cè)
實(shí)驗(yàn)38超聲波無(wú)損檢測(cè)
實(shí)驗(yàn)38．1超聲波探傷儀水平線性的測(cè)定
實(shí)驗(yàn)38．2材料衰減系數(shù)的測(cè)定
實(shí)驗(yàn)38．3人工缺陷位置的測(cè)定
實(shí)驗(yàn)39光學(xué)全息無(wú)損檢測(cè)
實(shí)驗(yàn)40液體滲透檢測(cè)
實(shí)驗(yàn)41工業(yè)CT實(shí)驗(yàn)

章節(jié)摘錄

版權(quán)頁(yè)：   插圖：   （注意事項(xiàng)） 1.乙炔為易燃、易爆氣體，必須嚴(yán)格按照操作步驟進(jìn)行。在點(diǎn)燃乙炔火焰之前，應(yīng)先開(kāi)空氣，后開(kāi)乙炔；結(jié)束或暫停實(shí)驗(yàn)時(shí)，應(yīng)先關(guān)乙炔，后關(guān)空氣。必須切記以保障安全。 2.乙炔鋼瓶為左旋開(kāi)啟，開(kāi)瓶時(shí)，出口處不準(zhǔn)有人，要慢開(kāi)啟，不能過(guò)猛，否則沖擊氣流會(huì)使溫度過(guò)高，易引起燃燒或爆炸。開(kāi)瓶時(shí)，閥門(mén)不要充分打開(kāi)，旋開(kāi)不應(yīng)超過(guò)1.5轉(zhuǎn)。 （參考文獻(xiàn)） （1）鄧勃，遲錫增，劉明鐘，李玉珍.應(yīng)用原子吸收與原子熒光光譜分析（M）.北京：化學(xué)工業(yè)出版社，2003. （2）邱德仁，原子吸收光譜分析（M）.上海：復(fù)旦大學(xué)出版社，2002. （3）孫漢文.原子光譜學(xué)與痕量分析研究（M）.保定：河北大學(xué)出版社，2001. （4）孫漢文，原子光譜分析（M）.北京：高等教育出版社，2002. （5）武漢大學(xué).分析化學(xué)（M）.北京：高等教育出版社，1990. （6）清華大學(xué)教學(xué)軟件庫(kù)，原子吸收光譜法 （7）島津公司編.原子吸收分光光度計(jì)AA—6300（P/N 206—51800）使用說(shuō)明書(shū).2002. （附錄）測(cè)定條件的選擇 商品原子吸收儀中預(yù)先存在資料庫(kù)中各元素的分析條件通常都是廠商用標(biāo)準(zhǔn)溶液得到的或從文獻(xiàn)中搜集到的針對(duì)某一特定基體樣品的分析條件，一般來(lái)說(shuō)不能作為自己實(shí)際測(cè)定樣品的最優(yōu)條件使用，只可作為選擇分析條件的參考，因?yàn)闇y(cè)定某一試樣的最佳條件未必對(duì)測(cè)定另一試樣中同一元素也適用。根據(jù)實(shí)際情況，可參照附錄中的火焰原子吸收分析測(cè)定條件表和火焰發(fā)射分析線波長(zhǎng)表（此二表位于本（附錄）后）。在進(jìn)行原子吸收光譜測(cè)定時(shí)，為了獲得靈敏、重現(xiàn)性好和準(zhǔn)確的結(jié)果，應(yīng)對(duì)測(cè)定條件進(jìn)行優(yōu)選。

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