電磁兼容測(cè)試的技術(shù)和技巧

前言

　　本書是電磁兼容應(yīng)用技術(shù)叢書的第四分冊(cè)。這套叢書以每分冊(cè)介紹和討論一個(gè)專題為原則。目前計(jì)劃出版的四個(gè)專題分別是：　　1.電磁兼容的實(shí)用技術(shù)、技巧和工藝（2007年已出版）　　2.PCB的電磁兼容設(shè)計(jì)技術(shù)、技巧和工藝（2007年已出版）　　3.系統(tǒng)和設(shè)備安裝的電磁兼容技術(shù)、技巧和工藝（2008年已出版）　　4.電磁兼容測(cè)試的技術(shù)和技巧　　本叢書的最終目的是希望讀者在閱讀或在參考使用過(guò)程中能夠切切實(shí)實(shí)地解決所面臨的實(shí)際電磁兼容（EMC）技術(shù)和應(yīng)用問(wèn)題。所以，不論是本書還是本叢書的其他各分冊(cè)在內(nèi)容的編排上都是以上述這個(gè)目的為出發(fā)點(diǎn)的。例如，本書的介紹和討論是圍繞電磁兼容中的測(cè)試方法學(xué)和測(cè)量技術(shù)為中心內(nèi)容的。據(jù)此，本書為讀者所安排的內(nèi)容如下：　　1.輻射發(fā)射測(cè)試　　2.傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試　　3.快速瞬態(tài)猝發(fā)、浪涌和靜電放電的測(cè)試　　4.輻射抗擾度測(cè)試　　5.傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試　　6.低頻磁場(chǎng)（發(fā)射和抗擾度）測(cè)試——電網(wǎng)電壓驟降、丟失、中斷、下跌、降低和升高　　7.電網(wǎng)電源的諧波電流、電壓波動(dòng)、閃爍和涌入電流的發(fā)射測(cè)試以及其他相關(guān)測(cè)試　　8.現(xiàn)場(chǎng)EMC測(cè)試方法　　正如讀者所知，雖然以上所列的任何一個(gè)題目（從理論基礎(chǔ)、數(shù)學(xué)計(jì)算到實(shí)際應(yīng)用的方法）恐怕都可以編寫成一本完整的教科書。但是如上所述，本書的出發(fā)點(diǎn)和目的卻與教科書完全不同?！　”緯ㄒ约氨緟矔钠渌鞣謨?cè)）是希望在有限的篇幅內(nèi)，將最為重要的一些電磁兼容技術(shù)中的測(cè)試方法和測(cè)量技術(shù)以簡(jiǎn)潔明了的語(yǔ)言較為全面的方式介紹給廣大的讀者和從事EMC設(shè)計(jì)的工程技術(shù)人員。

內(nèi)容概要

本書將最為重要的一些電磁兼容技術(shù)中的測(cè)試方法和測(cè)量技術(shù)以簡(jiǎn)潔明了的語(yǔ)言和較為全面的方式介紹給讀者。主要內(nèi)容包括輻射發(fā)射測(cè)試；傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試；快速瞬態(tài)猝發(fā)、浪涌和靜電放電的測(cè)試；輻射抗擾度測(cè)試；傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試；低頻磁場(chǎng)（發(fā)射和抗擾度）測(cè)試——電網(wǎng)電壓驟降、丟失、中斷、下跌、降低和升高；電網(wǎng)電源的諧波電流、電壓波動(dòng)、閃爍和涌入電流的發(fā)射測(cè)試以及其他相關(guān)測(cè)試；現(xiàn)場(chǎng)EMC測(cè)試方法。附錄選編了4個(gè)與EMC測(cè)量有關(guān)的功率、電壓和電流分貝（dB）電平的比較；線性刻度和分貝（dB）刻度間的關(guān)系；場(chǎng)強(qiáng)一輻射功率的計(jì)算；RF場(chǎng)強(qiáng)的基本單位和它們間的換算以便查用。書后還附有文中出現(xiàn)的英文縮略語(yǔ)索引。    本書適合從事EMC設(shè)計(jì)的工程技術(shù)人員閱讀，也適合電磁兼容培訓(xùn)的師生閱讀。

作者簡(jiǎn)介

　　王守三，1966年畢業(yè)于原上海科技大學(xué)無(wú)線電系電物理專業(yè)。畢業(yè)后曾在原上海儀表電訊工業(yè)局儀器儀表工業(yè)公司從事電子儀器的開(kāi)發(fā)和研制。

書籍目錄

序概述第1章　輻射發(fā)射測(cè)試  1.1　產(chǎn)品整個(gè)壽命周期中對(duì)EMC的測(cè)試要求    1.1.1　研制和診斷測(cè)試    1.1.2　符合和預(yù)符合測(cè)試    1.1.3　QA測(cè)試    1.1.4　變更和差異（不穩(wěn)定性）    1.1.5　從獨(dú)立測(cè)試實(shí)驗(yàn)室獲得最佳測(cè)試結(jié)果  1.2　輻射發(fā)射測(cè)試    1.2.1　近場(chǎng)探頭    1.2.2　電流探頭    1.2.3　故障檢測(cè)器    1.2.4　天線    1.2.5　在研制、診斷和質(zhì)量保障測(cè)試中示波器的使用    1.2.6　在研制、診斷和質(zhì)量保障測(cè)試中頻譜分析儀的使用    1.2.7　在研制、診斷和質(zhì)量保證測(cè)試中無(wú)線電接收機(jī)的使用    1.2.8　預(yù)符合測(cè)試    1.2.9　可重復(fù)性以及“金產(chǎn)品”測(cè)試-    1.2.10　開(kāi)放測(cè)試場(chǎng)地和封閉測(cè)試場(chǎng)地    1.2.11　系統(tǒng)和設(shè)備的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試    1.2.12　完整符合性測(cè)試　參考文獻(xiàn)第2章　傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試　2.1　傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試中使用的感應(yīng)器（換能器）  　2.1.1  近場(chǎng)探頭　  2.1.2　故障檢測(cè)器    2.1.3  電流探頭    2.1.4　吸收鉗    2.1.5　電壓探頭    2.1.6　阻抗的變化在非侵入式測(cè)量中引入的誤差    2.1.7　IASN和AMN    2.1.8　在使用LISN情況下的CM和DM的測(cè)量    2.1.9　瞬態(tài)限制器    2.1.10  ISN    2.2　研制、診斷以及QA測(cè)試　  2.2.1　使用示波器  　2.2.2　使用低成本的頻譜分析儀　  2.2.3  使用無(wú)線電接收機(jī)　2.3　預(yù)符合測(cè)試　2.4　系統(tǒng)和設(shè)備的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試　2.5　完整符合性測(cè)試    2.5.1　電網(wǎng)電源的傳導(dǎo)測(cè)試    2.5.2　通信電纜    2.5.3　騷擾電源的測(cè)試　2.6　非連續(xù)性騷擾　2.7　傳導(dǎo)和輻射發(fā)射測(cè)試對(duì)測(cè)量?jī)x器的要求　參考文獻(xiàn)第3章　快速瞬態(tài)猝發(fā)、浪涌和靜電放電的測(cè)試  3.1  標(biāo)準(zhǔn)化的抗擾度測(cè)試與它們?cè)趯?shí)際應(yīng)用中的可靠性  3.2　租賃專用測(cè)試儀器是自己進(jìn)行測(cè)試的最佳途徑  3.3　測(cè)試儀器的組合使用  3.4　購(gòu)買二手貨測(cè)試儀器  3.5　快速瞬態(tài)猝發(fā)（FTB）　  3.5.1　標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試的細(xì)節(jié)  　3.5.2　完整符合性FTB測(cè)試　  3.5.3　現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試  　3.5.4　其他類型的FTB發(fā)生器　3.6　浪涌  　3.6.1　完整符合性測(cè)試　  3.6.2　現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試……第4章　輻射抗擾度測(cè)試第5章　傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試第6章　低頻磁場(chǎng)（發(fā)射和抗擾度）測(cè)試——電網(wǎng)電壓驟降、丟失、中斷、下跌、降低和升高第7章　電網(wǎng)電源的諧波電流、電壓波動(dòng)、閃爍和涌入電流的發(fā)射設(shè)計(jì)以及基他相關(guān)測(cè)試　第8章　現(xiàn)場(chǎng)EMC測(cè)試方法附錄英文縮略語(yǔ)索引

章節(jié)摘錄

　　第1章　輻射發(fā)射測(cè)試　　1.1　產(chǎn)品整個(gè)壽命周期中對(duì)EMC的測(cè)試要求　　在開(kāi)始介紹輻射發(fā)射測(cè)試以前，我們應(yīng)該考慮到，在任何一個(gè)產(chǎn)品的壽命周期中會(huì)對(duì)EMC測(cè)試有著各種不同的需要和要求。每一種或每一類測(cè)試都會(huì)有它自己的技術(shù)、花費(fèi)和時(shí)間要求。　　1.1.1 研制和診斷測(cè)試　　在一個(gè)產(chǎn)品的研制周期的每一個(gè)步驟上，都要按規(guī)定完成所需要的EMC測(cè)試。這樣做不僅會(huì)大大縮短研制周期，還會(huì)節(jié)省大量研制費(fèi)用?！　‘?dāng)產(chǎn)品最終裝配在一起，并安置在已事先設(shè)計(jì)好的外殼（或機(jī)柜）內(nèi)時(shí)，可以使用標(biāo)準(zhǔn)EMC測(cè)試方法對(duì)它進(jìn)行測(cè)試。但在一個(gè)項(xiàng)目設(shè)計(jì)的早期階段，標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法的使用并不那么有效。特別是，比如說(shuō)采用微處理器或數(shù)字信號(hào)處理器（DSP）集成電路的產(chǎn)品（這些產(chǎn)品的自身發(fā)射與其他類型器件的相比有時(shí)可高出40dB以上）?！　∠囝愃频兀陧?xiàng)目研制的后期階段，當(dāng)要求對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行一些修改工作來(lái)解決一個(gè)輻射發(fā)射問(wèn)題時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)的EMC測(cè)試實(shí)驗(yàn)室所用的測(cè)試方法也不會(huì)那么有效。因?yàn)檫@些標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法往往都無(wú)法很容易確切告訴我們發(fā)射源所在?！　∫虼耍诋a(chǎn)品研制過(guò)程中的EMC測(cè)試和診斷測(cè)試將需要使用不同的技術(shù)，有時(shí)還需要采用一些測(cè)試上的技巧才能獲得滿意的結(jié)果。這些不同于標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試的技術(shù)和技巧經(jīng)常會(huì)采用諸如近場(chǎng)探頭、電流探頭和故障檢測(cè)器等器件和儀器來(lái)完成?！　　?/pre>








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