數(shù)字電子技術(shù)及應(yīng)用

內(nèi)容概要

　 本書的主要內(nèi)容有：數(shù)字電路基礎(chǔ)、邏輯門電路、組臺邏輯電路、集成觸發(fā)器、時序邏輯電路、脈沖波形的產(chǎn)生與整形電路、數(shù)／模和模 ／數(shù)轉(zhuǎn)換器、半導(dǎo)體存儲器和可編程序邏輯器件等。配合教學(xué)的實驗內(nèi)容穿插在相應(yīng)的理論教學(xué)過程中，最后配有的綜合試訓(xùn)使理論與實踐緊 密結(jié)合。本書始終貫徹“講、學(xué)、練”相結(jié)合的原則，從能力培養(yǎng)的角度出發(fā)，培養(yǎng)學(xué)生分析問題和解決問題的能力。此外，每章都配有本章 小結(jié)和習(xí)題，書末還配有部分習(xí)題的參考答案。    本書內(nèi)容簡明，通俗易懂，由淺入深，重點突出，理論聯(lián)系實際。本書可作為高職高專院校應(yīng)用電子技術(shù)、電氣自動化技術(shù)和機電一體化 技術(shù)等專業(yè)的教材或參考書，也可供從事電子技術(shù)工作的工程技術(shù)人員參考。

書籍目錄

前言第1章　數(shù)字電路基礎(chǔ)　1.1　概述　　1.1.1　數(shù)字信號和數(shù)字電路　　1.1.2　數(shù)字電路的特點　1.2　數(shù)制與碼制　　1.2.1　數(shù)制　　1.2.2　二進(jìn)制數(shù)與其他進(jìn)制數(shù)的相互轉(zhuǎn)換　　1.2.3　碼制　1.3　邏輯代數(shù)　　1.3.1　邏輯代數(shù)和邏輯變量　　1.3.2　三種基本邏輯運算和復(fù)合邏輯運算　　1.3.3　邏輯函數(shù)的表示方法及相互轉(zhuǎn)換　1.4　邏輯代數(shù)的基本定律和規(guī)則　　1.4.1　基本定律　　1.4.2　三個重要規(guī)則　1.5　邏輯函數(shù)的代數(shù)化簡法　　1.5.1　邏輯函數(shù)常用的幾種表達(dá)式　　1.5.2　化簡的意義及最簡的概念　　1.5.3　代數(shù)化簡法　1.6　邏輯函數(shù)的卡諾圖化簡法　　1.6.1　邏輯函數(shù)的最小項及其表達(dá)式　　1.6.2　用卡諾圖表示邏輯函數(shù)　　1.6.3　用卡諾圖化簡邏輯函數(shù)　　1.6.4　具有無關(guān)項的邏輯函數(shù)的化簡　本章小結(jié)　習(xí)題1第2章　邏輯門電路　2.1　概述　2.2　半導(dǎo)體分立器件的開關(guān)特性　　2.2.1　二極管的開關(guān)特性　　2.2.2　晶體管的開關(guān)特性　　2.2.3　MOS管的開關(guān)特性　2.3　邏輯門電路　　2.3.1　二極管門電路　　2.3.2　晶體管門電路　　2.3.3　復(fù)合邏輯門電路　實驗2.1　基本邏輯門電路邏輯　　功能測試　2.4　TTL集成邏輯門電路　　2.4.1　TTL與非門的工作原理　　2.4.2　TTL與非門的外特性及有關(guān)參數(shù)　　2.4.3　其他類型的TTL邏輯門電路　　2.4.4　TTL系列數(shù)字集成電路簡介　　2.4.5　TTL門電路使用中應(yīng)注意的問題　實驗2.2　復(fù)合邏輯門電路邏輯功能測試　實驗2.3　邏輯門電路的功能轉(zhuǎn)換　實驗2.4　三態(tài)門邏輯功能測試及應(yīng)用　2.5　CMOS集成邏輯門電路　　2.5.1　CMOS反相器　　2.5.2　其他類型的CMOS邏輯門電路　　2.5.3　CMOS系列數(shù)字集成電路簡介　　2.5.4　CMOS門電路特性及使用常識　2.6　不同類型門電路的接口問題……第3章  組合邏輯電路第4章  集成觸發(fā)器第5章  時序邏輯電路第6章  脈沖波形的生產(chǎn)與整形電路第7章  數(shù)/模和模/數(shù)轉(zhuǎn)換器第8章  半導(dǎo)體存儲器和可編程序邏輯器件第9章  綜合實訓(xùn)附錄部分習(xí)題參考答案參考文獻(xiàn)

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