數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試與可測(cè)試設(shè)計(jì)

內(nèi)容概要

本書系統(tǒng)地介紹數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試?yán)碚摵头椒?，包括測(cè)試生成、故障模型、故障模擬、可測(cè)試性設(shè)計(jì)、內(nèi)建自測(cè)試等內(nèi)容。本書共分為三部分：第一部分介紹數(shù)字系統(tǒng)、數(shù)字微系統(tǒng)芯片缺陷的來(lái)源、邏輯描述的方法等；第二部分介紹數(shù)字系統(tǒng)的可測(cè)試性設(shè)計(jì)理論和方法、內(nèi)建自測(cè)試BIST、測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法等；第三部分主要討論系統(tǒng)測(cè)試的方法。本書概念清晰、層次分明、定義和證明準(zhǔn)確、算法推導(dǎo)和闡述簡(jiǎn)練。每章附有大量練習(xí)題可幫助讀者消化吸收所學(xué)的概念。    本書可供數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)相關(guān)技術(shù)人員參考，也可作為高等院校相關(guān)專業(yè)高年級(jí)本科生或研究生的教材。

作者簡(jiǎn)介

李華偉：中，國(guó)科學(xué)院計(jì)算機(jī)研究所副研究員，選進(jìn)測(cè)試技術(shù)實(shí)驗(yàn)室副主任，博士生導(dǎo)師。1996年在湘潭大學(xué)計(jì)算機(jī)科學(xué)系獲學(xué)士學(xué)位。1999年和2001年分別在中科院計(jì)算技術(shù)研究所獲碩士學(xué)位和博士學(xué)位。主要研究領(lǐng)域?yàn)榧娐窚y(cè)試，在國(guó)內(nèi)外刊物和國(guó)際學(xué)術(shù)會(huì)議上發(fā)表論文60余篇，授

書籍目錄

譯者序譯者簡(jiǎn)介中文版前言前言本書是如何寫出來(lái)的第1章 緒論第2章 建模  2.1 基本概念  2.2 邏輯級(jí)的功能建模  2.3 寄存器級(jí)的功能建模  2.4 結(jié)構(gòu)模型  2.5 建模的層次  參考文獻(xiàn)  習(xí)題第3章 邏輯模擬  3.1 應(yīng)用  3.2 基于模擬設(shè)計(jì)驗(yàn)證中的問(wèn)題  3.3 模擬的類型  3.4 未知的邏輯值  3.5 編譯后模擬  3.6 事件驅(qū)動(dòng)模擬  3.7 葉延模型  3.8 元件求值  3.9 冒險(xiǎn)檢測(cè)  3.10 門級(jí)事件驅(qū)動(dòng)模擬  3.11 模擬引擎  參考文獻(xiàn)  習(xí)題 第4章 故障模型  4.1 邏輯故障模型   4.2 故障檢測(cè)和冗余  4.3 故障等價(jià)和故障定位  4.4 故障支配  4.5 單固定型故障模型  4.6 多固定型故障模型  4.7 固定的RTL變量  4.8 故障變量  參考文獻(xiàn)  習(xí)題第5章 故障模擬  5.1 應(yīng)用  5.2 通用故障模擬技術(shù)  5.3 組合電路的故障模擬  5.4 故障采樣  5.5 統(tǒng)計(jì)故障分析  5.6 本章小結(jié)  參考文獻(xiàn)  習(xí)題第6章 單固定型故障測(cè)試  6.1 基本問(wèn)題  6.2 組合電路中的單固定型故障的自動(dòng)測(cè)試生成  6.3 時(shí)序電路SSF的ATC  6.4 本章小結(jié)  參考文獻(xiàn)  習(xí)題第7章 橋接故障測(cè)試  7.1 橋接故障模型  7.2 無(wú)反饋橋接故障的檢測(cè)  7.3 橋接故障的檢測(cè)  7.4 橋接故障模擬  7.5 橋接故障的測(cè)試生成  7.6 本章小結(jié)  參考文獻(xiàn)  習(xí)題第8章 功能測(cè)試……第9章 可測(cè)試性設(shè)計(jì)第10章 測(cè)試壓縮技術(shù)第11章 內(nèi)建自測(cè)試第12章 邏輯級(jí)診斷第13章 自校驗(yàn)設(shè)計(jì)第14章 PLA測(cè)試第15章 系統(tǒng)級(jí)診斷索引

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