數(shù)字系統(tǒng)測試與可測試設(shè)計

內(nèi)容概要

本書系統(tǒng)地介紹數(shù)字系統(tǒng)測試?yán)碚摵头椒?，包括測試生成、故障模型、故障模擬、可測試性設(shè)計、內(nèi)建自測試等內(nèi)容。本書共分為三部分：第一部分介紹數(shù)字系統(tǒng)、數(shù)字微系統(tǒng)芯片缺陷的來源、邏輯描述的方法等；第二部分介紹數(shù)字系統(tǒng)的可測試性設(shè)計理論和方法、內(nèi)建自測試BIST、測試數(shù)據(jù)壓縮方法等；第三部分主要討論系統(tǒng)測試的方法。本書概念清晰、層次分明、定義和證明準(zhǔn)確、算法推導(dǎo)和闡述簡練。每章附有大量練習(xí)題可幫助讀者消化吸收所學(xué)的概念。    本書可供數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計相關(guān)技術(shù)人員參考，也可作為高等院校相關(guān)專業(yè)高年級本科生或研究生的教材。

作者簡介

李華偉：中，國科學(xué)院計算機研究所副研究員，選進測試技術(shù)實驗室副主任，博士生導(dǎo)師。1996年在湘潭大學(xué)計算機科學(xué)系獲學(xué)士學(xué)位。1999年和2001年分別在中科院計算技術(shù)研究所獲碩士學(xué)位和博士學(xué)位。主要研究領(lǐng)域為集電路測試，在國內(nèi)外刊物和國際學(xué)術(shù)會議上發(fā)表論文60余篇，授

書籍目錄

譯者序譯者簡介中文版前言前言本書是如何寫出來的第1章 緒論第2章 建模  2.1 基本概念  2.2 邏輯級的功能建模  2.3 寄存器級的功能建模  2.4 結(jié)構(gòu)模型  2.5 建模的層次  參考文獻  習(xí)題第3章 邏輯模擬  3.1 應(yīng)用  3.2 基于模擬設(shè)計驗證中的問題  3.3 模擬的類型  3.4 未知的邏輯值  3.5 編譯后模擬  3.6 事件驅(qū)動模擬  3.7 葉延模型  3.8 元件求值  3.9 冒險檢測  3.10 門級事件驅(qū)動模擬  3.11 模擬引擎  參考文獻  習(xí)題 第4章 故障模型  4.1 邏輯故障模型   4.2 故障檢測和冗余  4.3 故障等價和故障定位  4.4 故障支配  4.5 單固定型故障模型  4.6 多固定型故障模型  4.7 固定的RTL變量  4.8 故障變量  參考文獻  習(xí)題第5章 故障模擬  5.1 應(yīng)用  5.2 通用故障模擬技術(shù)  5.3 組合電路的故障模擬  5.4 故障采樣  5.5 統(tǒng)計故障分析  5.6 本章小結(jié)  參考文獻  習(xí)題第6章 單固定型故障測試  6.1 基本問題  6.2 組合電路中的單固定型故障的自動測試生成  6.3 時序電路SSF的ATC  6.4 本章小結(jié)  參考文獻  習(xí)題第7章 橋接故障測試  7.1 橋接故障模型  7.2 無反饋橋接故障的檢測  7.3 橋接故障的檢測  7.4 橋接故障模擬  7.5 橋接故障的測試生成  7.6 本章小結(jié)  參考文獻  習(xí)題第8章 功能測試……第9章 可測試性設(shè)計第10章 測試壓縮技術(shù)第11章 內(nèi)建自測試第12章 邏輯級診斷第13章 自校驗設(shè)計第14章 PLA測試第15章 系統(tǒng)級診斷索引

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