數(shù)字集成電路與嵌入式內(nèi)核系統(tǒng)的測試設(shè)計(jì)

內(nèi)容概要

　　《數(shù)字集成電路與嵌入式內(nèi)核系統(tǒng)的測試設(shè)計(jì)（附光盤）》論述集成電路與嵌入式數(shù)字系統(tǒng)的測試技術(shù)，提出許多重要且關(guān)鍵的解決方案。針對目前在測試中遇到的實(shí)際問題，從技術(shù)和產(chǎn)品的投資成本上論述嵌入內(nèi)核和SoC的測試問題?！　　稊?shù)字集成電路與嵌入式內(nèi)核系統(tǒng)的測試設(shè)計(jì)（附光盤）》適合作為高等院校相關(guān)專業(yè)本科生、研究生的教材或參考書，也可供相關(guān)專業(yè)技術(shù)人員參考。　　《數(shù)字集成電路與嵌入式內(nèi)核系統(tǒng)的測試設(shè)計(jì)（附光盤）》包括五章，按目錄的順序排列是：測試基礎(chǔ)、自動測試圖形生成（ATPG）、掃描、存儲器測試和內(nèi)核。每章概要如下：第1章包括有關(guān)測試的術(shù)語、定義和基本信息，介紹了什么是測試和可測性設(shè)計(jì)，怎么做測試，為什么做測試，需要測試的對象是什么，怎么度量與實(shí)施測試，使用什么設(shè)備測試，工程和成本權(quán)衡的內(nèi)因是什么。這是非?；A(chǔ)的一章，可以讓初學(xué)者或初級測試與可測性設(shè)計(jì)專業(yè)人員快速了解測試的需求、作用和語言。第2章介紹繁重的向量生成任務(wù)的自動化過程，以及如何利用自動測試圖形生成（ATPG）方法減小量產(chǎn)時(shí)間。該章描述了AC（動態(tài)）和DC（靜態(tài)）故障模型向量生成分析與技術(shù)，包括了在硬件設(shè)計(jì)中必須遵守某些規(guī)則的原因，如何降低向量集合的大小，向量集合生成的時(shí)間等內(nèi)容。本章同時(shí)也討論了ATPG過程中的度量和權(quán)衡，介紹了不同ATPG工具的評估和基準(zhǔn)程序比較，幫助讀者在應(yīng)用中選擇適用的方法和工具。第3章講述掃描測試方法，開始先介紹了掃描設(shè)計(jì)和操作的基本知識，討論了采用一個(gè)掃描設(shè)計(jì)時(shí)需要考慮的設(shè)計(jì)要點(diǎn)與權(quán)衡。同時(shí)也包括了在設(shè)計(jì)中的掃描安裝技術(shù)，以及一些普遍問題的解決方法，例如可靠移位、無競爭向量、移位定時(shí)、時(shí)鐘偏差。最后，介紹了一些減少測試時(shí)間的技術(shù)，如按照額定功能頻率對掃描結(jié)構(gòu)進(jìn)行移位（全速掃描），以及從設(shè)計(jì)的定時(shí)分析中抽取關(guān)鍵路徑信息，然后在掃描鏈中使用額定頻率采樣（AC掃描），從而通過掃描來達(dá)到AC測試目標(biāo)。第4章講述存儲器測試、掃描測試結(jié)構(gòu)中的存儲器應(yīng)對方法和存儲器內(nèi)建自測試（MBIST）。該章從存儲器測試基礎(chǔ)講起，擴(kuò)展到與掃描共存的測試結(jié)構(gòu)，最后描述內(nèi)建自測試結(jié)構(gòu)與集成。內(nèi)建自測試的存儲器內(nèi)核交付要包含很多信息，包括如何處理大量存儲器內(nèi)核集成，如何減少路由的問題，功耗問題，特征提取，數(shù)據(jù)調(diào)試，數(shù)據(jù)保存問題。第5章介紹使用可測試與可訪問的嵌入式內(nèi)核進(jìn)行可測性設(shè)計(jì)。該章先介紹了被稱作“嵌入式IP（智能模塊）”，嵌入式內(nèi)核或基于內(nèi)核的設(shè)計(jì)風(fēng)格的基本術(shù)語、定義、內(nèi)容、權(quán)衡?；谇度胧絻?nèi)核的設(shè)計(jì)流程包括兩個(gè)方面，設(shè)計(jì)可測試可重用的內(nèi)核，使用嵌入式可重用內(nèi)核設(shè)計(jì)芯片。學(xué)習(xí)該章需要深入理解第1、3、4章的內(nèi)容。

作者簡介

　　Alfred L·Crouch畢業(yè)于肯塔基大學(xué)，獲電氣工程學(xué)碩士學(xué)位（MSEE）。他曾先后供職于德州儀器、數(shù)字設(shè)備公司以及摩托羅拉公司，長期從事測試設(shè)計(jì)、測試自動化以及計(jì)算機(jī)輔助測試的工作。他在若干0EEE出版物、E-Timers以及專業(yè)雜志發(fā)表過大量文章，是IEEE會員。他擁有9個(gè)美國專利，主要是測試相關(guān)的發(fā)明專利，如邏輯內(nèi)建自測試、存儲器內(nèi)建自測試、掃描結(jié)構(gòu)、掃描優(yōu)化，低功耗測試以及全速掃描。

書籍目錄

譯者序前言本書導(dǎo)讀第1章　測試和可測性設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)知識1.1簡介1.1.1目的1.1.2測試、測試過程和可測性設(shè)計(jì)1.1.3并發(fā)測試工程1.2測試動因1.2.1為什么要測試1.2.2 DPr爭論的正反方觀點(diǎn)1.3測試的定義1.3.1什么是測試1.3.2輸入激勵(lì)1.3.3輸出響應(yīng)1.4測試度量準(zhǔn)則1.4.1測量什么1.4.2故障度量的數(shù)學(xué)描述1.5故障建模1.5.1物理缺陷1.5.2故障建模1.6測試分類1.6.1功能測試1.6.2結(jié)構(gòu)測試1.6.3組合電路的窮舉和偽窮舉測試1.6.4全窮舉測試1.6.5測試風(fēng)格1.7制造過程中的測試1.7.1制造過程中的測試過程1.7.2制造過程中的測試負(fù)載板1.7.3制造過程中的測試程序1.8使用自動測試設(shè)備1.8.1　自動測試設(shè)備1.8.2 ATE的限制1.8.3 ATE成本考慮1.9測試和引腳的定時(shí)1.9.1測試儀和器件引腳的定時(shí)1.9.2測試儀的邊沿設(shè)定1.9.3測試儀的精度和準(zhǔn)確度1.10制造過程中的測試程序的構(gòu)成1.10.1測試程序的分塊和組成1.10.2測試程序優(yōu)化1.11推薦的參考讀物笫2章　自動測試圖形生成的基本原理2.1簡介2.1.1目的2.1.2自動測試圖形生成2.1.3圖形生成過程的流程2.2選擇ATPG的理由2.2.1為什么選擇ATPG2.2.2關(guān)于ATPG的正反方觀點(diǎn)2.3自動測試圖形生成過程2.4組合電路的固定故障介紹2.4.1組合電路的固定故障2.4.2組合電路的固定故障檢測2.5延時(shí)故障介紹2.5.1延時(shí)故障2.5.2延時(shí)故障的檢測2.6基于電流的故障介紹2.6.1基于電流的測試……

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