出版時(shí)間:2002年8月1日 出版社:機(jī)械工業(yè)出版社 作者:麥格雷戈 頁(yè)數(shù):277 譯者:楊文宏
Tag標(biāo)簽:無(wú)
內(nèi)容概要
主要內(nèi)容:
測(cè)試分析與設(shè)計(jì)模型,包括測(cè)試用例
測(cè)試級(jí)件、框架和產(chǎn)品線
測(cè)試遺留問題和多態(tài)型
怎樣制定有效的測(cè)試策略
測(cè)試類,包括構(gòu)建測(cè)試驅(qū)動(dòng)程序和檢驗(yàn)程序
測(cè)試對(duì)象交互
測(cè)試類層次結(jié)構(gòu)
測(cè)試分布式對(duì)象,包括線程、生命周期和風(fēng)格服務(wù)程序的測(cè)試
測(cè)試系統(tǒng)
書籍目錄
第一章 導(dǎo)論
第二章 測(cè)試視角
第三章 測(cè)試計(jì)劃
第四章 測(cè)試分析與設(shè)計(jì)模型
第五章 類測(cè)試基礎(chǔ)
第六章 義互測(cè)試
第七章 測(cè)試類的層次結(jié)構(gòu)
第八章 分布式對(duì)象測(cè)試
第九章 系統(tǒng)測(cè)試
第十章 組件、框架和產(chǎn)品線
第十一章 總結(jié)
圖書封面
圖書標(biāo)簽Tags
無(wú)
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