電路與電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)教程

出版時(shí)間:2005-11  出版社:高等教育出版社  作者:潘嵐  頁數(shù):231  

內(nèi)容概要

  《普通高等教育“十一五”國(guó)家級(jí)規(guī)劃教材:電路與電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)教程》強(qiáng)淵對(duì)實(shí)驗(yàn)過程、實(shí)驗(yàn)線路的設(shè)計(jì),強(qiáng)調(diào)CAD工具的應(yīng)用能力,強(qiáng)調(diào)實(shí)驗(yàn)的預(yù)習(xí),力求通過實(shí)驗(yàn)教學(xué)模式的改革使學(xué)生的工程實(shí)踐能力得到鍛煉。全書分為上、下兩篇,共9章。在上篇實(shí)驗(yàn)工具中,主要介紹了電路與電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)中目前常用的儀器儀表及電路分析、系統(tǒng)開發(fā)工具。這些軟、硬件工具的介紹都以實(shí)際應(yīng)用為主,具有使初學(xué)者能夠快速掌握工具功能、基本使用方法的特點(diǎn)。在下篇實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目中,給出了電路分析基礎(chǔ)、模擬電子技術(shù)與數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)共34個(gè)。這些實(shí)驗(yàn)有些是傳統(tǒng)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn),如戴維寧定理與最大功率傳輸定理、單管放大電路的研究、集成門電路的參數(shù)測(cè)試等,但本書著重要求學(xué)生根據(jù)理論知識(shí)進(jìn)行實(shí)驗(yàn)過程的設(shè)計(jì)。大量的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目均為設(shè)計(jì)性實(shí)驗(yàn),即要求學(xué)生根據(jù)實(shí)驗(yàn)任務(wù)完成電路的設(shè)計(jì)與仿真,并設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)過程完成所要求的測(cè)試。書中還給出了一部分綜合性實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目,如移相脈沖發(fā)生電路需綜合電路與模擬電子技術(shù)有關(guān)知識(shí),矩形波發(fā)生電路、A/D綜合應(yīng)用電路等需綜合模擬電子技術(shù)與數(shù)字電子技術(shù)有關(guān)知識(shí)?!  镀胀ǜ叩冉逃笆晃濉眹?guó)家級(jí)規(guī)劃教材:電路與電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)教程》可作為高等學(xué)校電工、電子類及儀器儀表類專業(yè)本、專科學(xué)生電路與電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)課程的教材,亦可供謬從事電工電子技術(shù)工作的工程技術(shù)人員參考。

書籍目錄

上篇 實(shí)驗(yàn)工具1 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的誤差分析與處理1.1 測(cè)量誤差的表示方法1.1.1 絕對(duì)誤差1.1.2 相對(duì)誤差1.1.3 引用誤差1.2 誤差的來源與分類1.2.1 測(cè)量誤差的來源1.2.2 測(cè)量誤差的分類1.3 減小誤差的基本方法1.3.1 減小系統(tǒng)誤差的方法1.3.2 減小隨機(jī)誤差的方法1.3.3 減小粗大誤差的方法1.4 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的記錄與處理1.4.1 數(shù)據(jù)的有效數(shù)字1.4.2 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的讀取與記錄1.4.3 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的處理2 常用電工電子實(shí)驗(yàn)儀器與儀表2.1 萬用表2.1.1 指針式萬用表2.1.2 數(shù)字式萬用表2.2 交流毫伏表2.3 功率表2.4 示波器2.5 函數(shù)信號(hào)發(fā)生器3 OrCAD/Pspice9基本使用方法3.1 概述3.1.1 OrCAD/PSpice9系統(tǒng)的構(gòu)成3.1.2 0rCAD/PSpice9的主要功能3.2 繪制電路原理圖3.3 設(shè)置仿真分析類型3.4 仿真波形觀測(cè)3.4.1 Probe的基本使用方法3.4.2 使用Pmbe觀測(cè)波形時(shí)的一些常用設(shè)置4 Multisim2001使用入門4.1 Multisim20Q1簡(jiǎn)介4.1.1 Multisim2001的功能與特點(diǎn)4.1.2 Multisim2001工作界面4.2 Multisim2001使用方法舉例4.2.1 電路原理圖輸入4.2.2 仿真實(shí)驗(yàn)分析5 MAx+plusⅡ10.0使用入門5.1 MAX+plusⅡ10.0簡(jiǎn)介5.2 MAx+plusⅡ10.0的基本使用方法5.2.1 項(xiàng)目設(shè)計(jì)文件的建立5.2.2 項(xiàng)目設(shè)計(jì)文件的編譯5.2.3 項(xiàng)目的時(shí)序仿真5.2.4 器件編程與配置6 ispDesign Expert開發(fā)系統(tǒng)使用入門6.1 ispDesign Expert簡(jiǎn)介6.1.1 ispDesjgn Expert 的功能與特點(diǎn)6.1.2 ispDesign Expert項(xiàng)目管理器工作界面6.2 ispDes唔n Expert使用方法舉例6.2.1 創(chuàng)建新項(xiàng)目6.2.2 頂層原理圖輸入6.2.3 創(chuàng)建模塊的硬件描述語言文件6.2.4 原理圖、ABEL-HDL源文件及測(cè)試向量的編譯6.2.5 仿真測(cè)試6.2.6 器件適配與下載下篇 實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目1 電路基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)1.1 常用電子儀器的使用實(shí)驗(yàn)1.2 電路組件的伏安特性實(shí)驗(yàn)1.3 疊加定理實(shí)驗(yàn)1.4 戴維寧定理與最大功率傳輸定理實(shí)驗(yàn)1.5 簡(jiǎn)單正弦交流電路實(shí)驗(yàn)1.6 日光燈電路與功率因數(shù)的提高實(shí)驗(yàn)1.7 串聯(lián)諧振電路實(shí)驗(yàn)1.8 RC電路的濾波特性實(shí)驗(yàn)1.9 三相交流電路的測(cè)量實(shí)驗(yàn)1.10 一階Rc電路的暫態(tài)過程實(shí)驗(yàn)1.11 二階電路的暫態(tài)過程2 模擬電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)2.1 單管放大電路的研究實(shí)驗(yàn)2.2 負(fù)反饋對(duì)放大電路性能的影響實(shí)驗(yàn)2.3 場(chǎng)效晶體管放大電路的研究實(shí)驗(yàn)2.4 運(yùn)算放大器的線性應(yīng)用1實(shí)驗(yàn)2.5 運(yùn)算放大器的線性應(yīng)用2實(shí)驗(yàn)2.6 運(yùn)算放大器的非線性應(yīng)用實(shí)驗(yàn)2.7 有源濾波電路實(shí)驗(yàn)2.8 文氏電橋振蕩電路實(shí)驗(yàn)2.9 輸出電壓可調(diào)的直流穩(wěn)壓電源實(shí)驗(yàn)2.10 移相脈沖發(fā)生電路實(shí)驗(yàn)2.11 正弦波發(fā)生電路3 數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)3.1 集成邏輯門芯片的參數(shù)測(cè)試實(shí)驗(yàn)3.2 組合邏輯電路設(shè)計(jì)1實(shí)驗(yàn)3.3 組合邏輯電路設(shè)計(jì)2實(shí)驗(yàn)3.4 時(shí)序邏輯電路設(shè)計(jì)1實(shí)驗(yàn)3.5 時(shí)序邏輯電路設(shè)計(jì)2實(shí)驗(yàn)3.6 計(jì)數(shù)與顯示實(shí)驗(yàn)3.7 555定時(shí)器的應(yīng)用實(shí)驗(yàn)3.8 矩形波發(fā)生電路實(shí)驗(yàn)3.9 節(jié)拍脈沖發(fā)生電路實(shí)驗(yàn)3.10 D/A綜合應(yīng)用電路實(shí)驗(yàn)3.11 A/D綜合應(yīng)用電路實(shí)驗(yàn)3.12 時(shí)序邏輯電路設(shè)計(jì)3

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