專利技術(shù)創(chuàng)新

出版時間:2013-3  出版社:科學(xué)出版社  作者:楊武  

內(nèi)容概要

《專利技術(shù)創(chuàng)新:法與經(jīng)濟學(xué)分析》內(nèi)容簡介:專利技術(shù)的創(chuàng)新不僅是技術(shù)問題,也是經(jīng)濟問題和法律問題?!秾@夹g(shù)創(chuàng)新:法與經(jīng)濟學(xué)分析》從“技術(shù)-經(jīng)濟-法律”一體化分析框架(TEL框架)入手,建立了專利技術(shù)創(chuàng)新過程分析的三維理論模型(TMI模型);研究了專利數(shù)據(jù)測度技術(shù)創(chuàng)新的理論、方法和工具;構(gòu)建了基于專利技術(shù)創(chuàng)新的技術(shù)標(biāo)準競爭力三維分析模型(TMR模型);探討了基于專利制度約束下的企業(yè)自主創(chuàng)新模式及模式的選擇機理;實證研究了我國鋼鐵企業(yè)的技術(shù)創(chuàng)新能力及自主創(chuàng)新模式選擇。 
《專利技術(shù)創(chuàng)新:法與經(jīng)濟學(xué)分析》注重理論研究的系統(tǒng)性和實踐操作的方法論,可供從事專利及技術(shù)創(chuàng)新管理與研究的企業(yè)家、學(xué)者和管理部門的人員閱讀;也可作為高等學(xué)校技術(shù)經(jīng)濟、工商管理和知識產(chǎn)權(quán)法等專業(yè)的研究生的課程教學(xué)用書。

書籍目錄

前言 第一篇專利技術(shù)創(chuàng)新分析的理論基礎(chǔ) 第1章技術(shù)創(chuàng)新溢出效應(yīng) 1.1技術(shù)創(chuàng)新溢出效應(yīng)概述 1.2技術(shù)創(chuàng)新溢出效應(yīng)對技術(shù)創(chuàng)新的影響 1.3技術(shù)創(chuàng)新溢出的乘數(shù)效應(yīng)與加速效應(yīng) 第2章技術(shù)創(chuàng)新的專利制度安排 2.1創(chuàng)新的激勵與專利制度的引入 2.2專利產(chǎn)權(quán)的界定 2.3專利產(chǎn)權(quán)的制度安排 2.4專利制度與技術(shù)創(chuàng)新 第3章專利產(chǎn)權(quán)的權(quán)能結(jié)構(gòu)與創(chuàng)新功能 3.1專利產(chǎn)權(quán)的權(quán)能結(jié)構(gòu) 3.2專利產(chǎn)權(quán)的屬性分析 3.3專利產(chǎn)權(quán)的創(chuàng)新功能 第二篇專利技術(shù)創(chuàng)新分析的方法 第4章專利技術(shù)創(chuàng)新的技術(shù)分析 4.1專利技術(shù)的核心內(nèi)涵 4.2專利權(quán)利要求的技術(shù)要素分析 4.3專利技術(shù)的層次與創(chuàng)新分類 4.4專利創(chuàng)新技術(shù)的周期變化 第5章專利技術(shù)創(chuàng)新的經(jīng)濟學(xué)分析 5.1專利創(chuàng)新資產(chǎn) 5.2專利創(chuàng)新資產(chǎn)組合論 5.3專利產(chǎn)權(quán)保護與創(chuàng)新市場收益 第6章專利技術(shù)創(chuàng)新的法學(xué)分析 6.1專利產(chǎn)權(quán)關(guān)系的法律界定 6.2專利產(chǎn)權(quán)的壟斷有限性 6.3專利權(quán)人的法定義務(wù) 第7章專利技術(shù)創(chuàng)新的“技術(shù)-經(jīng)濟-法律”一體化分析 7.1 法與經(jīng)濟學(xué)引入專利技術(shù)創(chuàng)新分析 7.2技術(shù)創(chuàng)新過程分析理論 7.3專利技術(shù)創(chuàng)新過程的TMI三維理論 7.4專利技術(shù)創(chuàng)新TMI三維表達 第三篇基于專利產(chǎn)權(quán)約束的技術(shù)創(chuàng)新行為分析 第8章專利法約束下的創(chuàng)新模仿與競爭行為模型分析 8.1率先創(chuàng)新、模仿與專利產(chǎn)權(quán)保護 8.2專利法約束下的創(chuàng)新者與模仿者的競爭模型 8.3專利產(chǎn)權(quán)下的許可模仿行為模型分析 第9章競爭性獨立專利產(chǎn)權(quán)開發(fā)行為模型分析 9.1專利產(chǎn)權(quán)約束下獨立產(chǎn)權(quán)創(chuàng)新動態(tài)競爭模型 9.2最優(yōu)專利期限 9.3專利范圍 9.4最優(yōu)專利政策結(jié)論 第10章從屬與交叉專利產(chǎn)權(quán)的許可模型分析 10.1技術(shù)創(chuàng)新的積累效應(yīng)及其激勵 10.2技術(shù)創(chuàng)新積累激勵的原則與法則 10.3從屬與交叉產(chǎn)權(quán)創(chuàng)新激勵的經(jīng)濟學(xué)分析模型 第11章侵犯專利產(chǎn)權(quán)行為的法與經(jīng)濟學(xué)分析 11.1專利侵權(quán)行為法與經(jīng)濟學(xué)分析理論 11.2專利侵權(quán)行為數(shù)理分析模型 11.3專利侵權(quán)行為處罰分析 11.4美國152件專利侵權(quán)案處罰的實證分析 第四篇專利數(shù)據(jù)測度技術(shù)創(chuàng)新的理論、方法和工具 第12章專利數(shù)據(jù)測度技術(shù)創(chuàng)新的理論 12.1專利數(shù)據(jù)測度技術(shù)創(chuàng)新的依據(jù) 12.2專利數(shù)據(jù)測度技術(shù)創(chuàng)新的作用 12.3專利數(shù)據(jù)測度技術(shù)創(chuàng)新的特點 12.4專利數(shù)據(jù)測度的質(zhì)量 第13章專利數(shù)據(jù)測度技術(shù)創(chuàng)新的方法 13.1專利數(shù)據(jù)測度方法的分類 13.2定性分析方法 13.3定量分析方法 13.4擬定量分析方法 13.5圖表分析方法 13.6其他方法 第14章專利數(shù)據(jù)測度技術(shù)創(chuàng)新的工具 14.1專利數(shù)據(jù)指標(biāo)體系 14.2專利數(shù)據(jù)指標(biāo)結(jié)構(gòu) 14.3專利數(shù)據(jù)指標(biāo)庫 第15章專利數(shù)據(jù)測度技術(shù)創(chuàng)新的實證分析 15.1專利數(shù)據(jù)測度技術(shù)能力 15.2專利數(shù)據(jù)測度技術(shù)創(chuàng)新能力 15.3專利數(shù)據(jù)測度技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略 第五篇專利技術(shù)標(biāo)準化與技術(shù)標(biāo)準專利化發(fā)展 第16章專利技術(shù)標(biāo)準化競爭與規(guī)制分析 16.1國際技術(shù)標(biāo)準的發(fā)展與競爭 16.2技術(shù)創(chuàng)新下的技術(shù)標(biāo)準理論研究演繹 第17章“技術(shù)-市場-規(guī)制”三維分析模型 17.1創(chuàng)新下的技術(shù)標(biāo)準形成機理 17.2技術(shù)標(biāo)準的技術(shù)基礎(chǔ)構(gòu)建——T維要素 17.3技術(shù)標(biāo)準的市場基礎(chǔ)構(gòu)建——M維要素 17.4技術(shù)標(biāo)準的規(guī)制基礎(chǔ)構(gòu)建——R維要素 第18章技術(shù)標(biāo)準競爭力分析與評價方法 18.1技術(shù)標(biāo)準競爭力構(gòu)成要素分析 18.2技術(shù)標(biāo)準競爭力的評價方法 18.3技術(shù)標(biāo)準競爭力評價指標(biāo)體系 18.4實證分析3G標(biāo)準競爭力 第19章技術(shù)標(biāo)準競爭博弈模型 19.1模型假設(shè) 19.2博弈分析 19.3分析結(jié)論 第六篇基于專利產(chǎn)權(quán)約束的自主創(chuàng)新模式 第20章自主創(chuàng)新及其基本模式 20.1自主創(chuàng)新及其模式的界定 20.2專利產(chǎn)權(quán)約束的自主創(chuàng)新基本模式 第21章專利數(shù)據(jù)測度企業(yè)自主創(chuàng)新基本模式的檢驗 21.1測度指標(biāo)及數(shù)據(jù)來源 21.2模式數(shù)據(jù)來源與方法 21.3模式測度的檢驗 21.4模型檢驗結(jié)論 21.5典型案例調(diào)查分析 第22章專利產(chǎn)權(quán)約束的自主創(chuàng)新模式選擇 22.1專利技術(shù)創(chuàng)新能力的強度與匹配 22.2技術(shù)創(chuàng)新能力強度與自主創(chuàng)新模式分析 22.3模式選擇機理研究 22.4自主創(chuàng)新模式選擇的實證分析 參考文獻

章節(jié)摘錄

版權(quán)頁:   插圖:   它們的產(chǎn)權(quán)關(guān)系為從屬或交叉產(chǎn)權(quán)關(guān)系。第一個企業(yè)沒有第二個企業(yè)的許可不能應(yīng)用其改進(或組合)專利,但是,第二個企業(yè)如果沒有第一個企業(yè)的許可也不能應(yīng)用改進(或組合)專利(繞不開支配專利)。因此,一項支配專利對于從動專利的持有人具有“阻塞”作用。對于“阻塞專利”現(xiàn)象,有以下兩個判定原則。 10.2.1等同原則 等同原則(doctrine of equivalents)是指專利權(quán)的保護范圍不僅包括權(quán)利要求記載的必要技術(shù)特征,而且包括與該必要技術(shù)特征實質(zhì)上等同的技術(shù)特征。盡管被控侵權(quán)物不具備專利權(quán)要求的全部特征,但是其不具備的專利特征在被控侵權(quán)物上面能夠找到該特征的等同替換物,此種情況下,被控侵權(quán)物判定為侵權(quán)。等同原則為創(chuàng)新積累的侵權(quán)判斷提供了基本原則。我國《最高院人民法院關(guān)于審理專利糾紛案件適用法律問題的若干規(guī)定》第17條的規(guī)定就指出,“等同特征是指與所記載的技術(shù)特征以基本相同的手段,實現(xiàn)基本相同的功能,達到基本相同的效果,并且本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員無需經(jīng)過創(chuàng)造性勞動就能夠聯(lián)想到的特征”。因此,判斷侵權(quán)物中是否具有與授權(quán)專利相等同的特征,必須從手段、功能、效果以及本領(lǐng)域技術(shù)人員是否顯而易見等四個方面分別進行比較,如果兩者的手段、功能、效果基本相同,而且對于本領(lǐng)域技術(shù)人員來說也屬于顯而易見的話,則可以認定為等同特征,否則就不宜認定為等同。例如,如果一項專利發(fā)明與一項被指控侵權(quán)的發(fā)明之間只存在很小的差別,就構(gòu)成侵權(quán)指控。 美國國際鎳業(yè)公司(International Nickel Co.)在球墨鑄鐵上有一項專利,涉及在熔鐵中加入0.04%的鎂。被告福特公司也開始制造自己的球墨鑄鐵,它與國際鎳業(yè)公司的唯一區(qū)別是它只包含0.02%的鎂。最后,法院判決福特公司侵犯了國際鎳業(yè)公司的專利權(quán)。 10.2.2反等同原則 由于“阻塞專利”的存在,改進發(fā)明的專利權(quán)人也許就不能在使用自己的專利的同時又不侵犯原始專利的權(quán)益,但同樣的,原始專利權(quán)人也不可能使用該改進發(fā)明而不侵犯改進發(fā)明人的專利權(quán)。

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