專利技術創(chuàng)新

內(nèi)容概要

《專利技術創(chuàng)新:法與經(jīng)濟學分析》內(nèi)容簡介：專利技術的創(chuàng)新不僅是技術問題，也是經(jīng)濟問題和法律問題?！秾＠夹g創(chuàng)新：法與經(jīng)濟學分析》從“技術-經(jīng)濟-法律”一體化分析框架（TEL框架）入手，建立了專利技術創(chuàng)新過程分析的三維理論模型（TMI模型）；研究了專利數(shù)據(jù)測度技術創(chuàng)新的理論、方法和工具；構建了基于專利技術創(chuàng)新的技術標準競爭力三維分析模型（TMR模型）；探討了基于專利制度約束下的企業(yè)自主創(chuàng)新模式及模式的選擇機理；實證研究了我國鋼鐵企業(yè)的技術創(chuàng)新能力及自主創(chuàng)新模式選擇。 
《專利技術創(chuàng)新:法與經(jīng)濟學分析》注重理論研究的系統(tǒng)性和實踐操作的方法論，可供從事專利及技術創(chuàng)新管理與研究的企業(yè)家、學者和管理部門的人員閱讀；也可作為高等學校技術經(jīng)濟、工商管理和知識產(chǎn)權法等專業(yè)的研究生的課程教學用書。

書籍目錄

前言 第一篇專利技術創(chuàng)新分析的理論基礎 第1章技術創(chuàng)新溢出效應 1.1技術創(chuàng)新溢出效應概述 1.2技術創(chuàng)新溢出效應對技術創(chuàng)新的影響 1.3技術創(chuàng)新溢出的乘數(shù)效應與加速效應 第2章技術創(chuàng)新的專利制度安排 2.1創(chuàng)新的激勵與專利制度的引入 2.2專利產(chǎn)權的界定 2.3專利產(chǎn)權的制度安排 2.4專利制度與技術創(chuàng)新 第3章專利產(chǎn)權的權能結構與創(chuàng)新功能 3.1專利產(chǎn)權的權能結構 3.2專利產(chǎn)權的屬性分析 3.3專利產(chǎn)權的創(chuàng)新功能 第二篇專利技術創(chuàng)新分析的方法 第4章專利技術創(chuàng)新的技術分析 4.1專利技術的核心內(nèi)涵 4.2專利權利要求的技術要素分析 4.3專利技術的層次與創(chuàng)新分類 4.4專利創(chuàng)新技術的周期變化 第5章專利技術創(chuàng)新的經(jīng)濟學分析 5.1專利創(chuàng)新資產(chǎn) 5.2專利創(chuàng)新資產(chǎn)組合論 5.3專利產(chǎn)權保護與創(chuàng)新市場收益 第6章專利技術創(chuàng)新的法學分析 6.1專利產(chǎn)權關系的法律界定 6.2專利產(chǎn)權的壟斷有限性 6.3專利權人的法定義務 第7章專利技術創(chuàng)新的“技術－經(jīng)濟－法律”一體化分析 7.1 法與經(jīng)濟學引入專利技術創(chuàng)新分析 7.2技術創(chuàng)新過程分析理論 7.3專利技術創(chuàng)新過程的TMI三維理論 7.4專利技術創(chuàng)新TMI三維表達 第三篇基于專利產(chǎn)權約束的技術創(chuàng)新行為分析 第8章專利法約束下的創(chuàng)新模仿與競爭行為模型分析 8.1率先創(chuàng)新、模仿與專利產(chǎn)權保護 8.2專利法約束下的創(chuàng)新者與模仿者的競爭模型 8.3專利產(chǎn)權下的許可模仿行為模型分析 第9章競爭性獨立專利產(chǎn)權開發(fā)行為模型分析 9.1專利產(chǎn)權約束下獨立產(chǎn)權創(chuàng)新動態(tài)競爭模型 9.2最優(yōu)專利期限 9.3專利范圍 9.4最優(yōu)專利政策結論 第10章從屬與交叉專利產(chǎn)權的許可模型分析 10.1技術創(chuàng)新的積累效應及其激勵 10.2技術創(chuàng)新積累激勵的原則與法則 10.3從屬與交叉產(chǎn)權創(chuàng)新激勵的經(jīng)濟學分析模型 第11章侵犯專利產(chǎn)權行為的法與經(jīng)濟學分析 11.1專利侵權行為法與經(jīng)濟學分析理論 11.2專利侵權行為數(shù)理分析模型 11.3專利侵權行為處罰分析 11.4美國152件專利侵權案處罰的實證分析 第四篇專利數(shù)據(jù)測度技術創(chuàng)新的理論、方法和工具 第12章專利數(shù)據(jù)測度技術創(chuàng)新的理論 12.1專利數(shù)據(jù)測度技術創(chuàng)新的依據(jù) 12.2專利數(shù)據(jù)測度技術創(chuàng)新的作用 12.3專利數(shù)據(jù)測度技術創(chuàng)新的特點 12.4專利數(shù)據(jù)測度的質量 第13章專利數(shù)據(jù)測度技術創(chuàng)新的方法 13.1專利數(shù)據(jù)測度方法的分類 13.2定性分析方法 13.3定量分析方法 13.4擬定量分析方法 13.5圖表分析方法 13.6其他方法 第14章專利數(shù)據(jù)測度技術創(chuàng)新的工具 14.1專利數(shù)據(jù)指標體系 14.2專利數(shù)據(jù)指標結構 14.3專利數(shù)據(jù)指標庫 第15章專利數(shù)據(jù)測度技術創(chuàng)新的實證分析 15.1專利數(shù)據(jù)測度技術能力 15.2專利數(shù)據(jù)測度技術創(chuàng)新能力 15.3專利數(shù)據(jù)測度技術創(chuàng)新戰(zhàn)略 第五篇專利技術標準化與技術標準專利化發(fā)展 第16章專利技術標準化競爭與規(guī)制分析 16.1國際技術標準的發(fā)展與競爭 16.2技術創(chuàng)新下的技術標準理論研究演繹 第17章“技術－市場－規(guī)制”三維分析模型 17.1創(chuàng)新下的技術標準形成機理 17.2技術標準的技術基礎構建——T維要素 17.3技術標準的市場基礎構建——M維要素 17.4技術標準的規(guī)制基礎構建——R維要素 第18章技術標準競爭力分析與評價方法 18.1技術標準競爭力構成要素分析 18.2技術標準競爭力的評價方法 18.3技術標準競爭力評價指標體系 18.4實證分析3G標準競爭力 第19章技術標準競爭博弈模型 19.1模型假設 19.2博弈分析 19.3分析結論 第六篇基于專利產(chǎn)權約束的自主創(chuàng)新模式 第20章自主創(chuàng)新及其基本模式 20.1自主創(chuàng)新及其模式的界定 20.2專利產(chǎn)權約束的自主創(chuàng)新基本模式 第21章專利數(shù)據(jù)測度企業(yè)自主創(chuàng)新基本模式的檢驗 21.1測度指標及數(shù)據(jù)來源 21.2模式數(shù)據(jù)來源與方法 21.3模式測度的檢驗 21.4模型檢驗結論 21.5典型案例調查分析 第22章專利產(chǎn)權約束的自主創(chuàng)新模式選擇 22.1專利技術創(chuàng)新能力的強度與匹配 22.2技術創(chuàng)新能力強度與自主創(chuàng)新模式分析 22.3模式選擇機理研究 22.4自主創(chuàng)新模式選擇的實證分析 參考文獻

章節(jié)摘錄

版權頁：   插圖：   它們的產(chǎn)權關系為從屬或交叉產(chǎn)權關系。第一個企業(yè)沒有第二個企業(yè)的許可不能應用其改進（或組合）專利，但是，第二個企業(yè)如果沒有第一個企業(yè)的許可也不能應用改進（或組合）專利（繞不開支配專利）。因此，一項支配專利對于從動專利的持有人具有“阻塞”作用。對于“阻塞專利”現(xiàn)象，有以下兩個判定原則。 10.2.1等同原則 等同原則（doctrine of equivalents）是指專利權的保護范圍不僅包括權利要求記載的必要技術特征，而且包括與該必要技術特征實質上等同的技術特征。盡管被控侵權物不具備專利權要求的全部特征，但是其不具備的專利特征在被控侵權物上面能夠找到該特征的等同替換物，此種情況下，被控侵權物判定為侵權。等同原則為創(chuàng)新積累的侵權判斷提供了基本原則。我國《最高院人民法院關于審理專利糾紛案件適用法律問題的若干規(guī)定》第17條的規(guī)定就指出，“等同特征是指與所記載的技術特征以基本相同的手段，實現(xiàn)基本相同的功能，達到基本相同的效果，并且本領域的普通技術人員無需經(jīng)過創(chuàng)造性勞動就能夠聯(lián)想到的特征”。因此，判斷侵權物中是否具有與授權專利相等同的特征，必須從手段、功能、效果以及本領域技術人員是否顯而易見等四個方面分別進行比較，如果兩者的手段、功能、效果基本相同，而且對于本領域技術人員來說也屬于顯而易見的話，則可以認定為等同特征，否則就不宜認定為等同。例如，如果一項專利發(fā)明與一項被指控侵權的發(fā)明之間只存在很小的差別，就構成侵權指控。 美國國際鎳業(yè)公司（International Nickel Co.）在球墨鑄鐵上有一項專利，涉及在熔鐵中加入0.04%的鎂。被告福特公司也開始制造自己的球墨鑄鐵，它與國際鎳業(yè)公司的唯一區(qū)別是它只包含0.02%的鎂。最后，法院判決福特公司侵犯了國際鎳業(yè)公司的專利權。 10.2.2反等同原則 由于“阻塞專利”的存在，改進發(fā)明的專利權人也許就不能在使用自己的專利的同時又不侵犯原始專利的權益，但同樣的，原始專利權人也不可能使用該改進發(fā)明而不侵犯改進發(fā)明人的專利權。

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