軟件缺陷模式與測(cè)試

內(nèi)容概要

基于缺陷模式的軟件測(cè)試是21世紀(jì)初發(fā)展起來的一種新型軟件測(cè)試技術(shù)，是高可信、大型及基礎(chǔ)軟件測(cè)試必備的方法之一，有強(qiáng)烈的工程需求，它以缺陷檢測(cè)效率高、缺陷定位準(zhǔn)確、自動(dòng)化程度高、易學(xué)易用、與其他軟件測(cè)試技術(shù)具有很好的互補(bǔ)性等特點(diǎn)，目前已逐步成為國際上主流的軟件測(cè)試技術(shù)?！盾浖毕菽Ｊ脚c測(cè)試》全面論述了基于缺陷模式軟件測(cè)試的一般方法，包括軟件缺陷的綜合論述、面向C/C++/Java的軟件缺陷模式的分類、各種軟件缺陷模式的定義、基于缺陷模式的軟件測(cè)試原理、提高測(cè)試精度的區(qū)間運(yùn)算技術(shù)、敏感路徑分析技術(shù)、函數(shù)間分析技術(shù)等。
《軟件缺陷模式與測(cè)試》是軟件測(cè)試領(lǐng)域的專業(yè)書籍，可供從事軟件測(cè)試技術(shù)工作的研究人員學(xué)習(xí)和參考。本書主要由北京郵電大學(xué)宮云戰(zhàn)、楊朝紅、金大海、肖慶和王雅文撰寫。

書籍目錄

前言
第1章  軟件缺陷與缺陷模式
  1.1  軟件缺陷的概念
  1.2  軟件缺陷的來源
  1.3  軟件缺陷的嚴(yán)重性和優(yōu)先級(jí)
  1.4  軟件缺陷的發(fā)現(xiàn)、排除及效率
  1.5  軟件缺陷數(shù)據(jù)庫
  1.6  軟件缺陷管理
  1.7  軟件缺陷預(yù)測(cè)
    1.7.1  撒播模型
    1.7.2  基于軟件規(guī)模和復(fù)雜性的測(cè)量模型
    1.7.3  基于白盒測(cè)試的覆蓋率進(jìn)行預(yù)測(cè)
    1.7.4  基于軟件研制的質(zhì)量控制過程進(jìn)行預(yù)測(cè)
    1.7.5  基于測(cè)試時(shí)錯(cuò)誤發(fā)生的時(shí)刻進(jìn)行預(yù)測(cè)
  1.8  軟件缺陷預(yù)防
    1.8.1  了解缺陷
    1.8.2  缺陷查找技術(shù)
  1.9  軟件缺陷的對(duì)數(shù)正態(tài)分布
  1.10  軟件代碼缺陷模式
  1.11  C缺陷
  1.12  基于缺陷模式的軟件測(cè)試的意義
第2章  故障模式
  2.1  Java故障模式
    2.1.1  空指針使用
    2.1.2  數(shù)組越界
    2.1.3  資源泄漏
    2.1.4  非法計(jì)算
    2.1.5  死循環(huán)
    2.1.6  并發(fā)
  2.2  C/C++故障模式
    2.2.1  內(nèi)存泄漏
    2.2.2  數(shù)組越界
    2.2.3  使用未初始化變量
    2.2.4  空指針使用
    2.2.5  非法計(jì)算
    2.2.6  死循環(huán)
    2.2.7  懸掛指針
第3章  安全漏洞模式
  3.1  Java安全漏洞模式
    3.1.1  未驗(yàn)證的輸入
    3.1.2  濫用API
    3.1.3  安全特性
    3.1.4  競(jìng)爭(zhēng)條件
    3.1.5  不合理的異常處理
    3.1.6  低質(zhì)量代碼
    3.1.7  封裝不當(dāng)
  3.2  C/C++安全漏洞模式
    3.2.1  緩沖區(qū)溢出
    3.2.2  被污染的數(shù)據(jù)
    3.2.3  競(jìng)爭(zhēng)條件
    3.2.4  風(fēng)險(xiǎn)操作
第4章  疑問及規(guī)則模式
  4.1  疑問模式
    4.1.1  性能相關(guān)
    4.1.2  冗余代碼
    4.1.3  不良代碼
  4.2  規(guī)則模式
    4.2.1  聲明定義類
    4.2.2  版面書寫類
    4.2.3  分支控制類
    4.2.4  指針使用類
    4.2.5  跳轉(zhuǎn)控制類
    4.2.6  運(yùn)算處理類
    4.2.7  過程調(diào)用類
    4.2.8  語句使用類
    4.2.9  調(diào)用返回類
    4.2.10  循環(huán)控制類
    4.2.11  類型轉(zhuǎn)換類
    4.2.12  初始化類
    4.2.13  比較判斷類
    4.2.14  名稱、符號(hào)與變量使用類
第5章  基于缺陷模式的測(cè)試技術(shù)
  5.1  基于缺陷模式的測(cè)試技術(shù)概述
    5.1.1  發(fā)展概況
    5.1.2  基于缺陷模式的軟件測(cè)試指標(biāo)分析
  5.2  缺陷測(cè)試系統(tǒng)
    5.2.1  缺陷測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)
    5.2.2  缺陷測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn)
  5.3  缺陷測(cè)試系統(tǒng)的缺陷模式描述
  5.4  缺陷測(cè)試系統(tǒng)的缺陷模式檢測(cè)
    5.4.1  抽象語法樹分析
    5.4.2  控制流分析
    5.4.3  符號(hào)表構(gòu)建
    5.4.4  數(shù)據(jù)流分析
  5.5  使用缺陷測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行缺陷檢測(cè)
第6章  區(qū)間運(yùn)算技術(shù)
  6.1  經(jīng)典的區(qū)間代數(shù)
    6.1.1  區(qū)間和區(qū)間運(yùn)算
    6.1.2  區(qū)間向量和區(qū)間函數(shù)
  6.2  擴(kuò)展的區(qū)間運(yùn)算
    6.2.1  數(shù)值型區(qū)間集代數(shù)
    6.2.2  非數(shù)值型區(qū)間代數(shù)
    6.2.3  條件表達(dá)式中的區(qū)間計(jì)算
    6.2.4  基于區(qū)間運(yùn)算的變量值范圍分析
  6.3  變量的相關(guān)性分析
    6.3.1  變量間關(guān)聯(lián)關(guān)系分類
    6.3.2  符號(hào)分析
  6.4  區(qū)間運(yùn)算在程序分析中的應(yīng)用
    6.4.1  檢測(cè)矛盾節(jié)點(diǎn)
    6.4.2  檢測(cè)不可達(dá)路徑
    6.4.3  提高缺陷檢測(cè)效率
第7章  路徑敏感分析技術(shù)
  7.1  數(shù)據(jù)流分析
    7.1.1  控制流圖
    7.1.2  數(shù)據(jù)流分析概述
    7.1.3  四種典型的數(shù)據(jù)流問題
  7.2  數(shù)據(jù)流分析的理論基礎(chǔ)
    7.2.1  格理論
    7.2.2  不動(dòng)點(diǎn)理論
    7.2.3  數(shù)據(jù)流分析的最大和最小不動(dòng)點(diǎn)解
    7.2.4  數(shù)據(jù)流解的含義
  7.3  基于數(shù)據(jù)流的缺陷檢測(cè)
    7.3.1  缺陷模式狀態(tài)機(jī)實(shí)例
    7.3.2  基于傳統(tǒng)數(shù)據(jù)流的缺陷檢測(cè)
  7.4  路徑敏感的缺陷檢測(cè)技術(shù)
    7.4.1  靜態(tài)缺陷檢測(cè)中的誤報(bào)
    7.4.2  路徑信息抽象
    7.4.3  路徑敏感的缺陷檢測(cè)算法
第8章  函數(shù)間分析技術(shù)
  8.1  問題描述
    8.1.1  函數(shù)約束對(duì)測(cè)試的影響
    8.1.2  函數(shù)副作用對(duì)測(cè)試的影響
    8.1.3  當(dāng)前研究狀況
  8.2  函數(shù)約束信息
    8.2.1  約束信息描述
    8.2.2  約束信息在靜態(tài)測(cè)試中的應(yīng)用
    8.2.3  實(shí)驗(yàn)環(huán)境及結(jié)果
  8.3  函數(shù)后置信息
    8.3.1  后置信息描述
    8.3.2  生成算法
    8.3.3  應(yīng)用實(shí)例
    8.3.4  實(shí)驗(yàn)結(jié)果
參考文獻(xiàn)

章節(jié)摘錄

版權(quán)頁：插圖：缺陷的嚴(yán)重性和優(yōu)先級(jí)是含義不同但相互聯(lián)系密切的兩個(gè)概念。它們都從不同的側(cè)面描述了軟件缺陷對(duì)軟件質(zhì)量和最終用戶的影響程度和處理方式。一般地，嚴(yán)重性程度高的軟件缺陷具有較高的優(yōu)先級(jí)。嚴(yán)重性高說明缺陷對(duì)軟件造成的質(zhì)量危害性大，需要優(yōu)先處理；而嚴(yán)重性低的缺陷可能只是軟件不太盡善盡美，可以稍后處理。但是，嚴(yán)重性和優(yōu)先級(jí)并不總是一一對(duì)應(yīng)的。有時(shí)嚴(yán)重性高的軟件缺陷優(yōu)先級(jí)不一定高，甚至不需要處理，而一些嚴(yán)重性低的缺陷卻需要及時(shí)處理，具有較高的優(yōu)先級(jí)。一方面，修正軟件缺陷不是一件純技術(shù)問題，有時(shí)需要綜合考慮市場(chǎng)發(fā)布和質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)等因素。例如，若某個(gè)嚴(yán)重的軟件缺陷只在非常極端的條件下產(chǎn)生，則沒有必要馬上解決。另外，若修正一個(gè)軟件缺陷，則需要重新修改軟件的整體架構(gòu)，這可能會(huì)產(chǎn)生更多潛在的缺陷，而且軟件由于市場(chǎng)的壓力必須盡快發(fā)布，此時(shí)即使缺陷的嚴(yán)重性很高，是否需要修正，也需要全盤考慮。另一方面，如果軟件缺陷的嚴(yán)重性很低，如界面單詞拼寫錯(cuò)誤，此時(shí)可以稍后修正。但是如果是軟件名稱或公司名稱的拼寫錯(cuò)誤，則必須盡快修正，因?yàn)檫@關(guān)系到軟件和公司的市場(chǎng)形象。對(duì)于比較規(guī)范的軟件測(cè)試，一般使用軟件缺陷管理數(shù)據(jù)庫進(jìn)行缺陷報(bào)告和處理，這需要在測(cè)試項(xiàng)目開始前對(duì)全體測(cè)試人員和開發(fā)人員進(jìn)行培訓(xùn)，對(duì)缺陷嚴(yán)重性和優(yōu)先級(jí)的表示和劃分方法進(jìn)行統(tǒng)一規(guī)定和遵守。

編輯推薦

《軟件缺陷模式與測(cè)試》由科學(xué)出版社出版。

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