出版時(shí)間:2010-8 出版社:科學(xué)出版社 作者:唐大偉 王照亮 頁數(shù):345
前言
本書是一部系統(tǒng)介紹微納米材料和結(jié)構(gòu)熱物理特性表征的著作。書中詳細(xì)論述了諧波法、激光抽運(yùn)-探測技術(shù)和掃描熱顯微技術(shù)等微空間/微時(shí)間尺度實(shí)驗(yàn)測量技術(shù)的系統(tǒng)構(gòu)建、技術(shù)難點(diǎn)和技巧以及在納米尺度材料(納米薄膜、碳納米管、納米管陣列、納米流體等)熱物性實(shí)驗(yàn)表征中的應(yīng)用,并對(duì)碳納米管的熱導(dǎo)率進(jìn)行了詳細(xì)的理論表征。這些對(duì)于微/納米尺度傳熱學(xué)的實(shí)驗(yàn)研究具有較實(shí)用的參考價(jià)值。本書主要側(cè)重在作者課題組研究比較多的3w技術(shù)、激光光熱反射掃描熱探測技術(shù)、閃光法和超高時(shí)空分辨的皮秒/飛秒激光抽運(yùn)-探測技術(shù)。全書結(jié)構(gòu)安排如下:第1章為緒論。第2章重點(diǎn)介紹3w法測量原理、實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)構(gòu)建以及在單層納米薄膜、單根碳纖維、單根碳納米管、碳納米管陣列等的熱物性實(shí)驗(yàn)表征方面的應(yīng)用。第3章首先介紹3w法、光熱反射法、拓展的周期交流量熱法在多層薄膜熱導(dǎo)率和熱擴(kuò)散率重構(gòu)方面的應(yīng)用,然后介紹掃描熱顯微鏡系統(tǒng)在薄膜面向熱導(dǎo)率分布研究中的應(yīng)用,最后介紹基于光熱反射技術(shù)的掃描熱顯微鏡在探測表面下埋藏?zé)峤Y(jié)構(gòu)信息方面的應(yīng)用。第4章介紹皮秒/飛秒激光抽運(yùn)-探測技術(shù),重點(diǎn)介紹系統(tǒng)搭建、實(shí)驗(yàn)關(guān)鍵點(diǎn)以及在超快激光加熱下金屬薄膜的熱波傳遞規(guī)律研究中的應(yīng)用。第5章首先介紹聲子輸運(yùn)理論、分子動(dòng)力學(xué)模擬等方法在碳納米管熱導(dǎo)率預(yù)測中的應(yīng)用,然后采用非傅里葉導(dǎo)熱模型對(duì)超快激光加熱下金屬薄膜內(nèi)部的導(dǎo)熱過程進(jìn)行數(shù)值模擬。第6章介紹3(O線法和短線法進(jìn)行納米流體熱導(dǎo)率的表征技術(shù)。本書第1章及第2、第3章部分內(nèi)容由中國科學(xué)院工程熱物理研究所唐大偉撰寫,其他均由中國石油大學(xué)(華東)王照亮撰寫,全書由唐大偉統(tǒng)一審核。
內(nèi)容概要
《微納米材料和結(jié)構(gòu)熱物理特性表征》在微空間/時(shí)間尺度實(shí)驗(yàn)研究方面,系統(tǒng)介紹了3w法測量原理、實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)構(gòu)建和不同測量條件下3w加熱器在頻域內(nèi)的溫度波動(dòng)規(guī)律以及該方法在基體表面單層納米薄膜、單根碳纖維、單根碳納米管、碳納米管陣列以及納米流體等微觀尺度材料熱物性實(shí)驗(yàn)表征方面的應(yīng)用;詳細(xì)講述了3w法、光熱反射法、拓展的周期交流量熱法在多層薄膜熱導(dǎo)率、熱擴(kuò)散率重構(gòu)方面的應(yīng)用,并且詳細(xì)介紹了基于掃描探針的各種掃描熱顯微鏡系統(tǒng)在薄膜的面向熱導(dǎo)率分布研究中的應(yīng)用,基于光熱反射技術(shù)的掃描熱顯微鏡在探測表面下微/納米尺度埋藏?zé)峤Y(jié)構(gòu)信息方面的應(yīng)用以及微時(shí)間尺度下超高時(shí)空分辨的皮秒/飛秒激光抽運(yùn)-探測技術(shù)。在理論研究方面,重點(diǎn)介紹了聲子輸運(yùn)理論、分子動(dòng)力學(xué)模擬等方法在碳納米管熱導(dǎo)率預(yù)測中的應(yīng)用。并且采用不同的非傅里葉導(dǎo)熱模型對(duì)超快激光加熱下金屬薄膜內(nèi)部的導(dǎo)熱過程進(jìn)行了數(shù)值模擬?!段⒓{米材料和結(jié)構(gòu)熱物理特性表征》既可作為材料科學(xué)、能源、熱物理專業(yè)的高年級(jí)大學(xué)生和研究生的教材,也可作為相關(guān)科研人員的參考書。
書籍目錄
前言第1章 緒論1.1 微空間尺度:微納米材料、結(jié)構(gòu)熱物性表征1.2 微時(shí)間尺度:微納米材料熱輸運(yùn)機(jī)理表征第2章 微空間尺度材料熱物性的實(shí)驗(yàn)表征2.1 3w諧波探測技術(shù)2.1.1 3w法背景2.1.2 3w法原理2.1.3 3w法實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)2.1.4 3w法傳熱模型分析2.1.5 應(yīng)用2.1.6 3w法發(fā)展趨勢2.2 光熱探測技術(shù)2.2.1 閃光法2.2.2 光熱反射法2.2.3 光熱透射率法2.3 光聲法2.4 其他方法2.4.1 熱導(dǎo)法測量納米管熱物性2.4.2 短線法參考文獻(xiàn)第3章 微空間尺度結(jié)構(gòu)熱物性實(shí)驗(yàn)表征3.1 多層微納米結(jié)構(gòu)垂直面方向熱物性重構(gòu)3.1.1 3w法測量多層薄膜熱物理性質(zhì)3.1.2 周期加熱法測量多層薄膜熱物性3.1.3 周期交流量熱法測量多層薄膜的熱擴(kuò)散率3.2 微納米結(jié)構(gòu)面方向熱物性重構(gòu)3.2.1 基于掃描探針的掃描熱顯微鏡3.2.2 基于光熱掃描的熱成像3.2.3 光熱掃描的數(shù)值模擬分析3.2.4 結(jié)淪參考文獻(xiàn)第4章 微時(shí)間尺度熱輸運(yùn)過程的實(shí)驗(yàn)表征4.1 皮秒激光抽運(yùn)-探測熱反射系統(tǒng)4.1.1 皮秒激光抽運(yùn)-探測熱反射測試系統(tǒng)描述4.1.2 基體表面納米薄膜熱擴(kuò)散率測量結(jié)果4.2 飛秒激光抽運(yùn)-探測熱反射技術(shù)4.2.1 實(shí)驗(yàn)原理4.2.2 飛秒激光抽運(yùn)-探測實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)建立4.2.3 實(shí)驗(yàn)過程中的關(guān)鍵問題4.2.4 Au膜熱輸運(yùn)過程實(shí)驗(yàn)測量4.3 飛秒時(shí)間/納米空間分辨抽運(yùn)-探測系統(tǒng)參考文獻(xiàn)第5章 微/納米尺度熱輸運(yùn)特性的理論表征5.1 概述5.2 聲子輸運(yùn)理論預(yù)測碳納米管熱導(dǎo)率尺度和溫度效應(yīng)5.2.1 求解BP方程預(yù)測單壁碳納米管熱導(dǎo)率5.2.2 波矢模型預(yù)測單壁碳納米管熱物性5.2.3 基于連續(xù)模型預(yù)測多壁碳納米管熱物性5.2.4 基于原子模型預(yù)測多壁碳納米管熱物性5.3 分子動(dòng)力學(xué)模擬單壁碳納米管熱物性5.3.1 研究現(xiàn)狀5.3.2 理論基礎(chǔ)5.3.3 數(shù)值計(jì)算方法與程序設(shè)計(jì)5.3.4 分子動(dòng)力學(xué)模擬結(jié)果分析5.3.5 單壁碳納米管熱導(dǎo)率的量子修正5.3.6 碳納米管-硅晶體間界面熱導(dǎo)的分子動(dòng)力學(xué)模擬5.4 微時(shí)間尺度超常熱輸運(yùn)過程5.4.1 激光加熱金屬問題與理論模型5.4.2 不同導(dǎo)熱行為的數(shù)值模擬及分析參考文獻(xiàn)第6章 納米流體熱物理參數(shù)實(shí)驗(yàn)和理論表征6.1 3w法測量納米流體熱物性6.1.1 測量原理6.1.2 實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)及條件分析6.1.3 3w方法測量液體熱參數(shù)的影響因素分析6.1.4 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析6.2 短線法測量納米流體熱物性6.2.1 測量原理6.2.2 實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)與實(shí)驗(yàn)結(jié)果6.3 納米流體熱輸運(yùn)機(jī)理參考文獻(xiàn)附錄 平衡分子動(dòng)力學(xué)模擬單壁碳納米管熱導(dǎo)率程序代碼
章節(jié)摘錄
插圖:在納米技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域,微/納米尺度材料、器件等熱參數(shù)的測量是目前面臨的一個(gè)重要挑戰(zhàn)。迄今為止,由于對(duì)微納米材料熱物理性質(zhì)數(shù)據(jù)的需求,人們發(fā)展了多種測試方法。測試熱導(dǎo)率和熱擴(kuò)散率的方法主要有接觸式和非接觸式測量法,如Parker等的閃光法、Hatta等的交流量熱法、光聲法、Kading等的光熱反射法、光熱偏轉(zhuǎn)法等。上述方法一般不能直接測試熱導(dǎo)率而是直接測量熱擴(kuò)散率,然后導(dǎo)出熱導(dǎo)率,測量結(jié)果的準(zhǔn)確度與熱容等的不確定度有關(guān)。此外,上述方法對(duì)于基體表面薄膜熱參數(shù)的測量限制比較大,對(duì)碳纖維和碳納米管的熱性能表征無能為力。
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