出版時(shí)間:2009-7 出版社:科學(xué)出版社 作者:徐德衍 等編著 頁(yè)數(shù):302
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前言
光學(xué)元件的需求與發(fā)展從未像今天如此的豐富多彩!從未像今天如此的數(shù)量繁多!與之相適應(yīng)的光學(xué)元件的現(xiàn)行檢測(cè)方法、技術(shù)和儀器,以及性能參數(shù)也從未像今天如此的花樣翻新、深刻全面! 本書內(nèi)容選編是基于在校學(xué)生和工廠員工已有一定的光學(xué)檢測(cè)基礎(chǔ)和實(shí)踐的前提下進(jìn)行的,即相當(dāng)于為已學(xué)習(xí)完中級(jí)“光學(xué)檢測(cè)”的讀者在其廣度上和深度上再提高而編寫。同時(shí),也兼顧了社會(huì)上從事光學(xué)制造與檢測(cè)技術(shù)人員需要進(jìn)修和提高而增添了若干最新的相關(guān)光學(xué)檢測(cè)內(nèi)容。 全書共分10章。第1章的目的是引領(lǐng)讀者站在較高、較寬的視野上,綜觀現(xiàn)代光學(xué)元件發(fā)展的特點(diǎn),在對(duì)光學(xué)元件檢測(cè)的一些全新的、特殊的、國(guó)際化的要求的高度上來(lái)確立自己永無(wú)止境的進(jìn)取和追求目標(biāo)。第2章和第3章是在較高層次上的光學(xué)檢測(cè)基礎(chǔ)的歸納與描述。計(jì)量基礎(chǔ)、誤差分析及檢測(cè)結(jié)果的數(shù)據(jù)處理的基本知識(shí)等是第2章的重點(diǎn);第3章除了光學(xué)材料的技術(shù)指標(biāo)必須清楚外,對(duì)光源、接收器及常用的光學(xué)檢測(cè)元部件與儀器應(yīng)有一個(gè)概括性的了解,還對(duì)光學(xué)檢測(cè)中常用的激光準(zhǔn)直技術(shù)等做了必要的介紹。第4至第7章重點(diǎn)對(duì)光學(xué)元件幾個(gè)主要的、棘手的、易混淆的幾何參數(shù)和性能參數(shù)進(jìn)行了詳細(xì)介紹。例如,當(dāng)前面形檢測(cè)常用的現(xiàn)代檢測(cè)技術(shù)與方法,即數(shù)字干涉儀測(cè)試結(jié)果的讀解與習(xí)慣參數(shù)的轉(zhuǎn)換;透鏡中心偏的定義、轉(zhuǎn)換和檢驗(yàn);光學(xué)表面缺陷與粗糙度的認(rèn)識(shí)及檢測(cè);光學(xué)平板、棱鏡角偏差、柱面的全息檢測(cè)及非球面,尤其小口徑非球面的現(xiàn)行檢測(cè)等內(nèi)容,均給予全面的、較新的闡述。第8章全面地介紹了光學(xué)元件和光學(xué)系統(tǒng)的質(zhì)量檢驗(yàn)和評(píng)定中常用的幾種檢測(cè)技術(shù)和方法,以及應(yīng)用中值得注意的問(wèn)題。這些是讀者向光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域廣度和深度進(jìn)修中必須掌握和應(yīng)用的基礎(chǔ)知識(shí)。第9章全面讀解了光學(xué)元件技術(shù)要求和檢測(cè)方法的最新國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(IS010110)。在國(guó)內(nèi)外光學(xué)工程技術(shù)與光學(xué)元件產(chǎn)品日益密切交往的今天,這對(duì)讀者的深化工作將是非常有益的——這也是相當(dāng)多從事光學(xué)職業(yè)的國(guó)內(nèi)同行渴求了解的。第10章制訂了8個(gè)實(shí)驗(yàn)實(shí)習(xí)課,對(duì)培養(yǎng)讀者獨(dú)立動(dòng)手、鞏固已學(xué)知識(shí)和編寫綜合技術(shù)報(bào)告的能力等方面是有益的。
內(nèi)容概要
本書重點(diǎn)介紹了光學(xué)元件檢測(cè)領(lǐng)域的近期進(jìn)展、方法、技術(shù)和需求。全書共10章,主要論述了現(xiàn)代光學(xué)的發(fā)展對(duì)光學(xué)元件檢測(cè)的需求;計(jì)量概念與誤差及精度的必要知識(shí);光學(xué)元件檢測(cè)基礎(chǔ);光學(xué)元件的參數(shù)檢測(cè)和性能檢測(cè)的現(xiàn)行技術(shù),側(cè)重對(duì)特殊元件、光學(xué)表面面形、表面缺陷及表面粗糙度等內(nèi)容的敘述;介紹了光學(xué)元件技術(shù)要求和檢測(cè)要求的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(ISO10110)的最新內(nèi)容和相關(guān)的輔助資料。本書附錄匯總了光學(xué)檢測(cè)中4個(gè)常用的資料及相關(guān)的參考書籍。 本書可供從事光學(xué)、光學(xué)工程(尤其光學(xué)制造技術(shù)與檢驗(yàn))的科技人員與工藝技術(shù)人員參考,也可供大專院校有關(guān)專業(yè)的師生閱讀。
書籍目錄
序前言第1章 概論光學(xué)元件的現(xiàn)代發(fā)展及其對(duì)光學(xué)檢測(cè)的需求 1.1 現(xiàn)代光學(xué)檢測(cè)的重要性 1.1.1 光學(xué)元件檢測(cè)的重要性 1.1.2 光學(xué)元件檢測(cè)儀器與技術(shù)現(xiàn)狀 1.2 現(xiàn)代光學(xué)元件制造發(fā)展的特點(diǎn) 1.2.1 以多功能、精密化為特點(diǎn)的大型化甚至巨型化光學(xué)工程和儀器牽引著現(xiàn)代光學(xué)制造業(yè)的發(fā)展 1.2.2 以大批量化、產(chǎn)業(yè)化為特征的小型和超小型化的光學(xué)元件及大型和超大型化的光學(xué)元件需求量猛增 1.2.3 以多樣化、高精度為特點(diǎn)的各種光學(xué)元件對(duì)光學(xué)制造與檢測(cè)提出了全新的要求 1.3 現(xiàn)代光學(xué)元件檢測(cè)技術(shù)的需求 1.3.1 大平面光學(xué)元件的檢測(cè) 1.3.2 大球面光學(xué)元件的檢測(cè) 1.3.3 小非球面鏡的檢測(cè) 1.3.4 柱面鏡元件的檢測(cè) 1.3.5 角錐棱鏡的檢測(cè) 1.3.6 批量生產(chǎn)的小光學(xué)元件的檢測(cè) 1.4 光學(xué)元件技術(shù)要求和檢驗(yàn)要求的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(ISO10110) 1.4.1 ISO10110的產(chǎn)生背景 1.4.2 基本內(nèi)容及簡(jiǎn)要說(shuō)明 1.4.3 學(xué)習(xí)ISO10110的重要性 參考文獻(xiàn)第2章 計(jì)量的基本概念與誤差理論知識(shí) 2.1 計(jì)量法律法規(guī)知識(shí) 2.1.1 計(jì)量法知識(shí) 2.1.2 國(guó)防計(jì)量監(jiān)督管理?xiàng)l例知識(shí) 2.1.3 法定計(jì)量單位簡(jiǎn)介 2.1.4 單位使用中的方法及規(guī)定 2.2 計(jì)量學(xué)的基本知識(shí) 2.2.1 測(cè)量與計(jì)量 2.2.2 計(jì)量器具 2.2.3 計(jì)量器具的誤差 2.2.4 測(cè)量方法 2.3 誤差理論基本知識(shí) 2.3.1 真值與誤差 2.3.2 誤差在測(cè)量值中的表現(xiàn)規(guī)律 2.3.3 隨機(jī)誤差的處理——算術(shù)平均值 2.3.4 系統(tǒng)誤差的處理——發(fā)現(xiàn)與減小 2.3.5 粗大誤差的處理——判別與剔除 2.3.6 測(cè)量列數(shù)據(jù)處理實(shí)例 2.4 精度、誤差及測(cè)量的可靠性 2.4.1 測(cè)量精度概念的解析 2.4.2 測(cè)量可靠性的認(rèn)識(shí) 2.4.3 測(cè)量不確定度 2.5 數(shù)據(jù)處理 2.5.1 有效數(shù)字 2.5.2 有效數(shù)字的數(shù)值計(jì)算規(guī)則 2.5.3 誤差合成的方和根法 2.5.4 微小誤差的取舍 2.5.5 不同測(cè)量之間的數(shù)據(jù)比較——En評(píng)定 參考文獻(xiàn)第3章 光學(xué)元件檢測(cè)基礎(chǔ) 3.1 光源與接收器 3.1.1 光學(xué)檢測(cè)中常用的光源 3.1.2 光接收器 3.2 國(guó)內(nèi)外光學(xué)材料主要性能與指標(biāo) 3.2.1 應(yīng)力雙折射 3.2.2 氣泡與雜質(zhì) 3.2.3 非均勻性與條紋 3.2.4 材料非均勻性、波差及元件厚度關(guān)系的列線圖 3.3 光學(xué)檢測(cè)中典型的部件與儀器 3.3.1 平行光管 ……第4章 光學(xué)元件面形偏差的檢測(cè)第5章 光學(xué)透鏡半徑、厚度及中心偏的測(cè)量第6章 平板及棱鏡角偏差的測(cè)量第7章 光學(xué)元件表面缺陷與表面粗糙度的檢測(cè)第8章 光學(xué)系統(tǒng)性能評(píng)價(jià)與光學(xué)測(cè)試第9章 光學(xué)元件國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(ISO10110)的基本內(nèi)容第10章 實(shí)驗(yàn)實(shí)習(xí)技術(shù)附錄
章節(jié)摘錄
插圖:第3章 光學(xué)元件檢測(cè)基礎(chǔ)本章主要敘述光學(xué)元件檢驗(yàn)中可能涉及的一些基本技術(shù),如檢驗(yàn)中所用的光源、光接收器及有關(guān)光學(xué)元件材料性能、指標(biāo),也將對(duì)檢驗(yàn)中常用的部件與儀器及基本技術(shù)做相應(yīng)的介紹。3.1 光源與接收器3.1.1 光學(xué)檢測(cè)中常用的光源光源在光學(xué)檢測(cè)中是很重要的,它常常是光學(xué)檢測(cè)儀器的重要組成部分之一。對(duì)光源的不同選擇往往會(huì)直接影響到測(cè)量結(jié)果。在光學(xué)檢測(cè)中,經(jīng)常用到的有三種類型光源:白熾燈光源、光譜燈光源和氦氖氣體激光光源?,F(xiàn)在,LD(激光二極管)和LED(發(fā)光二極管)的應(yīng)用也多了起來(lái)。1.白熾燈光源白熾燈是依靠熱輻射原理發(fā)光的光源。鎢絲白熾燈體積都比較小,結(jié)構(gòu)緊湊,儀器中所用的燈泡其電源電壓通常為6~8V,特殊的也用12V、24V或35V,主要在可見(jiàn)光范圍內(nèi)使用。在平行光管、測(cè)角儀、刀口儀等領(lǐng)域仍被廣泛使用。在鎢絲白熾燈內(nèi)充一定的鹵素,稱做鹵素?zé)?,其發(fā)光效率更高些。2.光譜燈光源在光學(xué)檢測(cè)中,經(jīng)常要用到光譜燈光源。常用的有低壓鈉光燈、低壓汞燈等利用氣體放電原理的原子光譜燈。
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