系統(tǒng)可靠性分析與設(shè)計

內(nèi)容概要

本書全面、系統(tǒng)地介紹了系統(tǒng)可靠性分析與設(shè)計。書后附有元器件降額標(biāo)準(zhǔn)、系統(tǒng)可靠性設(shè)計準(zhǔn)則和武器裝備可靠性設(shè)計準(zhǔn)則三個附錄。每章前有內(nèi)容提要，每章后有本章小結(jié)和習(xí)題及思考題，書后有參考文獻(xiàn)和附錄，可供讀者復(fù)習(xí)鞏固和深入研究。本書所介紹的理論、方法具有一定的普遍性、先進(jìn)性和適用性，所述實例具有一定的典型性、代表性和實用性。本書內(nèi)容豐富，簡明易懂，注重實用，詳略得當(dāng)，具有一定的理論水平和很高的實用價值。    本書可作為計算機(jī)工程、信息工程、通信工程、電子工程、自動控制、系統(tǒng)安全和保護(hù)等專業(yè)的科技人員的參考書，也可供航空、電子、航天、核控制及石油勘探系統(tǒng)研制等領(lǐng)域的工程技術(shù)人員參考。同時，還可作為大專院校相關(guān)專業(yè)的本科生和研究生教材或參考書。

書籍目錄

第一章 緒論  1.1 系統(tǒng)可靠性分析與設(shè)計的意義  1.2 系統(tǒng)可靠性的基本概念  1.3 系統(tǒng)的壽命分布  1.4 系統(tǒng)可靠性模型  1.5 可維修系統(tǒng)的馬爾可夫模型  1.6 提高系統(tǒng)可靠性的途徑  1.7 系統(tǒng)可靠性分析與設(shè)計的內(nèi)容  本章小結(jié)  習(xí)題與思考題一第二章 元器件的可靠性及其選擇  2.1 元器件的失效特征  2.2 元器件的失效機(jī)理  2.3 元器件的選擇  2.4 元器件的篩選  2.5 電阻器的性能及其選擇  2.6 電容器的性能及其選擇  2.7 繼電器的選擇  本章小結(jié)  習(xí)題與思考題二第三章 半導(dǎo)體元器件的性能及其選擇  3.1 半導(dǎo)體元器件的性能及選擇要求  3.2 二極管的性能及其選擇  3.3 晶體管的性能及其選擇  3.4 場效應(yīng)管的性能及其選擇  3.5 數(shù)字集成電路的性能及其選擇  3.6 模擬集成電路的類型及其選擇  3.7 微處理器、存儲器的選擇  3.8 外圍接口電路的選擇  本章小結(jié)  習(xí)題與思考題三第四章 系統(tǒng)失效分析  4.1 系統(tǒng)失效分析的概念  4.2 失效分析的意義、思路與方法  4.3 失效分析的一般過程  4.4 失效分析儀器設(shè)備  4.5 故障模式影響分析  4.6 故障模式、影響及危害性分析  4.7 故障樹分析  4.8 事件樹分析  本章小結(jié)  習(xí)題與思考題四第五章 系統(tǒng)可靠性預(yù)計與指標(biāo)的分配  5.1 系統(tǒng)可靠性要求的確定  5.2 系統(tǒng)可靠性模型的建立  5.3 電子設(shè)備的可靠性預(yù)計  5.4 機(jī)械產(chǎn)品的可靠性預(yù)計  5.5 系統(tǒng)的可靠性預(yù)計  5.6 系統(tǒng)的可靠性分配  5.7 計算機(jī)設(shè)備可靠性評估軟件  5.8 計算機(jī)設(shè)備可靠性評估軟件的應(yīng)用  本章小結(jié)  習(xí)題與思考題五第六章 系統(tǒng)的可靠性設(shè)計  6.1 系統(tǒng)可靠性設(shè)計的內(nèi)容及其設(shè)計準(zhǔn)則  6.2 元器件的降額設(shè)計  6.3 元器件的容差和漂移設(shè)計  6.4 環(huán)境保護(hù)設(shè)計  6.5 系統(tǒng)的熱設(shè)計  6.6 系統(tǒng)的三防設(shè)計   6.7 系統(tǒng)抗振動沖擊設(shè)計  6.8 印制版的可靠性設(shè)計  6.9 可維性和可用性設(shè)計  本章小結(jié)  習(xí)題與思考題六第七章 冗余設(shè)計  7.1 冗余設(shè)計的基本概念  7.2 冗余設(shè)計要考慮的主要問題  7.3 電路冗余設(shè)計  7.4 靜態(tài)冗余設(shè)計  7.5 動態(tài)冗余設(shè)計  7.6 動態(tài)冗余中的可重組技術(shù)  7.7 雙機(jī)容錯設(shè)計的應(yīng)用  7.8 三模冗余系統(tǒng)設(shè)計的應(yīng)用  本章小結(jié)  習(xí)題與思考題七第八章 系統(tǒng)的電磁兼容性設(shè)計  8.1 電磁兼容性的基本概念  8.2 系統(tǒng)的電磁干擾  8.3 電磁干擾的耦合方式  8.4 電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)  8.5 濾波和屏蔽技術(shù)  8.6 電磁干擾的隔離和控制  8.7 雷擊與靜電的危害及其防護(hù)  8.8 系統(tǒng)的接地技術(shù)  本章小結(jié)  習(xí)題與思考題八第九章 系統(tǒng)的防電磁泄漏設(shè)計  9.1 計算機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的電磁泄漏  9.2 系統(tǒng)的電磁泄漏特性  9.3 系統(tǒng)輻射信息的接收與測試  9.4 TEMPEST技術(shù)  9.5 計算機(jī)的防電磁泄漏設(shè)計  9.6 外圍設(shè)備的防電磁泄漏設(shè)計  9.7 計算機(jī)設(shè)備的電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)  9.8 發(fā)展我國TEMPEST技術(shù)的措施  本章小結(jié)  習(xí)題與思考題九第十章 系統(tǒng)數(shù)據(jù)傳輸?shù)目煽啃栽O(shè)計  10.1 數(shù)據(jù)傳輸差錯的自檢與校正  10.2 系統(tǒng)信息的差錯自檢與校正裝置  10.3 奇偶校驗錯及糾錯  10.4 多重校驗檢錯及校正  10.5 海明校驗檢錯及校正  10.6 循環(huán)冗余校正檢錯與糾錯  10.7 數(shù)字傳輸信道的抗干擾設(shè)計  10.8 容錯條件下的故障處理  本章小結(jié)  習(xí)題與思考題十第十一章 軟件可靠性設(shè)計  11.1 軟件可靠性的概念與軟件可靠性技術(shù)  11.2 軟件可靠性設(shè)計技術(shù)  11.3 軟件正確性驗證  11.4 軟件容錯設(shè)計技術(shù)  11.5 信息保護(hù)技術(shù)  11.6 防火墻技術(shù)  11.7 軟件可靠性模型  11.8 軟件的錯誤分析及其測試  11.9 軟件可維性設(shè)計  本章小結(jié)  習(xí)題與思考題十一第十二章 系統(tǒng)可測試性設(shè)計  12.1 系統(tǒng)可測試性的概念  12.2 邏輯模擬與故障辭典  12.3 改善系統(tǒng)可測試性的基本方法  12.4 通路敏化與故障定位測試法  12.5 臨界通路敏化法  12.6 D算法  12.7 因果函數(shù)分析法  12.8 機(jī)內(nèi)自測試設(shè)計  本章小結(jié)  習(xí)題與思考題十二  附錄附錄一 元器件降額標(biāo)準(zhǔn)附錄二 計算機(jī)設(shè)備可靠性設(shè)計準(zhǔn)則附錄三 武器裝備可靠性設(shè)計準(zhǔn)則主要參考文獻(xiàn)

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