透射電子顯微學(xué)進(jìn)展

內(nèi)容概要

本書主要介紹透射電子顯微學(xué)現(xiàn)狀及進(jìn)展。本書各章作者都在本學(xué)科領(lǐng)域從事多年的研究工作，并取得了有意義的，甚至是突破性的進(jìn)展。全書共分四部分，分別介紹電子衍射，透射電子顯微術(shù)，亞埃尺度電子顯微術(shù)和透射電子顯微術(shù)的應(yīng)用，以及在交叉學(xué)科領(lǐng)域中的最新進(jìn)展。    本書可供材料科學(xué)、物理、電子、生物等領(lǐng)域的科技人員及高等院校相關(guān)專業(yè)師生參考。

書籍目錄

A 電子衍射  A1 高能電子動(dòng)力學(xué)衍射的一般理論     1 引言     2 高能電子與晶體的相互作用     3 彈性與非彈性散射，光學(xué)勢    4 高能電子衍射的散射振幅和散射截面    5 彈性電子衍射的描述    6 一般動(dòng)力學(xué)電子衍射的描述     7 實(shí)驗(yàn)電子衍射數(shù)據(jù)與理論的比較    附錄：晶體的動(dòng)力學(xué)形狀因子    參考文獻(xiàn)  A2 會(huì)聚束電子衍射的原理和應(yīng)用    1 引言    2 實(shí)驗(yàn)技術(shù)    3 雙束動(dòng)力學(xué)條件下的會(huì)聚束電子衍射——薄膜厚度和消光距離的測定    4 運(yùn)動(dòng)學(xué)條件下的會(huì)聚束電子衍射——高階Laue帶線    5 用會(huì)聚束電子衍射測定晶體的對(duì)稱性    6 晶體與準(zhǔn)晶體中位錯(cuò)伯格斯矢量的CBED測定    7 晶體結(jié)構(gòu)的CBED測定    8 應(yīng)變場的CBED研究    參考文獻(xiàn)  A3 測定碳納米管原子結(jié)構(gòu)的電子顯微學(xué)與電子衍射方法    1 引言    2 碳納米管的結(jié)構(gòu)描述    3 碳納米管的電子顯微像    4 電子衍射測定碳納米管螺旋角    附錄     參考文獻(xiàn)  A4 電子衍射在確定有機(jī)分子晶體薄膜結(jié)構(gòu)中的應(yīng)用    1 引言    2 電子衍射強(qiáng)度    3 電子衍射中的相位問題    4 直接法解決非周期結(jié)構(gòu)的相位    5 結(jié)構(gòu)因子的電子衍射精確測定    6 有機(jī)化合物晶體電鏡薄膜樣品的制備    7 有機(jī)物樣品輻照損傷     8 電鏡實(shí)驗(yàn)方法     9 有機(jī)化合物的會(huì)聚束電子衍射    10 并二苯的電子衍射    參考文獻(xiàn)B 透射電子顯微術(shù)  B1 生物大分子的電子顯微學(xué)     1 在結(jié)構(gòu)基因組時(shí)代的電子顯微學(xué)     2 電鏡樣品的制備     3 冷凍電子成像    4 計(jì)算機(jī)圖像處理與三維結(jié)構(gòu)重構(gòu)概要    5 由電子顯微學(xué)測定的幾個(gè)生物大分子結(jié)構(gòu)    6 生物大分子電子顯微學(xué)領(lǐng)域中現(xiàn)存問題與發(fā)展前景    參考文獻(xiàn)  B2 電子通道及ALCHEMI    1 引言    2 電子通道效應(yīng)的基本理論    3 ALCHEMI及應(yīng)用    4 ALCHEMI的準(zhǔn)確性    5 結(jié)論及展望    參考文獻(xiàn)  B3 電子能量損失譜及其在材料科學(xué)中的應(yīng)用    1 引言    2 電子能量損失譜的基本原理    3 電子能量損失譜在材料科學(xué)中的應(yīng)用    參考文獻(xiàn)  B4 納米寬界面成分的定量分析     1 引言    2 一些基本概念     3 空間差值掃描能譜分析法    4 空間差值點(diǎn)式能譜分析法    5 成分電子顯微像晶界成分分析方法    參考文獻(xiàn)  B5 電子全息術(shù)在材料研究中的應(yīng)用    1 引言     2 離軸全息成像原理     3 電子全息圖的特征     4 電子全息實(shí)驗(yàn)技術(shù)     5 影響電子全息像質(zhì)量的因素    6 電子全息像的記錄    7 電子全息圖的重構(gòu)    8 電子全息術(shù)的應(yīng)用    參考文獻(xiàn)C 亞埃尺度電子顯微術(shù)  C1 電子晶體學(xué)    1 引言    2 電子晶體學(xué)的發(fā)展歷史    3 電子晶體學(xué)的基礎(chǔ)理論    4 用電子衍射確定晶體結(jié)構(gòu)    5 用高分辨電子顯微像確定晶體結(jié)構(gòu)    6 電子晶體學(xué)的應(yīng)用    7 大晶胞晶體的三維重構(gòu)    8 用晶體學(xué)圖像處理研究晶體缺陷及界面    9 結(jié)論    參考文獻(xiàn)  C2 衍射晶體學(xué)在高分辨電子顯微學(xué)求逆中的作用    1 高分辨電子顯微學(xué)的逆問題     2 衍射晶體學(xué)與高分辨電子顯微學(xué)相結(jié)合的優(yōu)越性    3 贗弱相位物體近似    4 最大熵原理和直接法在求定結(jié)構(gòu)像中的作用    5 衍射分析在提高結(jié)構(gòu)像分辨率中的應(yīng)用    6 解卷和相位外推在測定微小晶體結(jié)構(gòu)中的應(yīng)用    7 結(jié)論     參考文獻(xiàn)  C3 高分辨電子顯微像的模擬計(jì)算與重構(gòu)    1 引言     2 樣品下表面出射面波函數(shù)的計(jì)算     3 樣品下表面出射面波函數(shù)的重構(gòu)    4 結(jié)論     參考文獻(xiàn)  C4 材料結(jié)構(gòu)的超顯微術(shù)研究     1 引言     2 高分辨率透射電子顯微鏡及提高分辨率的途徑    3 BaTiO3中孿晶界面的原子結(jié)構(gòu)及原子位移的出射波函數(shù)重構(gòu)研究    4 材料結(jié)構(gòu)的物鏡球差校正高分辨率透射電子顯微術(shù)研究    5 結(jié)論     參考文獻(xiàn)  C5 高分辨掃描透射電子顯微學(xué)技術(shù)——原子分辨率原子序數(shù)襯度成像    1 引言    2 基本成像原理    3 原子分辨率電子能量損失譜     4 材料中的應(yīng)用及實(shí)驗(yàn)中的具體問題    5 展望及新的發(fā)展     參考文獻(xiàn)D 透射電子顯微術(shù)的應(yīng)用  D1 集成鐵電學(xué)中與電子顯微學(xué)相關(guān)的一些問題研究    1 引言    2 BST薄膜的微觀結(jié)構(gòu)表征：界面層的發(fā)現(xiàn)    3 界面層電容串聯(lián)模型解釋尺寸效應(yīng)    4 界面層電場屏蔽模型解釋疲勞失效    5 總結(jié)和展望    參考文獻(xiàn)  D2 電子顯微學(xué)在巨磁電阻多層膜研究中的應(yīng)用    1 引言    2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析討論    3 結(jié)論    參考文獻(xiàn)  D3 龐磁電阻材料的結(jié)構(gòu)與性能    1 巨磁電阻效應(yīng)的發(fā)現(xiàn)及巨磁電阻材料的結(jié)構(gòu)與性能     2 影響龐磁電阻材料性能的因素    參考文獻(xiàn)  D4 材料微結(jié)構(gòu)的電子顯微學(xué)與電子結(jié)構(gòu)研究    1 引言    2 實(shí)驗(yàn)與計(jì)算方法     3 W在TiAl基合金片層組織中的行為     4 Si和Al的TiC孿晶穩(wěn)定化效應(yīng)    5 結(jié)論    參考文獻(xiàn)  D5 介孔分子篩的電子顯微分析     1 引言     2 實(shí)驗(yàn)方法概要     3 氧化硅介孔分子篩結(jié)構(gòu)     4 介孔分子篩為載體的新型催化劑    5 介孔分子篩為模板合成納米材料    6 結(jié)束語    參考文獻(xiàn)  D6 AIN、La-Sr-Mn-O、Si等低維納米材料中界面的電子顯微學(xué)    1 引言    2 不同點(diǎn)陣間取向關(guān)系的幾何模型    3 不同界面體系中的晶體學(xué)取向關(guān)系      4 小結(jié)     參考文獻(xiàn)  D7 準(zhǔn)一維納米線材料的結(jié)構(gòu)和物理性能原位測量      1 引言     2 原位透射電子顯微鏡技術(shù)的實(shí)驗(yàn)裝置及測試原理     3 單根納米管力學(xué)性能的原位測量     4 單根碳納米管的量子導(dǎo)電性     5 碳納米管的場致發(fā)射     6 小結(jié)     參考文獻(xiàn)  D8 在鐵納米顆粒上外延生長的惰性氧化膜的透射電子顯微鏡研究    1 引言     2 實(shí)驗(yàn)     3 薄氧化膜在金屬表面上的生長——Caberra和Mott氧化理論    4 TEM結(jié)果    5 納米顆粒上氧化物的生長及其穩(wěn)定性     6 結(jié)論和小結(jié)     參考文獻(xiàn)  D9 氮化鎵納米線的結(jié)構(gòu)與缺陷    1 {1010}氮化鎵納米線    2 {0001}氮化鎵納米線    3 氮化鎵納米線中的層錯(cuò)結(jié)構(gòu)     4 結(jié)論     5 附錄：GaN納米線的合成方法    參考文獻(xiàn)  Dl0 半導(dǎo)體量子點(diǎn)的電子顯微學(xué)研究    1 引言     2 InxGa1-xAs/GaAs(001)量子點(diǎn)形狀的測定    3 像模擬法測定量子點(diǎn)的成分分布    4 能量過濾成像法測定量子點(diǎn)的成分分布    5 Ge(Si)/Si(001)量子點(diǎn)的生長機(jī)制    6 成分分布對(duì)量子點(diǎn)形狀的影響    7 結(jié)論    參考文獻(xiàn)  D11 二維十次對(duì)稱準(zhǔn)晶及晶體近似相的電子顯微學(xué)研究    1 引言    2 二維準(zhǔn)周期點(diǎn)陣與準(zhǔn)周期拼圖    3 二維十次對(duì)稱準(zhǔn)晶    4 晶體近似相    5 研究實(shí)例     6 結(jié)束語    參考文獻(xiàn)

圖書封面

圖書標(biāo)簽Tags

無

評(píng)論、評(píng)分、閱讀與下載

---

    透射電子顯微學(xué)進(jìn)展 PDF格式下載

---